針對(duì)消費(fèi)電子觸控屏電路板時(shí)鐘、驅(qū)動(dòng)、電源模塊在 300kHz~30MHz 易產(chǎn)生電磁騷擾的問題，采用北京海洋興業(yè)自研OI-EASS321EMI掃描儀，通過 “寬頻初掃 + 窄帶終掃成像” 定位干擾源，為 PCB 優(yōu)化與 EMC 整改提供依據(jù)。

一、測(cè)試目的

1、完成 300kHz~30MHz 近場(chǎng)電場(chǎng)掃描，獲取觸控板干擾頻譜；

2、定位 1MHz~5MHz 差模干擾與共模干擾共存的頻率與強(qiáng)度；

3、借助 2D/3D 成像實(shí)現(xiàn)干擾源精準(zhǔn)定位，輸出工程化結(jié)論。

二、測(cè)試依據(jù)

GB/T 9254.1-2021《信息技術(shù)設(shè)備 電磁兼容 發(fā)射要求》

CISPR 32:2015《多媒體設(shè)備電磁兼容 發(fā)射要求》（Class B）

CISPR 16-2-3 無線電騷擾測(cè)量方法

IEC 61967-3 集成電路近場(chǎng)輻射測(cè)量方法

三、測(cè)試系統(tǒng)與被測(cè)件

圖 1：OI-EASS321掃描儀

圖 2：OI-ICE08近場(chǎng)探頭

圖 3：觸控屏電路板

四、測(cè)試方法

采用兩步式智能掃描流程，由自研 EMI 軟件統(tǒng)一控制：

1、頻譜分析（初掃）：300kHz~30MHz 寬頻快速掃描，鎖定干擾尖峰頻點(diǎn)；

2、近場(chǎng)成像（終掃）：針對(duì)尖峰頻點(diǎn)設(shè)置 SPAN 窄帶精掃，生成2D/3D輻射成像。

測(cè)試參數(shù)：探頭距 PCB 2mm、步進(jìn) 2mm、峰值檢波、RBW=10kHz、前置放大開啟。

圖 4：300kHz~30MHz 頻譜分析（初掃）干擾頻譜圖

五、測(cè)試結(jié)果

1、頻譜特征：1MHz以下，頻譜信號(hào)整體過高，隨之逐漸下降，并在1MHz之后出現(xiàn)多個(gè)尖峰諧波（差模與共模干擾）。

2、空間定位：2D/3D 成像顯示，干擾集中于觸控控制器、時(shí)鐘電路、電源模塊、FPC 接口區(qū)域，以近場(chǎng)電場(chǎng)輻射、共模噪聲為主。

圖 5：典型干擾頻點(diǎn) 2D 近場(chǎng)電場(chǎng)分布云圖

圖 6：典型干擾頻點(diǎn) 3D 輻射強(qiáng)度立體成像圖

圖 7：近場(chǎng)成像（終掃）效果圖

六、測(cè)試結(jié)論

1、自研系統(tǒng)頻段匹配度高，300kHz~30MHz 測(cè)試數(shù)據(jù)真實(shí)有效；

2、觸控板 1MHz 以上存在明顯 EMI 騷擾，符合消費(fèi)電子產(chǎn)品特征；

3、兩步式掃描精準(zhǔn)定位干擾源，可直接支撐 PCB 布局與濾波整改。

七、整改建議

1、1MHz 以上干擾區(qū)加裝 RC/LC 濾波或串聯(lián)阻尼電阻；

2、時(shí)鐘電路包地 + 縮短走線，降低諧波輻射；

3、優(yōu)化觸控驅(qū)動(dòng)回路面積，減少環(huán)路天線效應(yīng)；

4、電源模塊增強(qiáng)濾波，改善接地連續(xù)性。