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onsemi NVMJD020N08HL雙N溝道MOSFET深度解析

lhl545545 ? 2026-04-03 11:35 ? 次閱讀
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onsemi NVMJD020N08HL雙N溝道MOSFET深度解析

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率開關(guān)器件,其性能和特性對于電路的穩(wěn)定性和效率起著至關(guān)重要的作用。今天我們就來深入了解一下onsemi的NVMJD020N08HL雙N溝道MOSFET。

文件下載:NVMJD020N08HL-D.PDF

產(chǎn)品概述

NVMJD020N08HL是一款80V、19.5mΩ、30A的雙N溝道功率MOSFET。它采用了LFPAK8封裝,具有小尺寸(5x6 mm)的特點(diǎn),非常適合緊湊型設(shè)計(jì)。該器件具備低導(dǎo)通電阻((R{DS(on)}))和低柵極電荷((Q{G}))及電容,能有效降低導(dǎo)通損耗和驅(qū)動損耗。此外,它還通過了AEC - Q101認(rèn)證,符合PPAP要求,并且是無鉛產(chǎn)品,滿足RoHS標(biāo)準(zhǔn)。

關(guān)鍵參數(shù)

最大額定值

參數(shù) 符號 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 80 V
柵源電壓 (V_{GS}) +20 V
連續(xù)漏極電流((T_{c}=25^{circ}C)) (I_{D}) 30 A
功率耗散((T_{c}=25^{circ}C)) (P_{D}) 42 W
脈沖漏極電流((T{A}=25^{circ}C),(t{p}=10mu s)) (I_{DM}) 107 A
工作結(jié)溫和存儲溫度范圍 (T{J},T{stg}) -55 至 +175 (^{circ}C)
源極電流(體二極管 (I_{S}) 35 A
單脈沖漏源雪崩能量((I_{L(pk)} = 1.5A)) (E_{AS}) 155 mJ
焊接用引腳溫度(距外殼1/8英寸,10s) (T_{L}) 260 (^{circ}C)

熱阻參數(shù)

參數(shù) 符號 單位
結(jié)到殼熱阻(穩(wěn)態(tài)) (R_{JC}) 3.6 (^{circ}C/W)
結(jié)到環(huán)境熱阻(穩(wěn)態(tài),注2) (R_{JA}) 47.5 (^{circ}C/W)

注:整個應(yīng)用環(huán)境會影響熱阻值,這些值不是常數(shù),僅在特定條件下有效;表面貼裝在FR4板上,使用(650mm^{2})、2 oz.的銅焊盤;脈沖長達(dá)1秒的最大電流更高,但取決于脈沖持續(xù)時間和占空比。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:(V{(BR)DSS})在(V{GS}=0V),(I_{D}=250mu A)時為80V,溫度系數(shù)為57mV/(^{circ}C)。
  • 零柵壓漏極電流:(I{DSS})在(V{GS}=0V),(V{DS}=80V),(T{J}=25^{circ}C)時為10nA,(T_{J}=125^{circ}C)時為100nA。
  • 柵源泄漏電流:(I{GSS})在(V{DS}=0V),(V_{GS}=20V)時給出相關(guān)參數(shù)。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:(V{GS(TH)})在(V{GS}=V{DS}),(I{D}=30mu A)時,最小值為1.2V,最大值為2.0V。
  • 漏源導(dǎo)通電阻:(R{DS(on)})在(V{GS}=10V)時,典型值為16.7mΩ,最大值為19.5mΩ;在(V{GS}=4.5V),(I{D}=15A)時,典型值為21mΩ,最大值為25mΩ。
  • 正向跨導(dǎo):(g{FS})在(V{DS}=8V),(I_{D}=15A)時給出相關(guān)參數(shù)。

電荷、電容和柵極電阻特性

參數(shù) 符號 測試條件 典型值 單位
輸入電容 (C_{ISS}) (V{GS}=0V),(f = 1MHz),(V{DS}=40V) 611 pF
輸出電容 (C_{OSS}) 81 pF
反向傳輸電容 (C_{RSS}) 5 pF
總柵極電荷 (Q_{G(TOT)}) 11.4 nC
閾值柵極電荷 (Q_{G(TH)}) 1 nC
柵源電荷 (Q_{GS}) (V{GS}=10V),(V{DS}=64V);(I_{D}=15A) 1.7 nC
柵漏電荷 (Q_{GD}) 2.4 nC
平臺電壓 (V_{GP}) 2.8 V

開關(guān)特性

在(V{GS}=10V),(V{DS}=64V),(I{D}=15A),(R{G}=1Omega)的條件下:

  • 開通延遲時間(t_{d(ON)})為6ns。
  • 上升時間(t_{r})為3ns。
  • 關(guān)斷延遲時間(t_{d(OFF)})為16ns。
  • 下降時間(t_{f})為2ns。

漏源二極管特性

  • 正向二極管電壓:(V{SD})在(V{GS}=0V),(I_{S}=15A),(T = 25^{circ}C)時,典型值為0.87V,最大值為1.2V;(T = 125^{circ}C)時,典型值為0.76V。
  • 反向恢復(fù)時間:(t{RR})在(V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/mu s),(I{S}=15A)時為25ns。
  • 反向恢復(fù)電荷:(Q_{RR})為18nC。

典型特性曲線

文檔中給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓和漏極電流的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、漏源泄漏電流與電壓的關(guān)系、電容變化、柵源與總電荷的關(guān)系、電阻性開關(guān)時間隨柵極電阻的變化、二極管正向電壓與電流的關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)、峰值電流與雪崩時間的關(guān)系以及熱響應(yīng)等。這些曲線能幫助工程師更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。

訂購信息

器件型號為NVMJD020N08HLTWG,標(biāo)記為020N08HL,采用LFPAK8雙無鉛封裝,每卷3000個。

封裝尺寸

LFPAK8封裝尺寸有詳細(xì)規(guī)定,包括各部分的最小、標(biāo)稱和最大尺寸,同時對尺寸的測量和公差等也有明確說明。

應(yīng)用注意事項(xiàng)

在使用NVMJD020N08HL時,需要注意以下幾點(diǎn):

  1. 應(yīng)力超過最大額定值可能會損壞器件,若超過這些限制,不能保證器件功能正常,可能會造成損壞并影響可靠性。
  2. 產(chǎn)品的參數(shù)性能是在特定測試條件下給出的,若在不同條件下工作,產(chǎn)品性能可能與電氣特性不一致。
  3. 脈沖測試條件為脈沖寬度≤300μs,占空比≤2%;開關(guān)特性與工作結(jié)溫?zé)o關(guān)。

總之,NVMJD020N08HL雙N溝道MOSFET以其出色的性能和特性,在電子設(shè)計(jì)中具有廣泛的應(yīng)用前景。工程師們在設(shè)計(jì)電路時,可以根據(jù)具體需求合理選擇和使用該器件。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過類似MOSFET的使用問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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