高功率LED廣泛應(yīng)用于照明、顯示等領(lǐng)域，其長期可靠性成為關(guān)鍵考量因素。封裝膠體作為關(guān)鍵保護(hù)與光學(xué)介質(zhì)，直接影響LED的光輸出、色溫及壽命。實際工作中，膠體長期承受高密度光子輻照與芯片發(fā)熱的雙重作用，光熱耦合老化是性能衰退的主因。紫創(chuàng)測控luminbox太陽光模擬器能精準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)太陽光譜及光熱條件，為實驗室加速研究膠體老化提供解決方案。

光熱老化機(jī)制與膠體失效表現(xiàn)

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LED封裝膠結(jié)構(gòu)

封裝膠體的光熱老化是光化學(xué)降解與熱氧化反應(yīng)協(xié)同作用的結(jié)果：高溫環(huán)境加速有機(jī)硅主鏈裂解、側(cè)基氧化及殘留催化劑副反應(yīng)，而太陽光中的短波光子激發(fā)分子產(chǎn)生活性自由基，引發(fā)光氧化鏈?zhǔn)椒磻?yīng)。兩者形成惡性循環(huán)：高溫提升光化學(xué)反應(yīng)速率，光降解產(chǎn)物進(jìn)一步降低材料熱穩(wěn)定性。

膠體失效表現(xiàn)包括：高分子鏈斷裂或交聯(lián)引發(fā)的機(jī)械性能下降；因發(fā)色團(tuán)（例如羰基）生成而導(dǎo)致黃變，造成有用光被吸收；以及界面化學(xué)鍵水解或熱應(yīng)力引發(fā)的與芯片、基板之間的分層現(xiàn)象。

封裝膠體加速老化方案的設(shè)計

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LED封裝膠體老化前后的熱重曲線對比

可靠的壽命預(yù)測需要科學(xué)的加速老化試驗，本方案通過耦合多種環(huán)境應(yīng)力來模擬老化過程：

1.高溫工作應(yīng)力：使LED在設(shè)定的結(jié)溫（如110°C、130°C、150°C）下持續(xù)工作，以復(fù)現(xiàn)芯片在實際使用中的發(fā)熱；

2.全譜太陽輻射：采用太陽光模擬器對工作或靜態(tài)下的LED施加恒定或循環(huán)的環(huán)境光輻照，強(qiáng)度可設(shè)定為1 SUN或更高；

3.溫度循環(huán)與濕度應(yīng)力：通過模擬晝夜溫差或高濕環(huán)境，評估熱機(jī)械疲勞及濕氣滲透的影響。

針對存在聚光風(fēng)險的應(yīng)用場景，可在太陽光模擬器光路引入微型光學(xué)透鏡或反射鏡，在膠體特定區(qū)域形成可控強(qiáng)度的光斑，以重點考察該區(qū)域的加速退化行為。

老化過程中需對多項關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行實時或定期監(jiān)測，包括：光通量維持率（依據(jù)LM-80標(biāo)準(zhǔn)）、色坐標(biāo)漂移（Δu’v’）、膠體黃化指數(shù)（YI）、透射率變化，以及通過目視或顯微檢查觀察物理缺陷（如裂紋、分層等）。

太陽光模擬器的應(yīng)用效果

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LED封裝膠體老化測試效果

太陽光模擬器通過精準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)AM1.5G全譜輻射，解決了傳統(tǒng)單一光源無法模擬自然環(huán)境光應(yīng)力的難題。其優(yōu)異的輻照度穩(wěn)定性與空間均勻性，確保了封裝膠體老化測試的重復(fù)性與準(zhǔn)確性；結(jié)合環(huán)境艙實現(xiàn)的光- 熱 - 濕多應(yīng)力耦合，可有效復(fù)現(xiàn)戶外服役的復(fù)雜工況。針對聚光場景設(shè)計的光學(xué)模塊，捕捉封裝膠體局部熱點的非線性老化效應(yīng)，使測試結(jié)果更貼近實際應(yīng)用場景。

壽命預(yù)測模型構(gòu)建與驗證

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封裝膠體的壽命預(yù)測模型建立是整個研究的最終目標(biāo)。其關(guān)鍵在于通過阿倫尼烏斯模型刻畫溫度對熱主導(dǎo)老化機(jī)制的加速作用，同時結(jié)合紫外輻照劑量等光化學(xué)劑量模型描述光主導(dǎo)老化過程。針對光熱強(qiáng)協(xié)同作用場景，需構(gòu)建含溫度- 輻照度耦合項的擴(kuò)展模型以提升適配性。

模型參數(shù)通過多組不同應(yīng)力水平（含溫度、太陽光模擬器的輻照強(qiáng)度及聚光條件）的老化數(shù)據(jù)擬合確定，驗證環(huán)節(jié)的核心是將模型預(yù)測壽命與實際戶外長期曝曬數(shù)據(jù)或高置信度加速老化結(jié)果進(jìn)行比對，以此評估模型的準(zhǔn)確性與外推可靠性。

本研究通過太陽光模擬器構(gòu)建了精確可控的光熱耦合加速老化試驗平臺，系統(tǒng)揭示了高功率LED封裝膠體在多應(yīng)力作用下的退化機(jī)制與規(guī)律。基于此建立并驗證的壽命預(yù)測模型，為封裝膠體的科學(xué)篩選、產(chǎn)品可靠性評估及壽命的精準(zhǔn)預(yù)測提供了堅實的理論與數(shù)據(jù)支撐，對推動高可靠性LED器件的研發(fā)與應(yīng)用具有重要價值。

Luminbox 聚光太陽光模擬器

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紫創(chuàng)測控Luminbox 聚光太陽光模擬器以高性能氙燈為核心光源，精準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)AM1.5G 太陽光譜（可選 AM0、AM1.5D 光譜版本），可輸出高聚光能量，輻照穩(wěn)定可控，可為環(huán)境模擬、材料測試及航空航天驗證提供專業(yè)光照解決方案。

可提供500多個太陽的高聚光能量（1sun=1000w/m2）

時間不穩(wěn)定性和光譜匹配JIS C 8912/IEC 60904-9 2nd/ASTM E927-5的A Class標(biāo)準(zhǔn)

紫創(chuàng)測控Luminbox的聚光太陽光模擬器已應(yīng)用于材料科學(xué)、新能源、航空航天等領(lǐng)域，推動科研與產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新。未來，Luminbox將持續(xù)優(yōu)化聚光技術(shù)，提升光譜適配性與輻照穩(wěn)定性，為更多高要求場景提供更高效的解決方案。