光驅的性能指標

1、傳輸速率

數(shù)據傳輸速率（SustainedDataTransferRate）是CD—ROM光驅最基本的性能指標，該指標直接決定了光驅的數(shù)據傳輸速度，通常以KB/s來計算。最早出現(xiàn)的CD—ROM的數(shù)據傳輸速率只有150KB/s，當時有關國際組織將該速率定為單速，而隨后出現(xiàn)的光驅速度與單速標準是一個倍率關系，比如2倍速的光驅，其數(shù)據傳輸速率為300KB/s，4倍速為600KB/s，8倍速為1200KB/s，12倍速時傳輸速率已達到1800KB/s，依此類推。CD—ROM主要有CLV（恒定線速度）、CAv（恒定角速度）及P—CAV（局部恒定角速度）3種讀盤方式。

其中，CLv技術（ConstantLinemVelocity，恒定線速度）是12倍速以下光驅普遍采用的一種技術。CLV技術指從盤片的內道（內圈）向外道移動過程中，單位時間內讀過的軌道弧線長度相等。由于CD盤片的內環(huán)半徑比外環(huán)小，因此檢測光頭靠近內環(huán)時的旋轉速度自然比靠近外環(huán)時快，也只有這樣才能滿足數(shù)據傳輸速率保持不變這一要求。

CAV技術（ConstantAngularVelocity，恒定角速度）是20倍速以上光驅常用的一種技術。CAV技術的特點是為保持旋轉速度恒定，其數(shù)據傳輸速率是可變的。即檢測光頭在讀取盤片內環(huán)與外環(huán)數(shù)據時，數(shù)據傳輸速率會隨之變化。比如一個20倍速產品在內環(huán)時可能只有10倍速，隨著向外環(huán)移動數(shù)據傳輸速率逐漸加大，直至在最外環(huán)時可達到20倍速。

P－CAV技術（PartialCAV：局部恒定角速度）則是融合了CLV和CAV兩者精華形成的一種技術。當檢測光頭讀盤片的內環(huán)數(shù)據時，旋轉速度保持不變，使數(shù)據傳輸速率得以增加；而當檢測光頭讀取外環(huán)數(shù)據時，則對旋轉速度進行提升。

2、CPU占用時間

CPU占用時間（CPIULoading）指CD—ROM光驅在維持一定的轉速和數(shù)據傳輸速率時所占用CPU的時間。該指標是衡量光驅性能的一個重要指標，從某種意義上講，CPU的占用率可以反映光驅的BIOS編寫能力。優(yōu)秀產品可以盡量減少CPU占用率，這實際上是一個編寫B(tài)IOS的軟件算法問題，當然這只能在質量比較好的盤片上才能反映。如果碰上一些磨損非常嚴重的光盤，CPU占用率自然就會直線上升，如果用戶想節(jié)約時問，就必須選購那些讀“磨損嚴重光盤”的能力較強、CPu占用率較低的光驅。從測試數(shù)據可以看出，在讀質量較好的盤片時，最好的與最差的成績相差不會超過兩個百分點，但是在讀質量不好的盤片時，差距就會增大。

3、高速緩存

這個指標通常會用Cache表示，它的容量大小直接影響光驅的運行速度。其作用就是提供一個數(shù)據緩沖，它先將讀出的數(shù)據暫存起來，然后一次性進行傳送，目的是解決光驅速度不匹配問題。

4、平均訪問時間

平均訪問時間（AverageAccessTime）即“平均尋道時間”，作為衡量光驅性能的一個標準，是指從檢測光頭定位到開始讀盤這個過程所需要的時問，單位是ms，該參數(shù)與數(shù)據傳輸速率有關。

5、容錯性

盡管目前高速光驅的數(shù)據讀取技術已經趨于成熟，但仍有一些產品為了提高容錯性能，采取調大激光頭發(fā)射功率的辦法來達到糾錯的目的，這種辦法的最大弊病就是人為地造成激光頭過早老化，減少產品的使用壽命。

6、穩(wěn)定性

穩(wěn)定性是指一部光驅在較長的一段時間（至少一年）內能保持穩(wěn)定的、較好的讀盤能力。