SN74ABT18652：18位收發(fā)器與寄存器掃描測試設(shè)備的深度解析

在當(dāng)今復(fù)雜的電子電路設(shè)計(jì)中，對測試設(shè)備的要求越來越高，尤其是對于那些需要進(jìn)行邊界掃描測試的電路板組件。德州儀器（Texas Instruments）的SN74ABT18652掃描測試設(shè)備，憑借其獨(dú)特的功能和出色的性能，成為了電子工程師們的得力助手。今天，我們就來深入了解一下這款設(shè)備。

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產(chǎn)品概述

SN74ABT18652是德州儀器SCOPE?可測試性集成電路家族的一員，它集成了18位總線收發(fā)器和寄存器，并且與IEEE Std 1149.1 - 1990（JTAG）測試訪問端口和邊界掃描架構(gòu)兼容。這使得它能夠方便地對復(fù)雜的電路板組件進(jìn)行測試，大大提高了測試效率和準(zhǔn)確性。

核心特性

• 豐富的指令集：支持IEEE Std 1149.1 - 1990所需的指令，還包括可選的INTEST、P1149.1A CLAMP和HIGHZ指令。此外，它還具備并行簽名分析、偽隨機(jī)模式生成、采樣輸入/切換輸出、二進(jìn)制計(jì)數(shù)以及設(shè)備識別等功能，為測試提供了更多的靈活性和可能性。
• 雙邊界掃描單元：每個I/O端口配備兩個邊界掃描單元（BSCs），可以獨(dú)立捕獲和控制A或B總線上的測試數(shù)據(jù)，進(jìn)一步增強(qiáng)了測試的靈活性。

工作模式

正常模式

在正常模式下，SN74ABT18652就像一個靈活的18位總線收發(fā)器和寄存器。它既可以作為兩個9位收發(fā)器使用，也可以作為一個18位收發(fā)器使用，能夠?qū)崿F(xiàn)數(shù)據(jù)從輸入總線或內(nèi)部寄存器的多路復(fù)用傳輸。

數(shù)據(jù)的流向由時鐘（CLKAB和CLKBA）、選擇（SAB和SBA）和輸出使能（OEAB和OEBA）輸入控制。例如，在A到B的數(shù)據(jù)傳輸中，當(dāng)CLKAB從低到高轉(zhuǎn)換時，A總線上的數(shù)據(jù)會被時鐘信號鎖存到相關(guān)寄存器中。當(dāng)SAB為低電平時，實(shí)時的A數(shù)據(jù)會被選中并傳輸?shù)紹總線（透明模式）；當(dāng)SAB為高電平時，存儲的A數(shù)據(jù)會被選中并傳輸?shù)紹總線（寄存器模式）。當(dāng)OEAB為高電平時，B輸出有效；當(dāng)OEAB為低電平時，B輸出處于高阻抗?fàn)顟B(tài)。B到A的數(shù)據(jù)傳輸控制類似，只是使用CLKBA、SBA和OEBA輸入。

測試模式

當(dāng)進(jìn)入測試模式時，SCOPE總線收發(fā)器和寄存器的正常操作會被禁止，測試電路被啟用，用于觀察和控制設(shè)備的I/O邊界。此時，測試電路可以根據(jù)IEEE Std 1149.1 - 1990協(xié)議執(zhí)行邊界掃描測試操作。

四個專用測試引腳（測試數(shù)據(jù)輸入TDI、測試數(shù)據(jù)輸出TDO、測試模式選擇TMS和測試時鐘TCK）用于觀察和控制測試電路的操作。此外，測試電路還可以對數(shù)據(jù)輸入進(jìn)行并行簽名分析，從數(shù)據(jù)輸出生成偽隨機(jī)模式。所有的測試和掃描操作都與測試訪問端口（TAP）接口同步。

電氣特性與參數(shù)

絕對最大額定值

了解設(shè)備的絕對最大額定值對于確保設(shè)備的安全和可靠性至關(guān)重要。SN74ABT18652的絕對最大額定值包括：

• 電源電壓范圍：在特定條件下有明確的限制，一般要注意輸入電壓范圍，除I/O端口外和I/O端口的電壓范圍有所不同，分別有相應(yīng)的規(guī)定。
• 輸出電壓和電流：輸出在高電平或斷電狀態(tài)下的電壓范圍，以及低電平狀態(tài)下的電流都有明確的限制。
• 其他參數(shù)：如輸入鉗位電流、輸出鉗位電流、封裝熱阻、存儲溫度范圍等也都有相應(yīng)的規(guī)定。需要注意的是，超過這些絕對最大額定值可能會導(dǎo)致設(shè)備永久性損壞。

推薦工作條件

為了使設(shè)備能夠穩(wěn)定、可靠地工作，需要遵循推薦的工作條件。這些條件包括電源電壓、輸入電壓、時鐘頻率、脈沖持續(xù)時間、建立時間、保持時間等。例如，正常模式下時鐘頻率（CLKAB或CLKBA）的最小值為100MHz，測試模式下測試時鐘（TCK）的最大值為50MHz。

電氣特性

在推薦的工作條件下，SN74ABT18652的電氣特性表現(xiàn)出色。例如，輸入電流、輸出電壓、輸出電流等參數(shù)都有明確的規(guī)范。這些參數(shù)對于電路設(shè)計(jì)和性能評估非常重要，工程師們在設(shè)計(jì)電路時需要根據(jù)這些參數(shù)進(jìn)行合理的選擇和調(diào)整。

封裝與訂購信息

SN74ABT18652提供LQFP - PM封裝，采用托盤包裝。訂購時，對應(yīng)的型號為SN74ABT18652PM，頂部標(biāo)記為ABT18652。此外，關(guān)于封裝圖紙、標(biāo)準(zhǔn)包裝數(shù)量、熱數(shù)據(jù)、符號表示和PCB設(shè)計(jì)指南等信息，可以在德州儀器的官方網(wǎng)站（www.ti.com/sc/package）上獲取。

總結(jié)

SN74ABT18652掃描測試設(shè)備以其豐富的功能、靈活的工作模式和出色的電氣特性，為電子工程師們提供了一個強(qiáng)大的測試解決方案。無論是在復(fù)雜電路板的測試中，還是在對數(shù)據(jù)傳輸和控制有較高要求的應(yīng)用中，它都能夠發(fā)揮重要的作用。作為電子工程師，我們在使用這款設(shè)備時，需要充分了解其特性和參數(shù)，合理設(shè)計(jì)電路，以確保設(shè)備能夠穩(wěn)定、可靠地工作。大家在實(shí)際應(yīng)用中有沒有遇到過類似設(shè)備的使用問題呢？歡迎在評論區(qū)分享交流。