靜電放電對(duì)所有電子設(shè)備都構(gòu)成風(fēng)險(xiǎn)，因此遵守IEC 61000-4-2等標(biāo)準(zhǔn)至關(guān)重要。這些標(biāo)準(zhǔn)不僅規(guī)定了測(cè)試程序，還規(guī)定了ESD發(fā)生器所需的性能。在使用前，必須使用校準(zhǔn)過(guò)的靶子和高性能示波器（如R&SRTO6示波器）來(lái)驗(yàn)證ESD發(fā)生器的輸出，以確保其能按照標(biāo)準(zhǔn)生成準(zhǔn)確的電流脈沖。實(shí)驗(yàn)室級(jí)儀器憑借其卓越的測(cè)量能力和專用的ESD測(cè)量功能，是進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)量的理想選擇。該解決方案使用戶能夠高效地驗(yàn)證并記錄ESD發(fā)生器。

您的任務(wù)

確保產(chǎn)品能夠承受靜電放電（ESD）對(duì)于遵守IEC 61000-4-2等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)至關(guān)重要。準(zhǔn)確且可重復(fù)的ESD測(cè)試需要一臺(tái)功能正常的ESD發(fā)生器，能夠產(chǎn)生具有精確定義特性的脈沖。

發(fā)生器的輸出，特別是脈沖形狀，必須在測(cè)試前進(jìn)行驗(yàn)證，最佳方法是使用校準(zhǔn)過(guò)的ESD靶子和一臺(tái)實(shí)驗(yàn)室級(jí)示波器。標(biāo)準(zhǔn)中定義的ESD事件會(huì)產(chǎn)生幾十安培的峰值電流，其上升時(shí)間小于1納秒，這些電流可能流入敏感的電子電路。這可能會(huì)損壞元器件，導(dǎo)致集成電路發(fā)生閂鎖效應(yīng)，或引起復(fù)雜電子電路出現(xiàn)故障。符合標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)參數(shù)的ESD波形如圖所示。

每臺(tái)ESD發(fā)生器在測(cè)試前都必須符合波形要求和參數(shù)。如果指定波形的極性為正，則也需要使用負(fù)脈沖進(jìn)行測(cè)試。在下面的波形圖中，一個(gè)ESD脈沖可能包含高達(dá)幾GHz的高頻成分。要準(zhǔn)確捕獲并表征此類信號(hào)，需要高帶寬和高采樣率。標(biāo)準(zhǔn)要求最小帶寬為2 GHz，采樣率至少為8 Gsample/s。準(zhǔn)確捕獲波形后，需要測(cè)量電流和時(shí)間參數(shù)，并根據(jù)規(guī)定的容差進(jìn)行驗(yàn)證。

符合標(biāo)準(zhǔn)的ESD波形及其相關(guān)參數(shù)

海洋儀器給您推薦的解決方案

R&SRTO6示波器和R&SRTO6-K155 EMC/ESD測(cè)試選件通過(guò)一套用于電磁兼容/靜電放電（EMC/ESD）分析與特性描述的測(cè)量、分析和可視化工具，擴(kuò)展了標(biāo)準(zhǔn)示波器固件的功能。具體而言，該EMC/ESD分析選件提供了符合標(biāo)準(zhǔn)定義參數(shù)的預(yù)定義測(cè)量功能。還可以應(yīng)用合格/不合格檢查標(biāo)準(zhǔn)，并選擇預(yù)定義的測(cè)試等級(jí)。通過(guò)可定制的測(cè)量功能，可以對(duì)捕獲的波形進(jìn)行更深入的分析。歷史功能和趨勢(shì)功能讓用戶可以捕獲大量測(cè)量結(jié)果并一目了然地查看。此外，還可以生成測(cè)試報(bào)告，以記錄被測(cè)ESD發(fā)生器的驗(yàn)證情況。

所有相關(guān)參數(shù)都在EMC/ESD測(cè)試類別中進(jìn)行了預(yù)定義，并可按如下菜單所示進(jìn)行選擇。除參數(shù)外，執(zhí)行測(cè)試時(shí)還必須定義所施加波形的斜率。相關(guān)參數(shù)包括：

①上升時(shí)間(tr)： 10%至90%之間的時(shí)間。

②第一個(gè)峰值(Ip1)：第一個(gè)正/負(fù)峰值的電平。

③第二個(gè)峰值(Ip2)：指定時(shí)間范圍內(nèi)的最大/最小電平。

④I30：參考點(diǎn)后30ns處的電平。

⑤I60：參考點(diǎn)后60ns處的電平。

可以激活所有參數(shù)的結(jié)果線，以在波形中指示測(cè)量值。

合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)符合性至關(guān)重要?？梢赃x擇符合標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)定義參數(shù)，并將其應(yīng)用于合格/不合格檢查。測(cè)試執(zhí)行后，測(cè)量結(jié)果將指示測(cè)量值是否在限值范圍內(nèi)。

合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)

自定義測(cè)量參數(shù)：

為了進(jìn)行更深入的分析，可以選擇兩個(gè)額外的可自定義參數(shù)，以根據(jù)用戶定義的電平和延遲來(lái)表征波形。相關(guān)參數(shù)包括：

(Lvl@delay)：參考點(diǎn)后指定延遲處的電平。

(Time to value)：從開(kāi)始點(diǎn)到指定電平的持續(xù)時(shí)間。

預(yù)設(shè)測(cè)量參數(shù) - 自定義測(cè)量參數(shù)

總結(jié)

配備R&SRTO6-K155 EMC/ESD測(cè)試選件的R&SRTO6示波器是在對(duì)設(shè)備進(jìn)行ESD抗擾度測(cè)試前驗(yàn)證ESD脈沖發(fā)生器的理想選擇。用戶可以信賴卓越的測(cè)量硬件，并依靠預(yù)定義的測(cè)量功能，根據(jù)規(guī)定的容差檢查參數(shù)。通過(guò)靈活的預(yù)定義測(cè)量功能，還可以對(duì)波形進(jìn)行更深入的分析。測(cè)試后可生成報(bào)告。該解決方案是加速大多數(shù)電子產(chǎn)品所必需的ESD抗擾度測(cè)試的絕佳工具。