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4406和4435雙橋原理圖;場(chǎng)效應(yīng)管到達(dá)雪崩電流會(huì)怎么樣?

元器件對(duì)應(yīng)的電子大雜燴 ? 2019-04-28 19:24 ? 次閱讀
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4406雙橋原理圖如下:

4406.png

4406-.png4406--.png4406---.png

4435雙橋原理圖如下:

4435.png

4435-.png

4435--.png

4435---.png


場(chǎng)效應(yīng)管到達(dá)雪崩電流會(huì)怎么樣?

漏極電壓持續(xù)升高,則漏極體二極管由于雪崩倍增產(chǎn)生載流子,而進(jìn)入持續(xù)導(dǎo)通模式,此時(shí),全部的漏極電流(此時(shí)即雪崩電流)流過體二極管,而溝道電流為零。

在開關(guān)管雪崩擊穿過程中,能量集中在功率器件各耗散層和溝道中,在寄生三極管激活導(dǎo)通發(fā)生二次擊穿時(shí),MOSFET會(huì)伴隨急劇的發(fā)熱現(xiàn)象,這是能量釋放的表現(xiàn)。


雪崩電流在功率MOS管的數(shù)據(jù)表中表示為IAV,雪崩能量代表功率MOS管抗過壓沖擊的能力。在測(cè)試過程中,選取一定的電感值,然后將電流增大,也就是功率MOS管開通的時(shí)間增加,然后關(guān)斷,直到功率MOSFET損壞,對(duì)應(yīng)的最大電流值就是最大的雪崩電流。


標(biāo)稱的IAV通常要將前面的測(cè)試值做70%或80%降額處理,因此它是一個(gè)可以保證的參數(shù)。一些功率MOS管供應(yīng)商會(huì)對(duì)這個(gè)參數(shù)在生產(chǎn)線上做100%全部檢測(cè),由于有降額,因此不會(huì)損壞器件。


留意:測(cè)量雪崩能量時(shí),功率MOS管工作在UIS非鉗位開關(guān)狀態(tài)下,因此功率MOSFET不是工作在放大區(qū),而是工作在可變電阻區(qū)和截止區(qū)。因此最大的雪崩電流IAV通常小于最大的連續(xù)的漏極電流值ID。


采用的電感值越大,雪崩電流值越小,但雪崩能量越大,生產(chǎn)線上需要測(cè)試時(shí)間越長,生產(chǎn)率越低。電感值太小,雪崩能量越小。目前低壓的功率MOS管通常取0.1mH,此時(shí),雪崩電流相對(duì)于最大的連續(xù)的漏極電流值ID有明顯的改變,而且測(cè)試時(shí)間比較合適范圍。
















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