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芯片鍵合工藝技術介紹

中科院半導體所 ? 來源:Jeff的芯片世界 ? 2025-10-21 17:36 ? 次閱讀
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文章來源:Jeff的芯片世界

原文作者:Jeff的芯片世界

本文介紹了芯片鍵合技術。

半導體封裝工藝中,芯片鍵合(Die Bonding)是指將晶圓芯片固定到封裝基板上的關鍵步驟。鍵合工藝可分為傳統(tǒng)方法和先進方法:傳統(tǒng)方法包括芯片鍵合(Die Bonding)和引線鍵合(Wire Bonding),而先進方法主要指IBM在1960年代開發(fā)的倒裝芯片鍵合(Flip Chip)。倒裝芯片鍵合結合了模具鍵合和導線鍵合,通過在芯片襯墊上形成凸起來連接芯片和襯底。

芯片鍵合的重要性體現在多個方面:它提供機械支撐,使芯片牢固附著于封裝載體,抵御外部震動和溫度變化;它形成散熱路徑,將芯片工作時產生的熱量傳導到封裝或散熱層面;它確保精準定位,為后續(xù)電氣互聯(lián)(如焊線或倒裝焊)奠定基礎;從而提升器件的整體可靠性。如果貼裝不當,可能導致后續(xù)工藝偏移或連接失敗,影響器件性能。

主要鍵合方法

芯片鍵合的方法多樣,主要包括膠黏劑貼片、焊料貼片、共晶貼片和倒裝芯片貼片等。

膠黏劑貼片使用環(huán)氧樹脂或銀膠等半導體膠水進行粘接,優(yōu)點包括工藝成熟、適用范圍廣,可在較低溫度下固化;但如果膠水厚度不均,可能因熱膨脹系數差異導致翹曲。

焊料貼片使用金屬焊料(如Sn-Pb、Sn-Ag-Cu或Au-Sn合金)在高溫下熔融,實現冶金連接,優(yōu)點在于導電和導熱性能優(yōu)異,結構牢固,適合高功率器件;但工藝溫度較高,需控制合金成分以避免空洞缺陷。

共晶貼片采用共晶焊料(如Au-Si、Au-Ge、Au-Sn等)在特定溫度下熔化形成共晶組織,實現牢固結合,可靠性極佳,但需要精確溫度控制且成本較高。

倒裝芯片貼片是一種先進方法,芯片通過凸塊翻轉貼到基板上,通過回流焊實現電氣和機械連接。嚴格來說,這更傾向于芯片互連工藝,但也可視為特殊貼裝方式。

此外,模貼膜(DAF)作為一種先進粘合方法,被廣泛使用。DAF是一種附著在芯片底部的薄膜,厚度可調整到更薄和恒定,不僅用于芯片與襯底的鍵合,還用于芯片與芯片的鍵合以創(chuàng)建多芯片封裝(MCP)。使用DAF可以跳過點膠程序,避免膠水厚度不均問題,但需要高精度設備處理,且可能因空氣穿透導致薄膜變形。

鍵合工藝流程

芯片鍵合的典型流程包括取放工藝、彈壓和粘合步驟。首先,在取放工藝(Pick & Place)中,設備從附著在膠帶上的芯片中單獨取出芯片(稱為“Pick”),然后將其放置在封裝基板表面(稱為“Place”)。這個過程可以通過輸入晶圓測試結果(Go/No Go)對好的芯片進行分選。

由于芯片由弱粘性附著在膠帶上,直接取放可能造成物理損傷,因此常使用彈射(Ejection)方法。彈射器對目標芯片施加物理力,使其與其他芯片產生輕微步長差異,然后從底部彈出芯片,同時用真空吸嘴從上面拉起,并用真空拉膠帶底部使薄片平整。

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在粘合工藝中,如果使用環(huán)氧樹脂,需通過點膠將少量環(huán)氧樹脂精確涂在基板上,放置芯片后,在150°C至250°C下通過回流或固化硬化,將芯片和基材粘合。但環(huán)氧樹脂厚度不恒定可能導致翹曲。因此,DAF方法成為首選:它將芯片和DAF從切丁帶上取下后直接放置在基板上,無需點膠,簡化工藝并提高厚度均勻性。

對于傳統(tǒng)鍵合,首先在封裝基板上涂布粘合劑,然后放上芯片(引腳朝上);對于倒裝芯片鍵合,芯片引腳向下,焊料球凸起附著在襯墊上。組裝后單元通過溫度回流隧道,調節(jié)溫度以熔化粘合劑或焊料球,然后冷卻固定。

設備關鍵組成

Die Bonding設備由多個關鍵模塊組成,確保高精度和自動化。晶圓工作臺作為基礎平臺,承載并精確移動晶圓,保證芯片準確定位。芯片鍵合頭是實現物理連接的關鍵部件,通過熱壓、超聲波或激光等方式完成放置和焊接??蚣軅鬏斚到y(tǒng)負責芯片載體的自動傳輸與定位,提高生產效率。機器視覺系統(tǒng)利用高精度相機和圖像處理算法進行定位識別和質量檢測,是自動化生產不可或缺的部分。點膠系統(tǒng)在某些工藝中用于施加黏合劑或導電膠,控制膠量以保證鍵合效果。

此外,設備還包括供料和取片模塊(如頂針或真空吸頭從膠膜上取芯片)、對準系統(tǒng)(識別芯片和基板標記)、貼合頭(施加壓力、溫度或時間)、基板承載與定位單元(固定和移動基板)、以及控制與軟件系統(tǒng)(編排流程和監(jiān)控參數)。

技術挑戰(zhàn)與發(fā)展趨勢

Die Bonding面臨多項技術挑戰(zhàn)。對準精度與速度需平衡,高精度要求微米級貼裝,同時需要高吞吐量;材料兼容與熱膨脹問題可能導致應力和形變;超薄芯片易彎曲或破裂,搬運方式需優(yōu)化;空洞(Void)問題在焊料或膠水固化中可能降低接觸面積和可靠性。

應對措施包括采用先進視覺系統(tǒng)和智能算法、優(yōu)化貼片溫度和曲線、使用柔性頂針和真空吸嘴、以及真空貼片或壓力固化排除空氣。

未來發(fā)展趨勢包括多芯片異構封裝,如系統(tǒng)級封裝(SiP)、Chiplet和3D封裝,要求設備具備多模塊、多材料貼裝能力;更高精度與自動化,結合AI視覺識別和精密運動控制;超薄與柔性器件貼裝,向非接觸傳輸和低應力方向發(fā)展;環(huán)保與低溫貼裝,發(fā)展低溫熔點合金或UV固化工藝。


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原文標題:Die Bonding技術介紹

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