晶振的測(cè)試電路,Crystal test circuit
晶振的測(cè)試電路,Crystal test circuit
關(guān)鍵字：晶振測(cè)試器
利用簡(jiǎn)單幾個(gè)元件制作一個(gè)可測(cè)量10kHz-100MHz晶振的測(cè)試電路（電路如圖），BG1和所接多頻振蕩器，經(jīng)C3、D1、D2進(jìn)行檢波后可在LED上得到下正上負(fù)的電壓，驅(qū)動(dòng)LED發(fā)光。 若晶振已壞，LED不亮?？蓪⒋诵‰娐钒惭b在維修用的電源上，留兩個(gè)插測(cè)晶振元件的小孔。
制作中應(yīng)注意：晶振的兩條引出線不能相距過(guò)近，否則振蕩幅度大大減小導(dǎo)致發(fā)光管不亮。
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