在物聯(lián)網(wǎng)，毫米波，硅光子，人工智能，汽車電子等技術的推動下，國家大力發(fā)展半導體產(chǎn)業(yè)，中國半導體行業(yè)正迎來新一輪發(fā)展機遇。

而在這些新技術在攻堅突破的同時，全行業(yè)也努力滿足對芯片更高性能、更小尺寸、更低成本等要求，這些無一不讓從業(yè)者面臨著更嚴峻的技術和市場，產(chǎn)業(yè)人才也需和業(yè)界良好對接。芯片作為半導體行業(yè)的關鍵一環(huán)，其測試性能值得全產(chǎn)業(yè)深入探討。

全球半導體業(yè)發(fā)展進入中國時間，“摩爾定律”終點臨近，但半導體產(chǎn)業(yè)的壟斷性卻在加劇，導致新的“不公平”誕生，它并不利于產(chǎn)業(yè)的正常進步。

反而半導體測試領域，相對客戶的選擇反而較少。

測試是對產(chǎn)品一次嚴格的篩選，以提供用戶質(zhì)量合格的產(chǎn)品。

重要性不言而喻。

此時，NI推出：覆蓋實驗室特征分析、晶圓測試、 FT 測試以及 SLT 系統(tǒng)級測試的方案。

不論是設計驗證、晶圓制造、封裝過程中或是封裝完成，針對 RFIC 、混合信號芯片、甚至最新 3DIC 和系統(tǒng)級封裝（ SIP ) 等不同測試類型和趨勢， Nl 通過統(tǒng)一的平臺和業(yè)界領先的儀器技術助您提高測試速度、降低成本。

NI半導體測試系統(tǒng)：STS

NI 的半導體測試系統(tǒng)（ Semiconductor Test System ，筒稱 STS ）提供了可快速部署到生產(chǎn)的測試系統(tǒng)，適用于半導體生產(chǎn)側試環(huán)境此外． PXI 平臺開放式與模塊化的設計，使您可以獲得更強大的計算能力及更豐富的儀器咨源．進一步提升半導體測試效率，降低測試成本

NI提供的半導體測試平臺STS將會是混合信號芯片和MEMS和射頻等芯片在內(nèi)的測試的最優(yōu)選擇。

強大的軟件工具用來開發(fā)、調(diào)試和部署測試程序

NI 半導體模塊可幫助測試工程師開發(fā)、調(diào)試、優(yōu)化、部署和維護半導體測試系統(tǒng)。借助這款針對行業(yè)標準 Test 一 stand 環(huán)境的附加模塊，半導體測試工程師將可獲得一流的測試程序開發(fā)和調(diào)試環(huán)境。?

適用于主流半導體制造環(huán)境

Nl STS 適用于主流半導體制造環(huán)境，比如分選機（ Handler ) /探針（ prober ）集成、標準 Docking （包括 Soft Dock / Hard Dock ）、彈黃探針（ Pogo Pin ）連接、 STDF 數(shù)據(jù)報表生成和系統(tǒng)校準，可輕松集成到生產(chǎn)測試設備。

公司介紹

近40年來，NI一直致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對最嚴峻挑戰(zhàn)。 借助這些解決方案，NI客戶為市場提供了數(shù)十萬種產(chǎn)品，克服了無數(shù)的技術瓶頸，為全人類創(chuàng)造了更美好的生活。 如果您能打開、連接、驅動或啟動某個設備，那很可能就是基于NI技術實現(xiàn)的。