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探索 onsemi NTBG014N120M3P SiC MOSFET:高效能與可靠性的完美結(jié)合

h1654155282.3538 ? 來源:未知 ? 作者:陳翠 ? 2025-12-05 11:04 ? 次閱讀
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探索 onsemi NTBG014N120M3P SiC MOSFET:高效能與可靠性的完美結(jié)合

電力電子領(lǐng)域,碳化硅(SiC)MOSFET 正憑借其卓越的性能逐漸成為眾多應(yīng)用的首選。今天,我們將深入探討 onsemi 的 NTBG014N120M3P SiC MOSFET,這款器件在多個關(guān)鍵指標(biāo)上表現(xiàn)出色,為各類電力應(yīng)用提供了強(qiáng)大的支持。

文件下載:onsemi NTBG014N120M3P碳化硅 (SiC) MOSFET.pdf

1. 產(chǎn)品概述

NTBG014N120M3P 是 onsemi 推出的一款 N 溝道 SiC MOSFET,采用 D2PAK - 7L 封裝。它具有低導(dǎo)通電阻(Typ. $R{DS(on)} = 14 m\Omega$)和低開關(guān)損耗(Typ. $E{ON}$ 1331 μJ at 74 A, 800 V)的特點(diǎn),并且經(jīng)過 100% 雪崩測試,確保了在各種復(fù)雜工況下的可靠性。

2. 關(guān)鍵特性分析

2.1 低導(dǎo)通電阻與低開關(guān)損耗

低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,器件的功率損耗更小,能夠有效提高系統(tǒng)效率。而低開關(guān)損耗則使得該 MOSFET 在高頻開關(guān)應(yīng)用中表現(xiàn)出色,減少了開關(guān)過程中的能量損失。例如,在太陽能逆變器、電動汽車充電站等對效率要求極高的應(yīng)用中,這種特性可以顯著提升系統(tǒng)的整體性能。

2.2 雪崩測試保證

經(jīng)過 100% 雪崩測試,表明該器件能夠承受瞬間的高能量沖擊,增強(qiáng)了其在惡劣環(huán)境下的可靠性。這對于一些可能會遭受電壓尖峰或浪涌的應(yīng)用場景,如不間斷電源(UPS)和能量存儲系統(tǒng),尤為重要。

3. 最大額定值與熱特性

3.1 最大額定值

參數(shù) 數(shù)值 單位
漏源電壓 $V_{DSS}$ 1200 V
柵源電壓 $V_{GS}$ -10/+22 V
連續(xù)漏極電流($T_c = 25^{\circ}C$)$I_D$ 150 A
功率耗散($T_c = 25^{\circ}C$)$P_D$ 652 W

這些額定值為工程師在設(shè)計電路時提供了明確的邊界,確保器件在安全的工作范圍內(nèi)運(yùn)行。如果超過這些極限,可能會導(dǎo)致器件損壞,影響系統(tǒng)的可靠性。

3.2 熱特性

參數(shù) 典型值 最大值 單位
結(jié)到外殼熱阻 $R_{θJC}$ - 0.23 $^{\circ}C$/W
結(jié)到環(huán)境熱阻 $R_{θJA}$ - 40 $^{\circ}C$/W

熱特性是評估 MOSFET 性能的重要指標(biāo)之一。較低的熱阻意味著器件能夠更有效地散熱,從而在高功率應(yīng)用中保持較低的結(jié)溫,延長器件的使用壽命。

4. 電氣特性詳解

4.1 關(guān)態(tài)特性

  • 漏源擊穿電壓 $V_{(BR)DSS}$:在 $V_{GS} = 0V$,$I_D = 1mA$ 時,為 1200V,這表明該器件能夠承受較高的反向電壓。
  • 零柵壓漏極電流 $I_{DSS}$:在 $V{GS} = 0V$,$V{DS} = 1200V$,$T_J = 25^{\circ}C$ 時,最大為 100 μA,體現(xiàn)了其在關(guān)態(tài)下的低泄漏電流特性。

4.2 開態(tài)特性

  • 柵極閾值電壓 $V_{GS(TH)}$:在 $V{GS} = V{DS}$,$I_D = 37 mA$ 時,范圍為 2.08 - 4.63 V。
  • 漏源導(dǎo)通電阻 $R_{DS(on)}$:在不同的柵源電壓和結(jié)溫條件下,$R{DS(on)}$ 會有所變化。例如,在 $V{GS} = 18V$,$I_D = 74A$,$T_J = 25^{\circ}C$ 時,典型值為 14 mΩ。

4.3 開關(guān)特性

參數(shù) 典型值 單位
開通延遲時間 $t_{d(ON)}$ 24 ns
上升時間 $t_r$ 40 ns
關(guān)斷延遲時間 $t_{d(OFF)}$ 74 ns
下降時間 $t_f$ 14 ns
開通開關(guān)損耗 $E_{ON}$ 1331 μJ
關(guān)斷開關(guān)損耗 $E_{OFF}$ 620 μJ
總開關(guān)損耗 $E_{TOT}$ 1951 μJ

這些開關(guān)特性決定了器件在開關(guān)過程中的性能,快速的開關(guān)時間和低開關(guān)損耗有助于提高系統(tǒng)的效率和開關(guān)頻率。

5. 典型應(yīng)用場景

5.1 太陽能逆變器

在太陽能逆變器中,需要高效地將直流電轉(zhuǎn)換為交流電。NTBG014N120M3P 的低導(dǎo)通電阻和低開關(guān)損耗特性可以減少能量損失,提高逆變器的轉(zhuǎn)換效率,從而增加太陽能發(fā)電系統(tǒng)的發(fā)電量。

5.2 電動汽車充電站

隨著電動汽車的普及,對快速、高效的充電站需求日益增加。該 MOSFET 能夠承受高電流和高電壓,并且在高頻開關(guān)下保持低損耗,非常適合用于電動汽車充電站的功率轉(zhuǎn)換電路。

5.3 UPS 和能量存儲系統(tǒng)

在 UPS 和能量存儲系統(tǒng)中,需要確保在市電中斷時能夠快速、可靠地提供電力。NTBG014N120M3P 的高可靠性和低損耗特性可以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性和效率。

6. 封裝與訂購信息

6.1 封裝尺寸

該器件采用 D2PAK - 7L 封裝,其具體的尺寸參數(shù)如下: 尺寸 最小值 標(biāo)稱值 最大值 單位
A 4.30 4.50 4.70 mm
A1 0.00 0.10 0.20 mm
... ... ... ... ...

6.2 訂購信息

器件型號 封裝 包裝方式
NTBG014N120M3P D2PAK - 7L 800/ Tape & Reel

7. 總結(jié)與思考

NTBG014N120M3P SiC MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、低開關(guān)損耗、高可靠性等優(yōu)點(diǎn),在多個電力電子應(yīng)用領(lǐng)域展現(xiàn)出了強(qiáng)大的競爭力。作為電子工程師,在設(shè)計電路時,我們需要充分考慮器件的各項(xiàng)特性和參數(shù),結(jié)合具體的應(yīng)用場景進(jìn)行合理選擇。同時,也要注意器件的熱管理和工作條件,確保其在安全、可靠的狀態(tài)下運(yùn)行。你在實(shí)際應(yīng)用中是否使用過類似的 SiC MOSFET 呢?遇到過哪些挑戰(zhàn)和問題?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。

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