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onsemi NVTYS020N08HL N溝道功率MOSFET:特性與應(yīng)用詳解

h1654155282.3538 ? 來源:未知 ? 作者:陳翠 ? 2025-12-01 09:34 ? 次閱讀
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onsemi NVTYS020N08HL N溝道功率MOSFET:特性與應(yīng)用詳解

作為電子工程師,在設(shè)計過程中,選擇合適的功率MOSFET至關(guān)重要。今天就來詳細(xì)介紹onsemi推出的NVTYS020N08HL N溝道功率MOSFET,探討它的特性、參數(shù)以及在實際應(yīng)用中的表現(xiàn)。

文件下載:onsemi NVTYS020N08HL功率MOSFET.pdf

產(chǎn)品概述

NVTYS020N08HL是一款單N溝道功率MOSFET,具備80V的漏源擊穿電壓(V(BR)DSS),最大漏極電流(ID MAX)可達(dá)30A,在10V柵源電壓下,最大導(dǎo)通電阻(RDS(ON))為20mΩ,在4.5V柵源電壓下為25mΩ。其采用LFPAK8封裝,尺寸僅為3.3 x 3.3 mm,非常適合緊湊型設(shè)計。

封裝尺寸

產(chǎn)品特性亮點

緊湊設(shè)計

NVTYS020N08HL采用3.3 x 3.3 mm的小尺寸封裝,為緊湊型設(shè)計提供了可能。在如今追求小型化、集成化的電子設(shè)備設(shè)計中,這樣的小尺寸封裝能夠有效節(jié)省PCB空間,讓產(chǎn)品設(shè)計更加靈活。

低導(dǎo)通損耗

該MOSFET具有較低的導(dǎo)通電阻($R{DS(on)}$),在10V柵源電壓下,$R{DS(on)}$最大為20mΩ;在4.5V柵源電壓下,最大為25mΩ。低導(dǎo)通電阻可以減少電流通過時的能量損耗,提高電路的效率,降低發(fā)熱,延長設(shè)備的使用壽命。大家不妨思考一下,在一個高功率的電路中,低導(dǎo)通電阻能為我們節(jié)省多少電能呢?

電容特性

其低電容特性有助于減少驅(qū)動損耗。在高頻開關(guān)應(yīng)用中,電容的充放電會消耗一定的能量,低電容可以降低這部分損耗,提高開關(guān)速度,從而提升整個系統(tǒng)的性能。

汽車級標(biāo)準(zhǔn)

產(chǎn)品經(jīng)過AEC - Q101認(rèn)證且具備PPAP能力,這意味著它符合汽車電子的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn),可應(yīng)用于汽車電子系統(tǒng)中,如發(fā)動機控制單元、車載充電器等,為汽車電子的可靠性提供了保障。

環(huán)保合規(guī)

該器件為無鉛產(chǎn)品,并且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求,順應(yīng)了電子行業(yè)的發(fā)展趨勢。

關(guān)鍵參數(shù)解讀

最大額定值

參數(shù) 符號 數(shù)值 單位
漏源電壓 $V_{DSS}$ 80 V
柵源電壓 $V_{GS}$ +20 V
連續(xù)漏極電流($T_c = 25^{\circ}C$) $I_D$ 30 A
功率耗散($T_c = 25^{\circ}C$) $P_D$ 42 W
脈沖漏極電流($T_A = 25^{\circ}C, t_p = 10\ \mu s$) $I_{DM}$ 123 A
工作結(jié)溫和存儲溫度范圍 $TJ, T{stg}$ -55 至 +175 $^{\circ}C$

這些參數(shù)規(guī)定了器件在正常工作時的極限條件,使用時應(yīng)確保各項應(yīng)力不超過這些額定值,否則可能會損壞器件,影響其可靠性。例如,如果漏極電流長時間超過額定值,可能會導(dǎo)致器件過熱,甚至燒毀。

熱阻參數(shù)

參數(shù) 符號 數(shù)值 單位
結(jié)到外殼熱阻(穩(wěn)態(tài)) $R_{\theta JC}$ 3.6 $^{\circ}C$/W
結(jié)到環(huán)境熱阻(穩(wěn)態(tài)) $R_{\theta JA}$ 47.6 $^{\circ}C$/W

熱阻參數(shù)反映了器件散熱的難易程度。在設(shè)計散熱系統(tǒng)時,需要根據(jù)熱阻和功率耗散來計算結(jié)溫,確保結(jié)溫在安全范圍內(nèi)。大家可以想一想,如何根據(jù)這些熱阻參數(shù)來優(yōu)化散熱設(shè)計呢?

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:$V{(BR)DSS}$在$V{GS} = 0\ V$,$I_D = 250\ \mu A$時為80V,這是器件能夠承受的最大漏源電壓,超過該電壓可能會導(dǎo)致器件擊穿。
  • 零柵壓漏極電流:$I{DSS}$在$V{DS} = 80\ V$,$T_J = 25^{\circ}C$時為10 μA,$T_J = 125^{\circ}C$時為100 μA,該電流越小,說明器件在關(guān)斷狀態(tài)下的泄漏電流越小,功耗越低。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:$V{GS(TH)}$在$V{GS} = V_{DS}$,$I_D = 30\ A$時為1.2 - 2.0V,這是使器件開始導(dǎo)通的最小柵源電壓。
  • 漏源導(dǎo)通電阻:$R{DS(on)}$在不同的柵源電壓和漏極電流下有不同的值,如$V{GS} = 10\ V$,$ID = 10\ A$時為15.5 - 20 mΩ,$V{GS} = 4.5\ V$,$I_D = 10\ A$時為19.6 - 25 mΩ,該電阻越小,導(dǎo)通損耗越低。

電容和電荷特性

  • 輸入電容:$C{iss}$在$V{GS}=0\ V$,$f = 1\ MHz$,$V_{DS}=40\ V$時為610.5 pF,電容的大小會影響器件的開關(guān)速度和驅(qū)動功率。
  • 總柵極電荷:$Q{G(TOT)}$在不同的測試條件下有不同的值,如$V{GS}= 10\ V$,$V_{DS} = 64\ V$,$I_D = 15\ A$時為12 nC,該電荷反映了驅(qū)動器件所需的電荷量。

典型特性曲線分析

文檔中給出了一系列典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、轉(zhuǎn)移特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系等曲線。這些曲線可以幫助我們更好地理解器件在不同工作條件下的性能。例如,通過導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系曲線,我們可以直觀地看到柵源電壓對導(dǎo)通電阻的影響,從而選擇合適的柵源電壓來降低導(dǎo)通損耗。大家在實際應(yīng)用中,可以根據(jù)這些曲線來優(yōu)化電路設(shè)計,使器件工作在最佳狀態(tài)。

應(yīng)用建議

電路設(shè)計

在設(shè)計電路時,要根據(jù)器件的參數(shù)和特性來選擇合適的工作條件。例如,在選擇柵源電壓時,要考慮導(dǎo)通電阻和驅(qū)動損耗的平衡;在設(shè)計驅(qū)動電路時,要確保能夠提供足夠的電流來快速充電和放電柵極電容,以提高開關(guān)速度。

散熱設(shè)計

由于器件在工作過程中會產(chǎn)生熱量,因此散熱設(shè)計至關(guān)重要。可以根據(jù)熱阻參數(shù)選擇合適的散熱片或散熱方式,確保結(jié)溫在安全范圍內(nèi)。比如,在高功率應(yīng)用中,可以采用大面積的散熱片或強制風(fēng)冷的方式來提高散熱效率。

保護措施

為了防止器件受到過壓、過流、過熱等損壞,建議在電路中添加相應(yīng)的保護措施,如過壓保護電路、過流保護電路、溫度保護電路等。

NVTYS020N08HL是一款性能出色的N溝道功率MOSFET,具有緊湊設(shè)計、低導(dǎo)通損耗、低電容等優(yōu)點,適用于多種應(yīng)用場景。在實際應(yīng)用中,我們要充分了解其參數(shù)和特性,合理設(shè)計電路和散熱系統(tǒng),添加必要的保護措施,以確保器件的可靠運行。希望這篇文章能對大家在使用這款MOSFET時有所幫助,大家在實際應(yīng)用過程中遇到什么問題,歡迎一起交流探討。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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