深入解析 ON Semiconductor FGH4L50T65SQD IGBT
在電力電子設(shè)備的設(shè)計(jì)中,IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)扮演著至關(guān)重要的角色。今天,我們就來(lái)詳細(xì)探討 ON Semiconductor 的 FGH4L50T65SQD 這款 650V、50A 的場(chǎng)截止型 IGBT,看看它能為我們的設(shè)計(jì)帶來(lái)哪些優(yōu)勢(shì)。
文件下載:onsemi FGH4L50T65SQD 650V 50A高速I(mǎi)GBT.pdf
一、IGBT 簡(jiǎn)介與 FGH4L50T65SQD 概述
IGBT 結(jié)合了 MOSFET 的高輸入阻抗和雙極晶體管的低導(dǎo)通壓降特性,廣泛應(yīng)用于需要高效功率轉(zhuǎn)換的領(lǐng)域。FGH4L50T65SQD 采用了新穎的場(chǎng)截止 IGBT 技術(shù),屬于第 4 代場(chǎng)截止型 IGBT 系列,專(zhuān)為太陽(yáng)能逆變器、UPS、電焊機(jī)、電信、ESS(儲(chǔ)能系統(tǒng))和 PFC(功率因數(shù)校正)等對(duì)低傳導(dǎo)和開(kāi)關(guān)損耗有嚴(yán)格要求的應(yīng)用而設(shè)計(jì)。
電路圖

二、產(chǎn)品特性
- 高溫性能與并聯(lián)特性:該 IGBT 的最大結(jié)溫 $T_J$ 可達(dá) 175°C,并且具有正溫度系數(shù),這使得多個(gè) IGBT 并聯(lián)工作時(shí)更加容易,能夠有效避免因溫度差異導(dǎo)致的電流不均衡問(wèn)題,提高了系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
- 低飽和電壓:在 $IC = 50A$ 時(shí),典型飽和電壓 $V{CE(Sat)}$ 僅為 1.6V。低飽和電壓意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,IGBT 的功率損耗更低,能夠提高系統(tǒng)的效率,減少發(fā)熱,延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。
- 高電流能力:它具備高達(dá) 200A 的脈沖電流承受能力,能夠應(yīng)對(duì)瞬間的大電流沖擊,適用于對(duì)電流要求較高的應(yīng)用場(chǎng)景。
- 其他特性:高輸入阻抗、快速開(kāi)關(guān)速度、緊密的參數(shù)分布,并且該器件無(wú)鉛,符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。
三、電氣特性
1. 絕對(duì)最大額定值
在使用 FGH4L50T65SQD 時(shí),必須嚴(yán)格遵守其絕對(duì)最大額定值,超過(guò)這些值可能會(huì)損壞器件,影響其可靠性。例如,集電極電流 $IC$ 的最大連續(xù)值為 50A,脈沖電流 $I{CM}$ 最大為 200A 等。這里需要注意的是,某些參數(shù)的值可能會(huì)受到一些條件的限制,如 $I_{CM}$ 受鍵合線的限制。
2. 熱特性
熱特性對(duì)于 IGBT 的性能和可靠性至關(guān)重要。該器件的 IGBT 結(jié)到外殼的熱阻 $R{JC(IGBT)}$ 最大為 0.56°C/W,二極管結(jié)到外殼的熱阻 $R{JC(Diode)}$ 最大為 1.25°C/W,結(jié)到環(huán)境的熱阻 $R_{JA}$ 最大為 40°C/W。在設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)時(shí),需要根據(jù)這些熱阻參數(shù)來(lái)確保器件的溫度在安全范圍內(nèi)。
3. 靜態(tài)特性
- 截止特性:集電極 - 發(fā)射極擊穿電壓 $B{VCES}$ 為 650V,在 $V{GE} = 0V$,$IC = 1mA$ 時(shí),溫度系數(shù)為 0.6V/°C。集電極截止電流 $I{CES}$ 在 $V{CE} = V{CES}$,$V{GE} = 0V$ 時(shí)為 250μA,柵 - 發(fā)射極泄漏電流 $I{GES}$ 在 $V{GE} = V{GES}$,$V_{CE} = 0V$ 時(shí)為 ±400nA。
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導(dǎo)通特性:G - E 閾值電壓 $V_{GE(th)}$ 在 $IC = 50mA$,$V{CE} = V{GE}$ 時(shí),典型值為 4.5V。集電極 - 發(fā)射極飽和電壓 $V{CE(sat)}$ 在 $IC = 50A$,$V{GE} = 15V$ 時(shí),典型值為 1.6V,在 $T_J = 175°C$ 時(shí)為 1.92V。
4. 動(dòng)態(tài)特性
在不同的測(cè)試條件下,該 IGBT 表現(xiàn)出了良好的開(kāi)關(guān)特性。例如,在 $V_{CC} = 400V$,$I_C = 25A$,$RG = 15Ω$,$V{GE} = 15V$,$TJ = 25°C$ 的電感負(fù)載條件下,開(kāi)通延遲時(shí)間 $T{d(on)}$ 為 22.40ns,上升時(shí)間 $Tr$ 為 11.20ns,關(guān)斷延遲時(shí)間 $T{d(off)}$ 為 162ns,下降時(shí)間 $Tf$ 為 8ns,開(kāi)通開(kāi)關(guān)損耗 $E{on}$ 為 0.28mJ,關(guān)斷開(kāi)關(guān)損耗 $E{off}$ 為 0.20mJ,總開(kāi)關(guān)損耗 $E{ts}$ 為 0.48mJ。隨著集電極電流和溫度的變化,這些參數(shù)也會(huì)相應(yīng)改變。
四、二極管特性
該 IGBT 內(nèi)部集成的二極管也具有良好的性能。在 $I_F = 30A$,$TJ = 25°C$ 時(shí),二極管正向電壓 $V{FM}$ 典型值為 2.1V,在 $T_J = 175°C$ 時(shí)為 1.8V。在電感負(fù)載下,其反向恢復(fù)特性也較為出色,如在 $TJ = 25°C$,$V{CE} = 400V$,$I = 15A$,$diF/dt = 1000A/μs$ 時(shí),反向恢復(fù)能量 $E{rec}$ 為 11μJ,反向恢復(fù)時(shí)間 $T_{rr}$ 為 25ns,反向恢復(fù)電荷 $Qr$ 為 175nC,反向恢復(fù)電流 $I{rr}$ 為 14A。
五、典型特性曲線
文檔中給出了一系列典型特性曲線,如輸出特性、飽和電壓特性、轉(zhuǎn)移特性、電容特性、開(kāi)關(guān)特性與柵極電阻和集電極電流的關(guān)系等。這些曲線能夠幫助我們更直觀地了解該 IGBT 在不同工作條件下的性能表現(xiàn),為電路設(shè)計(jì)和參數(shù)優(yōu)化提供重要參考。例如,通過(guò)飽和電壓與結(jié)溫的關(guān)系曲線,我們可以預(yù)測(cè)在不同溫度下 IGBT 的導(dǎo)通損耗,從而合理設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)。
六、封裝信息
FGH4L50T65SQD 采用 TO - 247 - 4LD 封裝,這種封裝具有良好的散熱性能和機(jī)械穩(wěn)定性。文檔詳細(xì)給出了封裝的尺寸信息,包括各個(gè)引腳的間距、長(zhǎng)度等參數(shù),方便我們進(jìn)行 PCB 設(shè)計(jì)和布局。
七、總結(jié)與思考
FGH4L50T65SQD 憑借其先進(jìn)的場(chǎng)截止 IGBT 技術(shù)和出色的電氣性能,為太陽(yáng)能逆變器、UPS 等應(yīng)用提供了一個(gè)優(yōu)秀的功率開(kāi)關(guān)解決方案。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,我們需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮其各項(xiàng)特性,合理選擇工作參數(shù),確保系統(tǒng)的性能和可靠性。同時(shí),我們也需要關(guān)注其熱管理問(wèn)題,通過(guò)優(yōu)化散熱設(shè)計(jì),充分發(fā)揮該 IGBT 的優(yōu)勢(shì)。大家在使用過(guò)類(lèi)似的 IGBT 器件時(shí),有沒(méi)有遇到過(guò)一些特殊的問(wèn)題或者有什么獨(dú)特的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)?zāi)??歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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