12款全新器件專為高溫和電磁工作環(huán)境設計,為業(yè)界唯一符合AEC-Q100標準,采樣速率達1Msps的16位逐次逼近寄存器(SAR)。
Microchip Technology Inc.(美國微芯科技公司)今日宣布推出12款全新逐次逼近寄存器(SAR)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)以及專為新型SAR ADC產(chǎn)品系列設計的配套差分放大器,以滿足應用市場對更高速度和更高分辨率模數(shù)轉(zhuǎn)換的需求。MCP331x1(D)-xx系列產(chǎn)品專為高溫和高電磁工作環(huán)境而設計,其中包括業(yè)界唯一一款符合AEC-Q100標準且采樣速率達每秒100萬次(Msps)的16位SAR,可為汽車和工業(yè)應用提供必不可少的可靠性。MCP6D11差分放大器提供低失真、高精度接口,可在系統(tǒng)內(nèi)實現(xiàn)ADC的全部性能。
MCP331x1(D)-xx系列產(chǎn)品分辨率范圍包括12、14和16位,速度選項范圍從每秒50萬次采樣(ksps)至1 Msps不等,可為開發(fā)人員提供適合其設計的ADC。該系列ADC能夠在1.8V固定低模擬電源電壓(AVDD)及低電流運行(1Msps下的典型有效電流為1.6 mA,500 ksps下為1.4 mA),同時具有超低功耗及滿量程輸入范圍。
以上器件支持寬廣的數(shù)字I/O接口電壓(DVIO))范圍(1.7V - 5.5V),可直接與Microchip PIC32、AVR?和基于Arm?的單片機和微處理器等大多數(shù)主器件連接,無需使用外部電壓電平移位器。MCP331x1(D)-xx系列包含單端和差分輸入電壓測量選項,能夠為系統(tǒng)實現(xiàn)兩個任意波形之間的差異的轉(zhuǎn)換。AEC-Q100認證系列在惡劣環(huán)境下依然能夠提供可靠的性能,是高精度數(shù)據(jù)采集、電動汽車電池管理、電機控制和開關(guān)電源等應用的理想選擇。
在不引入額外噪音和失真的情況下,將小模擬信號正確連接到高速、高分辨率ADC是一項巨大的挑戰(zhàn)。 Microchip的MCP6D11差分放大器專為應對這一挑戰(zhàn)而設計,為正確驅(qū)動ADC提供低失真和高精度的接口。
Microchip混合及線性信號產(chǎn)品部副總裁Bryan J. Liddiard表示:“ADC市場和應用的發(fā)展需要更高分辨率、更高速度和更高精度。此外,更低的功耗和更小的封裝也非常重要,我們新推出的這些產(chǎn)品可滿足以上全部需求?!?/p>
開發(fā)工具
MCP331x1D-XX評估工具包可用于演示MCP331x1D-XX SAR ADC系列器件的性能。該評估工具包含有:
·MCP331x1D評估板
·用于數(shù)據(jù)采集的PIC32MZ EF MCU Curiosity開發(fā)板
·SAR ADC 實用工具 PC圖形用戶界面(GUI)
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SAR
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差分放大器
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