摘要: 本文提出一種基于多物理場(chǎng)關(guān)聯(lián)性的統(tǒng)一理論框架,旨在從根本上解決靜電放電(ESD)與電磁兼容(EMC)的設(shè)計(jì)難題??蚣茉从陂L(zhǎng)期工程實(shí)踐中的問題歸因,通過建立ESD與EMC在電子層面的物理統(tǒng)一性模型,將傳統(tǒng)“割裂應(yīng)對(duì)、事后修補(bǔ)”的設(shè)計(jì)范式,轉(zhuǎn)變?yōu)椤敖y(tǒng)一預(yù)測(cè)、正向設(shè)計(jì)”的系統(tǒng)方法。該框架已在典型場(chǎng)景中完成原理驗(yàn)證,并為智能裝備、半導(dǎo)體制造、電動(dòng)汽車,醫(yī)療設(shè)備、石化安全防爆等前沿領(lǐng)域提供了構(gòu)建高可靠性設(shè)計(jì)與標(biāo)準(zhǔn)體系的底層理論工具。

一、問題起源:
從實(shí)踐困境到理論追問
本框架的構(gòu)建并非始于理論推演,而是植根于一系列長(zhǎng)期未能解決的工程實(shí)踐難題:在??怂箍祻氖?a target="_blank">高精度三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x時(shí),設(shè)備與人員頻繁遭遇靜電沖擊,導(dǎo)致測(cè)量精度飄移且難以復(fù)現(xiàn);此后進(jìn)入國內(nèi)首家半導(dǎo)體設(shè)備企業(yè),在解決國產(chǎn)與進(jìn)口設(shè)備性能差異的過程中,同樣反復(fù)遭遇由靜電/電磁干擾引發(fā)的設(shè)備穩(wěn)定性與一致性問題。
這些現(xiàn)象被業(yè)界常視為個(gè)案處理。在系統(tǒng)研究國內(nèi)外頂尖設(shè)備的設(shè)計(jì)邏輯后,我們意識(shí)到:現(xiàn)有將ESD(瞬態(tài)脈沖)與EMC(持續(xù)干擾)割裂對(duì)待的理論體系,無法從根本上解釋這些跨領(lǐng)域、跨場(chǎng)景的共性失效現(xiàn)象。這一認(rèn)知缺口,驅(qū)動(dòng)我們從真實(shí)的物理信號(hào)和失效案例出發(fā),進(jìn)行逆向歸納與系統(tǒng)性重構(gòu)。


二、核心突破:
建立ESD/EMC的電子統(tǒng)一性模型
當(dāng)前產(chǎn)業(yè)界在芯片、模組到系統(tǒng)級(jí)的設(shè)計(jì)中,普遍將ESD與EMC視為兩個(gè)獨(dú)立問題,分別采用不同的策略與仿真工具進(jìn)行處理。在仿真層面,則多依賴于孤立的多物理場(chǎng)單點(diǎn)分析,缺乏對(duì)電、磁、熱、力等多物理場(chǎng)耦合效應(yīng)的關(guān)聯(lián)性協(xié)同仿真。這也正是臺(tái)積電、三星等先進(jìn)制造企業(yè)在光刻等關(guān)鍵工藝中,仍長(zhǎng)期受限于干擾相關(guān)良率損失的深層技術(shù)原因。
我們的核心突破在于:首次從電子產(chǎn)生、輸運(yùn)與能量轉(zhuǎn)換的微觀統(tǒng)一性出發(fā),論證了ESD與EMC本質(zhì)上是同一物理根源(即電荷的非預(yù)期運(yùn)動(dòng)與能量傳遞)在不同時(shí)間與空間尺度上的外在表現(xiàn)。由此,我們建立了首個(gè)能夠統(tǒng)一描述兩者并揭示其關(guān)聯(lián)機(jī)制的確定性物理模型。


三、范式轉(zhuǎn)變:
從“事后測(cè)試”到“事前設(shè)計(jì)”
我們首次能夠?yàn)橹悄芪⑾到y(tǒng)、異質(zhì)集成、高端傳感器等前沿領(lǐng)域,提供一套從電子層面出發(fā)的、基于物理統(tǒng)一性的“系統(tǒng)抗擾度”正向設(shè)計(jì)原理。它有望將可靠性設(shè)計(jì)從依賴“測(cè)試-整改-再測(cè)試”的經(jīng)驗(yàn)循環(huán),轉(zhuǎn)變?yōu)榛诜抡娴目深A(yù)測(cè)、可優(yōu)化、可設(shè)計(jì)的精確過程。

四、 驗(yàn)證與展望:
從原理到標(biāo)準(zhǔn)的戰(zhàn)略實(shí)施
初步工程驗(yàn)證:本框架已成功指導(dǎo)清華博士團(tuán)隊(duì)完成兩輪高性能控制系統(tǒng)電路設(shè)計(jì)(2022年,2024年7月),在其特定復(fù)雜電磁場(chǎng)景下,系統(tǒng)性解決了以往難以定位的干擾問題,驗(yàn)證了該理論框架的工程可行性與有效性。
全鏈條合作愿景:我們期望開展深度合作,共同推進(jìn) “原理驗(yàn)證-工具開發(fā)-標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)建” 的全鏈條實(shí)踐。通過構(gòu)建基于統(tǒng)一模型的關(guān)聯(lián)性仿真工具與設(shè)計(jì)流程,共同產(chǎn)出標(biāo)志性的學(xué)術(shù)成果、高價(jià)值專利與前瞻性設(shè)計(jì)指南。
戰(zhàn)略意義:這不僅是一項(xiàng)技術(shù)突破,更意味著面向下一代高可靠微系統(tǒng),掌握其設(shè)計(jì)方法與標(biāo)準(zhǔn)定義主動(dòng)權(quán)的歷史性機(jī)遇。對(duì)于志在引領(lǐng)前沿的而言,率先布局并工程化這一底層理論,將是構(gòu)建長(zhǎng)期技術(shù)壁壘、搶占全球產(chǎn)業(yè)話語權(quán)的關(guān)鍵戰(zhàn)略舉措。
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重構(gòu)電子系統(tǒng)抗擾設(shè)計(jì)的統(tǒng)一理論框架——從關(guān)聯(lián)認(rèn)知到正向設(shè)計(jì)
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