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2026年度課程《壽命試驗、高加速壽命試驗及可靠性數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析實操》公開課,助您提升專業(yè)能力!

賽盛技術(shù) ? 2026-02-08 09:02 ? 次閱讀
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課程名稱:《壽命試驗、高加速壽命試驗及可靠性數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析實操》

(可到企業(yè)內(nèi)部培訓(xùn))

講 師:老師

時間地點:北京10月30-31日

主辦單位:賽盛技術(shù)

課程背景

加速壽命試驗和高加速壽命試驗是提成產(chǎn)品可靠性的重要手段,壽命數(shù)據(jù)分析技術(shù)是質(zhì)量可靠性人員、檢驗人員和設(shè)計師必備的技能,是開展可靠性工作必須的手段,為滿足一線技術(shù)人員對數(shù)據(jù)處理分析技術(shù)和試驗方案設(shè)計的需求,特開展本次培訓(xùn)。本次培訓(xùn)從可靠性壽命數(shù)據(jù)基礎(chǔ)理論到工程實踐,內(nèi)容涵蓋了可靠性壽命試驗及可靠性數(shù)據(jù)的大部分內(nèi)容,使大家能夠全面、系統(tǒng)地掌握數(shù)據(jù)收集、處理與分析的知識和能力。培訓(xùn)的數(shù)據(jù)分析技術(shù)針對產(chǎn)品不同分布(指數(shù)分布、正態(tài)分布、對數(shù)正態(tài)分布、威布爾分布)、和試驗應(yīng)力場景(常規(guī)試驗和加速試驗)進行分析講解,提供了當(dāng)前熱點加速模型的介紹,以提高可靠性工程師、質(zhì)量工程師和設(shè)計師靈活運用可靠性數(shù)據(jù)分析處理技術(shù)解決問題的能力。

課程特色

培訓(xùn)中穿插了豐富的案例講解和實操練習(xí),并為學(xué)員發(fā)放EXCEL和MINITAB學(xué)習(xí)和練習(xí)用實操案例,和學(xué)員一起采用計算機現(xiàn)場傳授和練習(xí)可靠性數(shù)據(jù)技術(shù)的實際操作方法。特別是利用大家比較熟悉的EXCEL(手工)和Minitab(自動)進行案例講解和實操練習(xí),適用不同層次的學(xué)員在工作中運用合適的工具開展可靠性數(shù)據(jù)分析工作,讓大家學(xué)會運用這些方法解決實際問題的實際操作技能和水平。

學(xué)員需自帶計算機,以便現(xiàn)場學(xué)習(xí),并自行在官網(wǎng)下載MINITAB(試用版),安裝好EXCEL或相似軟件。


面向人群

硬件設(shè)計工程師,硬件測試工程師,PCB設(shè)計工程師,可靠性工程師、EMC工程師,PI工程師,SI工程師,項目經(jīng)理,技術(shù)支持工程師,研發(fā)主管,研發(fā)總監(jiān),研發(fā)經(jīng)理,測試經(jīng)理,系統(tǒng)測試工程師,具有1年以上工作經(jīng)驗的硬件設(shè)計師、項目管理人員。

課程內(nèi)容


第1章 產(chǎn)品壽命的基礎(chǔ)概念和參數(shù)1.1常用的可靠性指標(biāo)1.1.1可靠性定義、早期壽命(Early Life)1.1.2可靠度、不可靠度、瞬時失效率1.1.3保證壽命、平均壽命、特征壽命、中位壽命1.1.4平均修復(fù)時間、有效度。1.1.5耐久性、疲勞壽命1.2客戶要求的質(zhì)量指標(biāo)與可靠性指標(biāo)的關(guān)系1.3可靠性指標(biāo)分析實操訓(xùn)練

1.3.1Excel案例練習(xí)1.3.2Minitab案例練習(xí)第2章 數(shù)據(jù)類型、來源和收集要點2.1可靠性數(shù)據(jù)分析的概率統(tǒng)計基礎(chǔ)2.1.1事件和概率2.1.2隨機變量與概率分布2.1.3樣本及統(tǒng)計量2.2數(shù)據(jù)類型2.3數(shù)據(jù)來源2.4可靠性指標(biāo)分析案例

2.4.1Excel案例練習(xí)2.4.2Minitab案例練習(xí)第3章 壽命與可靠性數(shù)據(jù)常用分布類型3.1指數(shù)分布3.2對數(shù)分布3.3對數(shù)正態(tài)分布3.4威布爾分布3.5Minitab練習(xí)

  • 不同產(chǎn)品BX壽命的計算
  • 保修期內(nèi)損壞數(shù)計算

第4章 壽命分布的擬合優(yōu)度檢驗

4.1 X2檢驗4.2指數(shù)分布的檢驗4.2.1 K-S檢驗4.2.2 X2檢驗4.3正態(tài)分布的檢驗4.3.1 K-S檢驗4.3.2 X2檢驗4.4威布爾分布的檢驗4.4.1 K-S檢驗4.4.2 X2檢驗

4.5 應(yīng)用案例4.5.1 EXCEL應(yīng)用示例(人工計算)聯(lián)系4.5.2 Minitab應(yīng)用示例聯(lián)系

  • LCD示例
  • 穿戴電子示例
  • 不同部件示例

4.6 GB/T5080.6(IEC60605-6-2007)指數(shù)分布檢驗4.7 威布爾分析 (IEC61649:2008,IDT)4.7.1 擬合優(yōu)度4.7.2 擬合優(yōu)度檢驗第5章 壽命分布的參數(shù)估計5.1參數(shù)估計的基本知識5.1.1參數(shù)的點估計5.1.2點估計優(yōu)劣的評價標(biāo)準(zhǔn)5.1.3參數(shù)的區(qū)間估計5.2指數(shù)分布的參數(shù)估計5.2.1無替換定數(shù)截尾試驗的參數(shù)估計5.2.2無替換定時截尾試驗的參數(shù)估計5.2.3有替換定數(shù)截尾試驗的參數(shù)估計5.2.4有替換定時截尾試驗的參數(shù)估計5.2.5定時間隔測試試驗的參數(shù)估計5.2.6隨機截尾試驗的參數(shù)估計5.3威布爾分布的壽命參數(shù)估計5.3.1參數(shù)的點估計5.4 案例5.4.1 EXCEL應(yīng)用示例(人工計算)練習(xí)

  • 威布爾分布壽命參數(shù)估計
  • 指數(shù)分布壽命參數(shù)估計

5.4.2 Minitab應(yīng)用示例練習(xí)

  • 威布爾分布壽命參數(shù)估計
  • 指數(shù)分布壽命參數(shù)估計

第6章 加速壽命模型

6.1單應(yīng)力一阿倫尼斯模型精講6.1.1模型構(gòu)成6.1.2加速倍數(shù)6.1.3模型參數(shù)的取值范圍6.1.4激活能的測定6.1.5應(yīng)用示例(元件類、功率器件、整機)6.1.6有置信度要求時的

應(yīng)用示例練習(xí)

6.1.7用EXCEL計算模型參數(shù)練習(xí)6.1.8用MINITAB計算激活能、加速倍數(shù)練習(xí)

6.2單應(yīng)力一逆冪率模型精講及設(shè)計加速案例、6.2.1 逆冪率模型的構(gòu)成6.2.1逆冪率模型參數(shù)的獲得6.2.2逆冪率模型應(yīng)用示例6.2.3IEC61373加速振動試驗6.2.4GJB150A 振動加速案例6.2.5用EXCEL計算模型參數(shù)練習(xí)6.2.6用MINITAB計算冪指數(shù)、加速倍數(shù)練習(xí)6.2.7振動加速模型調(diào)整試驗時間中的應(yīng)用案例練習(xí)6.3 多應(yīng)力一廣義艾林模型精講6.3.1 高溫高濕加速模型6.3.2電熱加速模型

6.3.2 應(yīng)用案例(EXCEL壽命模型參數(shù)的計算練習(xí))

6.3.3 用MINITAB計算雙應(yīng)力加速參數(shù)和加速倍數(shù)聯(lián)系6.4 國外最新模型介紹6.4.1 Coffin-Manson模型及其適用范圍6.4.2 LESIT模型及其適用范圍6.4.3 NORRIS-LANDZBERG模型及其適用范圍6.4.4 BAYERER模型及其適用范圍6.4.5 SKiM63壽命模型及其適用范圍

第7章 壽命及加速壽命試驗方案的設(shè)計實施

7.1 壽命試驗的分類7.2 壽命試驗的測試點7.3 壽命試驗的數(shù)據(jù)處理7.4 加速壽命試驗的理論依據(jù)

7.5 加速應(yīng)力的選擇7.5.1 恒定應(yīng)力7.5.2 步進應(yīng)力7.5.3 續(xù)進應(yīng)力7.6 樣品數(shù)量的選擇7.7 激活能的計算7.8 其他加速系數(shù)的計算7.9 可靠性實驗案例(用EXCEL和Minitab)計算練習(xí)1已知置信度和MTBF時的實驗測定計算練習(xí)2已知置信度和可靠度時的實驗測定計算練習(xí)3案例加速壽命實驗測定法

第8章 高加速壽命試驗的方案設(shè)計

1.ALT與AST的區(qū)別2.GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗規(guī)程,高加速壽命試驗導(dǎo)則》簡介3.GMW 8287 Revision / Edition: 2 《HIGHLY ACCELERATED LIFE TESTING (HALT) HIGHLY ACCELERATED STRESS SCREENING AND AUDITING》簡介4.HALT和HASS的概念與應(yīng)用范圍5.高加速的基本原理6.HALT/HASS試驗過程及方法 1)初始功能測試?2)?溫度步進應(yīng)力測試?3)?溫度循環(huán)測試4)?振動應(yīng)力測試5)?綜合應(yīng)力測試?6)?故障分析與改進7.開展HALT和HASS的幾點注意事項

第9章 基于壽命數(shù)據(jù)的可靠性認(rèn)證試驗

一、可靠性認(rèn)證的常用方法 1)驗證試驗2)失效實驗3)通過實驗4)過嚴(yán)實驗

二、通過認(rèn)證試驗的理論依據(jù)

1.一次抽樣檢驗的一般程序2.串聯(lián)模型3.OC曲線4.樣品數(shù)計算5.MINTAB計算示例6.EXCEL計算示例三、指數(shù)分布有置信度的可靠性認(rèn)證1、確定產(chǎn)品單元;2、定義的目標(biāo);3、確定產(chǎn)品使用壽命相關(guān)的負(fù)荷;4、試驗持續(xù)時間的計算;5、樣品數(shù)計算;6、樣品數(shù)有限定時的應(yīng)用;7、應(yīng)用示例。

四、威布爾分布的可靠性通過試驗認(rèn)證(一)正常試驗情況案例

1. 樣品應(yīng)力正常時案例2 用MINITAB計算示例案例3 試驗設(shè)計,不是0失效怎么辦?

  • 人工計算示例
  • MINITAB計算示例

(二)試驗時間的調(diào)整案例4---正常測試 案例5—試驗條件有限時測試 案例6—樣品不足的情況 MINITAB不同樣品數(shù)的計算示例 案例7-樣品不足加大時間的情況 案例8 用加速試驗(循環(huán)) 案例9 用加速試驗(時間) 案例10 實驗結(jié)果當(dāng)出現(xiàn)失效時怎么辦?


優(yōu)質(zhì)售后服務(wù),提升培訓(xùn)效果


參訓(xùn)學(xué)員或者企業(yè)在課程結(jié)束后,可以享受相關(guān)賽盛技術(shù)的電磁兼容技術(shù)方面優(yōu)質(zhì)售后服務(wù),作為授課之補充,保證效果,達到學(xué)習(xí)目的。主要內(nèi)容如下:

1.【技術(shù)問題解答】培訓(xùn)后一年內(nèi),如有課程相關(guān)技術(shù)問題或管理問題,可通過電話、郵件聯(lián)系賽盛技術(shù),我們將根據(jù)實際情況安排人員溝通回復(fù);

2.【定期案例分享】分享不斷,學(xué)習(xí)不斷;

3.【技術(shù)交流群】加入正式技術(shù)交流群,與行業(yè)大咖零距離溝通;

4.【EMC元件選型技術(shù)支持】如學(xué)員在EMC元件選擇或應(yīng)用上有不清楚的地方可隨時與賽盛技術(shù)溝通;

5.【往期經(jīng)典案例分析】行業(yè)典型EMC案例分享、器件選型等資料。

6.【研討會】不限人數(shù)參加賽盛技術(shù)線上或者線下研討會,企業(yè)內(nèi)部工程師可相互分享,共同成長。

7.【EMC測試服務(wù)】在賽盛技術(shù)進行EMC測試服務(wù),可享受會員折扣服務(wù)!



講師資歷——張老師

張老師,某研究所正高級工程師,系統(tǒng)可靠性專家,高級顧問,西安理工大學(xué)可靠性研究院特聘教授。張老師是國務(wù)院省級政府質(zhì)量考核專家、教育部職業(yè)教育指導(dǎo)委員會電子信息委員、京滬渝市場監(jiān)管系統(tǒng)質(zhì)量可靠性專家、中國電子學(xué)會第八屆理事會理事;中國軌道交通網(wǎng)安全理事會理事;中國質(zhì)量協(xié)會可靠性促進委員會專家委員;《環(huán)境試驗》《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》編委;TSQ創(chuàng)始人、首席診斷師,具有中國質(zhì)量工程師培訓(xùn)執(zhí)教資格。張老師出版了《電子產(chǎn)品可靠性預(yù)計》、《以可靠性為中心的質(zhì)量設(shè)計、分析和控制》,《可靠性設(shè)計》等專著。發(fā)表學(xué)術(shù)論文20篇。獲得部級二、三等獎各一次,航空科技進步三等獎一項,獲發(fā)明專利2項。在國內(nèi)首次提出質(zhì)量可靠性整體解決技術(shù)方法,并在400家企業(yè)推廣應(yīng)用。張老師主要從事產(chǎn)品可靠性試驗和可靠性技術(shù)研究。負(fù)責(zé)了五個國家重點工程的部件優(yōu)選工作,開展可靠性預(yù)計、可靠性設(shè)計、可靠性分析等研究工作。主持了GJB/Z299《電子設(shè)備可靠性預(yù)計手冊》關(guān)鍵技術(shù)研究,并相繼發(fā)布了B、C版。負(fù)責(zé)GB/T7826《故障模式、影響及危害性分析》和GB/T7829《故障樹分析(FTA)》等標(biāo)準(zhǔn)制定。張老師有豐富的實踐經(jīng)驗和企業(yè)診斷經(jīng)驗。曾為廣州地鐵電源系統(tǒng)、三一重機、重慶電網(wǎng)、沈陽醫(yī)療設(shè)備等公司完成可靠性、維修性設(shè)計建議書;為中電科技集團14所、10所、26所、康佳、TCL、美的等500+家單位的技術(shù)人員進行了公開或內(nèi)部的可靠性設(shè)計、可靠性預(yù)計、可靠性試驗、3F方法、元器件選用等方面的技術(shù)培訓(xùn)或講座,受眾達10萬人。


主辦單位介紹

深圳市賽盛技術(shù)有限公司位于深圳寶安區(qū),2005年成立,是國內(nèi)首家為電子企業(yè)提供全流程全方位的電磁兼容(EMC)方案提供商;


服務(wù)范圍:EMC設(shè)計、EMC整改、EMC流程建設(shè)、EMC仿真、EMC測試及EMC培訓(xùn)、硬件培訓(xùn)等技術(shù)服務(wù)。

賽盛技術(shù)自2006年開始自主舉辦EMC培訓(xùn),2010年后開始加入信號完整性培訓(xùn)、可靠性培訓(xùn)、硬件電路培訓(xùn)等服務(wù),截至目前為9000+企業(yè)提供過培訓(xùn)服務(wù),超過30000+研發(fā)工程師參加過培訓(xùn),同時受到企業(yè)與工程師一致認(rèn)可!


培訓(xùn)初心:幫助企業(yè)提升研發(fā)團隊能力幫助企業(yè)解決產(chǎn)品技術(shù)問題幫助企業(yè)縮短產(chǎn)品上市周期

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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    的頭像 發(fā)表于 08-27 15:04 ?811次閱讀
    HALT實驗與HASS實驗在<b class='flag-5'>可靠性</b>測試中的區(qū)別

    CDM試驗對電子器件可靠性的影響

    在電子器件制造和應(yīng)用中,靜電放電(ESD)是一個重要的可靠性問題。CDM(帶電器件模型)試驗是評估電子器件在靜電放電環(huán)境下的敏感可靠性的重要手段。通過CDM
    的頭像 發(fā)表于 08-27 14:59 ?1048次閱讀
    CDM<b class='flag-5'>試驗</b>對電子器件<b class='flag-5'>可靠性</b>的影響

    AEC-Q102之高加速壽命試驗

    在當(dāng)今快速發(fā)展的電子行業(yè),產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性是決定其市場競爭力的關(guān)鍵因素之一。為了確保電子產(chǎn)品能夠在各種復(fù)雜環(huán)境條件下長期穩(wěn)定運行,可靠性測試成為了研發(fā)和生產(chǎn)過程中不可或缺的重要環(huán)節(jié)。其中,
    的頭像 發(fā)表于 05-14 14:40 ?728次閱讀
    AEC-Q102之高<b class='flag-5'>加速</b><b class='flag-5'>壽命</b><b class='flag-5'>試驗</b>

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜提升,可靠性要求與測試成本及時間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過直接在未封裝晶圓上施加
    發(fā)表于 05-07 20:34

    深圳 4月21日-22日《電路可靠性設(shè)計與工程計算》公開課,助您提升專業(yè)能力!

    課程名稱:《電路可靠性設(shè)計與工程計算》講師:武老師時間地點:深圳4月21日-22日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色數(shù)學(xué)工程計算方法:通過數(shù)學(xué)和工程計算的手段,學(xué)員可以深入理解并計算出器件的各種參數(shù)。這些
    的頭像 發(fā)表于 03-18 15:14 ?592次閱讀
    深圳 4月21日-22日《電路<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計與工程計算》<b class='flag-5'>公開課</b>,<b class='flag-5'>助您提升</b><b class='flag-5'>專業(yè)</b><b class='flag-5'>能力</b>!

    老化試驗箱:加速集成電路壽命評估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽

    芯片需在5內(nèi)保持99.99%可靠性,通過85℃/85% RH高溫試驗加速測試1000小時,即可等效模擬5
    的頭像 發(fā)表于 03-08 11:56 ?1082次閱讀
    老化<b class='flag-5'>試驗</b>箱:<b class='flag-5'>加速</b>集成電路<b class='flag-5'>壽命</b>評估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽