在現(xiàn)代射頻（RF）系統(tǒng)中，相位噪聲性能已不再是次要考慮因素——它是關鍵設計參數(shù)。無論您是在為混頻級開發(fā)本振（LO）、優(yōu)化振蕩器穩(wěn)定性，還是為雷達前端表征頻率源，相位噪聲都會直接影響系統(tǒng)整體表現(xiàn)。

工程師通常會從通用儀器入手，例如帶相位噪聲測量選件的信號分析儀或高性能信號源。這些工具確實能提供一個良好的起點，但在高要求的應用中，其局限性很快就會顯現(xiàn)。對于需要精確、可重復測量近載波及遠離載波相位噪聲的場景，專用相位噪聲分析儀才是最佳解決方案。

工程挑戰(zhàn)：通用測試方案的局限通用儀器雖然能測量相位噪聲，但由于其內(nèi)部架構(gòu)的限制，測量靈敏度和精度有限。例如：

信號分析儀受限于自身的內(nèi)部相位噪聲及單通道架構(gòu)，這為可測量噪聲設置了下限。

信號源雖具備低噪聲特性，但本身并不適合作為獨立測量設備。

依賴外部混頻器或自定義參考路徑的測試架構(gòu)，往往會引入額外的不確定性，降低可重復性，并增加測試復雜度。

這些問題在表征 LO、VCO 或頻率合成器時尤為明顯，尤其當需要測量接近載波的低頻偏（如 10 Hz 或 100 Hz 偏移）噪聲時。
相反，專用相位噪聲分析儀從架構(gòu)層面為此類測試而設計，具備更低的噪聲底、更高的動態(tài)范圍，以及專門的抖動分析功能。更低的噪聲低性能像 Rohde & Schwarz FSWP 系列 或 Keysight E5055A/E5058A SSA-X 系列這樣的專用分析儀，其測量噪聲底遠低于通用信號分析儀。以 Rohde & Schwarz 為例，F(xiàn)SWP50 和 FSPN 型號采用超低噪聲參考源與優(yōu)化的前端設計，在特定配置下可實現(xiàn)低于 -160 dBc/Hz 的相位噪聲底。Keysight 的 SSA-X 系列則通過多通道信號路徑、低相位噪聲合成器及交叉譜（cross-spectrum）技術(shù)來提升靈敏度，特別適合在亞 kHz 偏移頻段測量近載波相位噪聲——這些頻段對雷達、通信及定時系統(tǒng)至關重要。

1）交叉相關技術(shù)：抑制內(nèi)部噪聲的關鍵
交叉相關是現(xiàn)代相位噪聲測量的核心技術(shù)。例如 FSWP26 或 FSPN26 具備雙通道并行測量能力，能夠使用獨立的內(nèi)部參考源進行對比。通過相關運算，可以有效抑制非相關的內(nèi)部噪聲，從而更準確地提取被測信號（DUT）的真實噪聲特性，顯著提升動態(tài)范圍。
這一技術(shù)同時還能減少測量時間——在產(chǎn)線測試或設計驗證階段（DVT）中尤為寶貴。

2）內(nèi)置信號源與 VCO 測試支持
Rohde & Schwarz 和 Keysight 的專用相位噪聲分析儀均配備內(nèi)置信號源，可直接進行激勵與響應測量。 這對 VCO 測試尤其關鍵——工程師可以掃描調(diào)諧電壓、實時監(jiān)測輸出頻率變化，并在不同調(diào)諧范圍內(nèi)測量相位噪聲，無需額外外部源或復雜搭建。
例如：

Rohde & Schwarz 的 FSWP-VCO 選件提供調(diào)諧端口激勵功能；

Keysight 的 SSA-X 系列則具備內(nèi)置控制電壓輸出和瞬態(tài)捕獲模式。 這些功能讓 VCO 表征更加簡單、可重復。

3）專用相位噪聲分析儀的典型應用
在以下測試場景中，專用分析儀的技術(shù)優(yōu)勢尤為明顯：
LO 與 VCO 生產(chǎn)測試：確保頻率源滿足嚴格的相位噪聲規(guī)范，對后續(xù)混頻器性能和接收靈敏度至關重要。例如 FSWP8 或 E5055A 可用于識別帶外噪聲、評估調(diào)制穩(wěn)定性并驗證振蕩器純度。
混頻器與頻率轉(zhuǎn)換器測試：潔凈的 LO 信號是關鍵。使用專用分析儀可在集成前驗證 LO 注入信號的純度，避免 IF/RF 階段噪聲污染。

4）雷達、衛(wèi)星與通信系統(tǒng)
在這些系統(tǒng)中，相位抖動會直接影響角度分辨率或誤碼率。專用分析儀提供了必要的可見度，幫助工程師優(yōu)化載波及偏移頻率性能。
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ROHDE & SCHWARZ OFFERINGS: ROHDE & SCHWARZ 型號

FSWP8, FSWP26, FSWP50—高端型號，具備交叉相關功能、寬頻率范圍及內(nèi)置信號源

FSPN8, FSPN26—結(jié)構(gòu)緊湊、性價比高，支持快速相關與抖動分析

KEYSIGHT OFFERINGS: KEYSIGHT 型號

E5055A, E5058A SSA-X series—Feature-rich with tuning analysis, low-noise internal sources, and extensive jitter evaluation capabilities 系列 —— 功能豐富，具備調(diào)諧分析、低噪聲內(nèi)源及完善的抖動評估能力。

Electro Rent 的應用工程師團隊可根據(jù)您的測量目標提供專業(yè)建議——無論是測 1 Hz 近載波噪聲，還是進行時域抖動分析，我們都能幫您找到最合適的方案。

測量真正重要的部分在高精度射頻設計中，相位噪聲測試已成為必不可少的環(huán)節(jié)。通用儀器雖然能入門，但缺乏滿足關鍵部件驗證所需的動態(tài)范圍、重復性與信心。Rohde & Schwarz 與 Keysight 的專用相位噪聲分析儀為工程師提供了真正可視化、可量化、可信賴的測量結(jié)果——助您更高效地設計、調(diào)試與驗證。

審核編輯 黃宇