老化與壽命測試系統(tǒng)是半導(dǎo)體和電子產(chǎn)品可靠性測試中的關(guān)鍵工具。被測器件（DUT）如存儲(chǔ)芯片（DRAM、閃存）、處理器（CPU、GPU）、分立功率半導(dǎo)體（MOSFET、IGBT）以及寬禁帶器件（碳化硅和氮化鎵模塊）會(huì)在高溫高壓等加速應(yīng)力條件下持續(xù)工作，以提前暴露早期失效并驗(yàn)證其長期性能。 開關(guān)元件是這類系統(tǒng)的核心部件之一，負(fù)責(zé)連接、隔離或向每個(gè)被測器件路由信號與電壓。因此，可靠性、信號保真度以及高壓隔離能力缺一不可。

根據(jù)應(yīng)用不同，老化測試設(shè)備可能需要支持最高約 200V 的低壓精密開關(guān)，用于IC測試和信號測量；也可能需要高達(dá)約 3kV 的高壓應(yīng)力測試，主要用于功率半導(dǎo)體，如 MOSFET、IGBT 以及 SiC/GaN 器件。 在某些模塊化系統(tǒng)中，這兩種電壓范圍可能同時(shí)存在，但大多數(shù)老化設(shè)備通常只針對其中一種進(jìn)行優(yōu)化。

干簧繼電器在此類應(yīng)用中被廣泛采用，因?yàn)樗麄兙邆湟韵陋?dú)特優(yōu)勢

• 觸點(diǎn)密封，切換穩(wěn)定無污染
• 低漏電流、高絕緣電阻，保證參數(shù)測量精度
• 體積小巧，機(jī)械與電氣壽命長
• 產(chǎn)品系列齊全，可同時(shí)覆蓋精密低壓與高壓需求

老化測試開關(guān)的技術(shù)要求

老化測試系統(tǒng)對開關(guān)器件提出了嚴(yán)苛要求。低壓（200V以下）方面，需在數(shù)千個(gè) DUT 通道上保持信號完整性——接觸電阻、熱電動(dòng)勢或寄生參數(shù)的微小漂移都會(huì)扭曲測量結(jié)果。干簧繼電器憑借穩(wěn)定低阻觸點(diǎn)、低電容與電感，以及密封結(jié)構(gòu)，可有效抑制這些誤差。 高壓（1kV 以上）方面的核心挑戰(zhàn)則轉(zhuǎn)向安全與隔離：必須避免介電擊穿、電弧和漏電流，否則測試結(jié)果將失效。

高壓干簧繼電器通過采用緊湊尺寸的玻璃密封干簧開關(guān)、具備高絕緣電阻，以及清晰界定的爬電距離和電氣間隙，從而簡化了 PCB 設(shè)計(jì)。 實(shí)際運(yùn)行應(yīng)力進(jìn)一步增加了復(fù)雜性：老化測試可能持續(xù)數(shù)日，要求在高溫下實(shí)現(xiàn)數(shù)百萬次可靠切換。 干簧繼電器憑借堅(jiān)固的線圈、一致的時(shí)序特性以及密封觸點(diǎn)，確保長期穩(wěn)定性。 干簧繼電器兼具低壓精度與高壓耐用性，為系統(tǒng)提供了一種可靠的開關(guān)技術(shù)，簡化設(shè)計(jì)的同時(shí)提升了測試可靠性。

低壓開關(guān)面臨的挑戰(zhàn)

• 接觸電阻漂移會(huì)扭曲參數(shù)測量結(jié)果
• 觸點(diǎn)處產(chǎn)生的熱電動(dòng)勢可能掩蓋微小的電壓變化
• 寄生電容與電感會(huì)干擾高靈敏度信號

干簧繼電器解決方案

• 穩(wěn)定且低電阻的接觸可在數(shù)億次操作中保持測量完整性
• 低熱電勢可防止精密測試期間產(chǎn)生不必要的電壓偏移
• 低寄生設(shè)計(jì)確保高密度開關(guān)矩陣中的信號完整性
• 氣密封裝可防止污染，避免接觸性能受損

高壓開關(guān)技術(shù)挑戰(zhàn)

• 長期承受高壓易導(dǎo)致介質(zhì)擊穿、電弧放電或局部放電風(fēng)險(xiǎn)
• 開關(guān)通路間的泄漏電流可能引發(fā)測量誤差
• 較大的間距要求可能制約電路板集成密度

干簧繼電器解決方案

• 緊湊型玻璃封裝的干簧繼電器結(jié)構(gòu)，可在緊湊空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高介電強(qiáng)度
• 高絕緣電阻能最大限度減少漏電流
• 明確的爬電距離和電氣間隙在保證安全裕度的同時(shí)，簡化PCB設(shè)計(jì)

將開關(guān)技術(shù)集成到老化測試設(shè)備時(shí)，工程師必須仔細(xì)權(quán)衡高通道密度的需求與高壓操作所需間距和絕緣要求。需要特別關(guān)注PCB布局與布線，尤其是在必須保持爬電距離和電氣間隙的電路中。緊湊尺寸與成熟的絕緣技術(shù)使干簧繼電器能夠在緊密排列的繼電器矩陣中實(shí)現(xiàn)千伏級的隔離耐壓。 對于敏感的低壓信號通路，可采用屏蔽或同軸繼電器選項(xiàng)，以最大限度減少磁耦合、串?dāng)_和雜散電容。 可靠性始終是老化測試系統(tǒng)的核心性能指標(biāo)。開關(guān)矩陣中的故障不僅會(huì)影響測量精度，還可能浪費(fèi)數(shù)天測試時(shí)間并占用寶貴的設(shè)備資源。經(jīng)長期驗(yàn)證，干簧繼電器可實(shí)現(xiàn)數(shù)十億次的可靠操作，為此類應(yīng)用提供了理想解決方案。

老化測試儀對繼電器各項(xiàng)性能都提出了嚴(yán)苛挑戰(zhàn)。在低壓方面，電阻漂移、寄生參數(shù)及污染都可能影響測量精度；在高壓方面，絕緣強(qiáng)度與漏電流將同時(shí)威脅測試安全性與數(shù)據(jù)有效性。而在整個(gè)測試系統(tǒng)中，持續(xù)熱應(yīng)力更要求元器件具備卓越的耐久性。 干簧繼電器通過密封穩(wěn)定的觸點(diǎn)結(jié)構(gòu)與緊湊的高介電強(qiáng)度設(shè)計(jì)，成功解決了這些難題。其提供的精確測量、高效隔離與可有效操作數(shù)億次的長壽命，正是老化測試系統(tǒng)不可或缺的核心要素。

關(guān)于斯丹麥德電子

上海斯丹麥德電子有限公司成立于2007年7月，隸屬于美國上市公司斯丹迪斯集團(tuán)（Standex International Corp.）的電子業(yè)務(wù)分支。公司總部位于美國俄亥俄州費(fèi)爾菲爾德，在全球多個(gè)國家設(shè)有生產(chǎn)基地，包括美國、德國、中國、墨西哥、英國、日本和印度等。作為全球磁傳感技術(shù)領(lǐng)域的市場領(lǐng)導(dǎo)者之一，我們致力于設(shè)計(jì)、研發(fā)、生產(chǎn)和銷售標(biāo)準(zhǔn)和定制的電磁產(chǎn)品。

我們的產(chǎn)品主要分為兩大類：以干簧開關(guān)為基體的衍生品和磁性產(chǎn)品。其中，以干簧開關(guān)為基體的衍生品采用了三個(gè)品牌的干簧開關(guān)（Meder、KENT、KOFU(原OKI)）。衍生品包括多系列干簧繼電器組合，以及多種類型的干簧傳感器，如接近傳感器、液位傳感器、水流傳感器等。這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于汽車、光伏、醫(yī)療、工業(yè)、家電、通信和安防等領(lǐng)域。我們以客戶需求為導(dǎo)向，通過合作 | 解決 | 交付?的工作流程，為客戶提供專業(yè)的磁傳感技術(shù)解決方案。