視頻中介紹了一種簡(jiǎn)便方法，以幫助您消除計(jì)算結(jié)果與實(shí)際測(cè)量結(jié)果之間的差異。該方法基于泰勒級(jí)數(shù)展開(kāi)式，其中規(guī)定（在賦予一定自由條件下）任何函數(shù)都可分解成一個(gè)多項(xiàng)式，如下所示：

如果意識(shí)到電源損耗與輸出電流相關(guān)（可用輸出電流替換 X），那么系數(shù)項(xiàng)就能很好地與不同來(lái)源的電源功率損耗聯(lián)系起來(lái)。例如，ao 代表諸如柵極驅(qū)動(dòng)、偏壓電源和磁芯的固定開(kāi)銷(xiāo)損耗以及功率晶體管 Coss充電與放電之類(lèi)的損耗。這些損耗與輸出電流無(wú)關(guān)。第二項(xiàng)相關(guān)聯(lián)的損耗 a1 直接與輸出電流相關(guān)，其典型表現(xiàn)為輸出二極管損耗和開(kāi)關(guān)損耗。在輸出二極管中，大多數(shù)損耗是由于結(jié)電壓引起的，因此損耗會(huì)隨著輸出電流成比例地增加。

類(lèi)似地，開(kāi)關(guān)損耗可通過(guò)輸出電流關(guān)聯(lián)項(xiàng)與某些固定電壓的乘積近似得出。第三項(xiàng)很容易被識(shí)別為傳導(dǎo)損耗。其典型表現(xiàn)為 FET 電阻、磁性布線電阻和互聯(lián)電阻中的損耗。高階項(xiàng)可能在計(jì)算非線性損耗（如磁芯損耗）時(shí)有用。只有在考慮前三項(xiàng)情況下才能得出有用結(jié)果。