EMI測(cè)試過(guò)程中LISN作用是什么？

閱讀全文

電磁兼容(100111) 電磁兼容(100111)
測(cè)試系統(tǒng)(63680) 測(cè)試系統(tǒng)(63680)
LISN(13967) LISN(13967)

評(píng)論

蘋(píng)果對(duì)外展示iPhone6測(cè)試工廠，測(cè)試過(guò)程堪稱(chēng)嚴(yán)苛

針對(duì)近期iPhone6容易變彎的事實(shí)，蘋(píng)果罕有的向外媒開(kāi)放了測(cè)試工廠，展示了整個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)。繼此前發(fā)布聲明之后再向外媒展示測(cè)試環(huán)節(jié)的時(shí)候蘋(píng)果再次強(qiáng)調(diào)iPhone6是非常堅(jiān)固的產(chǎn)品。##蘋(píng)果罕見(jiàn)地向外媒開(kāi)放測(cè)試工廠。##iPhone6測(cè)試過(guò)程圖解。

2014-09-28 10:43:13

9577

4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測(cè)試過(guò)程中的挑戰(zhàn)分析

本文旨在對(duì)4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測(cè)試過(guò)程中會(huì)遇到的一些挑戰(zhàn)進(jìn)行分析。這些挑戰(zhàn)既有技術(shù)方面的，也有經(jīng)濟(jì)方面的。了解哪些缺陷需要檢測(cè)有助于我們?cè)趯?shí)際的生產(chǎn)環(huán)境中采用更好的測(cè)試

2019-07-18 06:22:43

EMI知識(shí)連載第一期----規(guī)范與測(cè)量

僅為 159nA。三、傳導(dǎo)EMI測(cè)試LISN 測(cè)量 EUT 產(chǎn)生的傳導(dǎo)發(fā)射。它是插入 EMI 源和電源之間測(cè)量點(diǎn)的接口，確保 EMI 測(cè)量結(jié)果的可重復(fù)性和可比較性。圖 3 所示為根據(jù) CISPR

2021-09-16 07:00:00

LISN阻抗

電磁干擾（EMI）的測(cè)試工作電路的一個(gè)熟悉的位。人們會(huì)使用各種LISN之間存在差異，但僅僅采用其中一種并實(shí)際計(jì)算出被測(cè)單元UUT與實(shí)際電力線的阻抗可能是有益的，而實(shí)際電力線的線路阻抗是假定的。變量

2018-07-25 18:07:47

lisn的作用有哪些

lisn中的電子被動(dòng)元件的數(shù)值選?。ň哂兄笇?dǎo)意義）實(shí)際工作時(shí)的lisn電路lisn的作用作用解釋提供50Ω標(biāo)準(zhǔn)阻抗在相線和安全地線（綠線）之間、中線和安全地線之間提供一個(gè)穩(wěn)定的阻抗（50Ω）防止電網(wǎng)上的外部傳導(dǎo)噪聲干擾測(cè)量在傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量頻率（150kHz~30MHz）被滿(mǎn)足。

2021-10-29 07:48:56

測(cè)試過(guò)程中芯片表面打火？？？

在雙極測(cè)試過(guò)程中經(jīng)常出現(xiàn)表面打火，將芯片表面的雙極擊穿了，測(cè)試電壓在600--800v.請(qǐng)問(wèn)哪位大俠有解決的方法嗎？

2012-09-12 21:41:51

ADS1216芯片調(diào)試過(guò)程中數(shù)據(jù)采集一直不對(duì)

有誰(shuí)用過(guò)ADS1216這顆芯片啊，在調(diào)試過(guò)程中數(shù)據(jù)采集一直不對(duì)，不知道該如何配置它寄存器，具體怎么操作的，誰(shuí)有demo或相關(guān)的例子程序?。?/div>

2019-02-27 14:42:20

AD芯片在調(diào)試過(guò)程中遇到的問(wèn)題，應(yīng)該怎么解決？

AD芯片在調(diào)試過(guò)程中遇到的問(wèn)題，應(yīng)該怎么解決？一款TI/國(guó)半的超高速ADC調(diào)試經(jīng)驗(yàn)分享

2021-04-09 06:41:24

ASEMI三相整流模塊MDS50HB160的原理和作用是什么

性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）。測(cè)試中使用的LISN結(jié)構(gòu)的主要作用是減少電網(wǎng)阻抗對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，隔離電網(wǎng)側(cè)的干擾。由于LISN的隔離作用，電網(wǎng)可以看作是只有基波電位和內(nèi)部阻抗的電源。

2021-08-19 15:33:53

CUBEIDE調(diào)試過(guò)程中，如何將數(shù)組仲的數(shù)據(jù)拷貝到電腦？

請(qǐng)問(wèn)，有什么辦法可以在CUBEIDE 調(diào)試過(guò)程中，將數(shù)組的數(shù)據(jù)拷貝到電腦上去？

2025-09-09 07:20:49

INA321測(cè)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)阻抗變化比較大，為什么?

測(cè)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)阻抗變化比較大，有時(shí)候是40mΩ，有的時(shí)候顯示70mΩ，感覺(jué)差別比較大，不知道是什么原因

2024-08-20 06:56:02

NFC設(shè)備生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中應(yīng)考慮的因素

正確。在開(kāi)發(fā)測(cè)試過(guò)程中，我們可以降低測(cè)試儀的磁場(chǎng)強(qiáng)度等級(jí)和調(diào)制深度，以確保任何與靈敏度、發(fā)送電平或損耗有關(guān)的缺陷都能被發(fā)現(xiàn)。當(dāng)然，我們也可以在生產(chǎn)測(cè)試中(上述連通性測(cè)試期間) 采用同樣的方法。此外

2014-05-19 19:25:45

NRF51822在調(diào)試過(guò)程中遇到哪些問(wèn)題呢

NRF51822在調(diào)試過(guò)程中遇到哪些問(wèn)題呢？如何去解決這些問(wèn)題呢？

2022-01-26 07:02:59

OBC與DC-DC開(kāi)發(fā)測(cè)試過(guò)程

Converter單件開(kāi)發(fā)及整車(chē)開(kāi)發(fā)測(cè)試過(guò)程中，都需要對(duì)其進(jìn)行功能和性能方面進(jìn)行全面的測(cè)試。目前，很多客戶(hù)將OBC充電、OBC放電、DC-DC Converter（以下簡(jiǎn)稱(chēng)DCDC）功能集成到一起，暫且將

2021-09-17 08:09:36

PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中的EMC和EMI模擬仿真

，不可避免地會(huì)引入EMC（電磁兼容）和EMI（電磁干擾）的問(wèn)題，所以對(duì)電子產(chǎn)品的電磁兼容分析顯得特別重要。與IC設(shè)計(jì)相比，PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中的EMC分析和模擬仿真是一個(gè)薄弱環(huán)節(jié)。　

2019-07-22 06:45:44

RS預(yù)兼容EMI測(cè)試解決方案

，和設(shè)備制造商提供有效的幫助，使研發(fā)人員可以提前采取相應(yīng)的措施避免以后重復(fù)進(jìn)行昂貴的認(rèn)證測(cè)試。多樣的測(cè)試能力，高精度和快速的自動(dòng)測(cè)量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的首選。一、主要特點(diǎn)1、產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程中

2019-10-15 14:29:54

SRIO高速大量數(shù)據(jù)傳輸測(cè)試，在測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生錯(cuò)誤，請(qǐng)問(wèn)可以通過(guò)那些寄存器來(lái)讀取錯(cuò)誤狀態(tài)？

現(xiàn)在對(duì)SRIO進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)數(shù)據(jù)傳輸測(cè)試：時(shí)間：40小時(shí)、速率：2.5G模式：x4一般來(lái)說(shuō)，多大的誤碼率是業(yè)界正常范圍？在測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生錯(cuò)誤，可以通過(guò)那些寄存器來(lái)讀取錯(cuò)誤狀態(tài)？在C6657芯片內(nèi)部的SRIO模塊對(duì)于傳輸錯(cuò)誤有硬件校驗(yàn)機(jī)制嗎？若有，那些相關(guān)寄存器進(jìn)行控制和狀態(tài)讀取？

2018-08-06 08:46:18

STM32F103VET6芯片重復(fù)上電測(cè)試過(guò)程中電流異常

我這邊測(cè)試出現(xiàn)這個(gè)情況：采用STM32F103VET6芯片，整個(gè)板子正常工作時(shí)電流為20mA; 在重復(fù)上電測(cè)試過(guò)程中，出現(xiàn)過(guò)整個(gè)板子工作電流在40-50mA,不等情況，在這個(gè)情況下，有部分功能不能正常工作。出現(xiàn)頻率大約在30次中出現(xiàn)個(gè)一二次的樣子。

2019-02-27 09:47:25

STM32F4使用了rt Thread創(chuàng)建了F4的工程，測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)死機(jī)情況怎么解決？

前段時(shí)間工作中，使用了rt Thread創(chuàng)建了F4的工程，待所有板級(jí)驅(qū)動(dòng)和業(yè)務(wù)寫(xiě)完后開(kāi)始測(cè)試產(chǎn)品。其中F4芯片一路串口接GPS模塊，進(jìn)行7*24h長(zhǎng)期測(cè)試，測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)死機(jī)情況。再次測(cè)試仍會(huì)復(fù)現(xiàn)。

2024-04-02 06:26:56

STM32在調(diào)試過(guò)程中頭哪些常見(jiàn)的問(wèn)題

STM32在調(diào)試過(guò)程中頭哪些常見(jiàn)的問(wèn)題？怎樣去解決這些問(wèn)題呢？

2021-11-03 06:42:46

STM32的CAN總線調(diào)試過(guò)程中的一些小總結(jié)

調(diào)試過(guò)程中的一些小總結(jié)

2021-08-19 06:06:42

STM32調(diào)試過(guò)程中常見(jiàn)的問(wèn)題有哪些

STM32調(diào)試過(guò)程中常見(jiàn)的問(wèn)題及解決方法一、在“Debug選項(xiàng)卡”下設(shè)置好仿真器的類(lèi)型后，下載程序時(shí)卻提示“No ULINK Device found.” 解決辦法： Keil MDK默認(rèn)

2021-08-06 06:12:27

TLV320AIC3254EVM-U開(kāi)發(fā)板測(cè)試過(guò)程中突然不能使用，總是燒錄失敗的原因？

我用的TLV320AIC3254EVM-U開(kāi)發(fā)板，測(cè)試過(guò)程中突然不能使用，然后我重新刷一下固件，發(fā)現(xiàn)總是燒錄失敗，求解??！

2024-10-17 06:50:49

bootloader文件的作用是什么？

啟動(dòng)文件的作用是什么?bootloader文件的作用是什么？stm32的啟動(dòng)方式有哪些？stm32啟動(dòng)過(guò)程是怎樣的？

2022-01-27 07:42:54

tlv320aic3254evm-m評(píng)估板進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試過(guò)程中燒錄了內(nèi)部程序后就無(wú)法識(shí)別了，為什么？

我用的tlv320aic3254evm-m評(píng)估板進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試過(guò)程中燒錄了內(nèi)部程序，然后我就無(wú)法識(shí)別這個(gè)評(píng)估板了，折騰了一整天也不知道怎么回事？如果我想重新刷一下里面固件，需要怎么做呢？

2024-10-18 07:26:58

一文讀懂EMI的傳播過(guò)程.

EMI是電子電路設(shè)計(jì)過(guò)程中普遍的問(wèn)題，一直在尋找能夠完全消除或降低電磁干擾方法。想要完全的消除EMI的干擾，首先需要的就是了解EMI是什么，它的傳播過(guò)程是怎么樣的，下面對(duì)EMI的傳播過(guò)程進(jìn)行一個(gè)大

2020-10-21 11:36:41

為什么nulink會(huì)在調(diào)試過(guò)程中時(shí)不時(shí)的中斷？

為啥nulink 會(huì)在調(diào)試過(guò)程中時(shí)不時(shí)的中斷？是不是要設(shè)置什么？

2024-01-17 06:52:23

為什么你的示波器抓不到調(diào)試過(guò)程中的異常信號(hào)呢？

如何讓您在調(diào)試中異常信號(hào)一覽無(wú)余呢？為什么你的示波器抓不到調(diào)試過(guò)程中的異常信號(hào)呢？

2021-04-29 06:27:18

使用CCS的過(guò)程中,延時(shí)不起作用

在使用CCS的過(guò)程中,我發(fā)現(xiàn)在有關(guān)于有軟件延時(shí)的程序中會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題,感覺(jué)延時(shí)沒(méi)起到作用

2018-10-18 11:25:27

使用keil調(diào)試過(guò)程中開(kāi)啟看門(mén)狗就報(bào)錯(cuò)怎么解決？

1.使用keil調(diào)試過(guò)程中，不可以開(kāi)啟看門(mén)狗，不然會(huì)報(bào)錯(cuò)：nu_Link ice:cmderror-get register data error2.官方方法，沒(méi)有深入嘗試，目前的解決方法

2021-11-22 07:29:48

單片機(jī)中斷的作用是什么？處理過(guò)程是怎樣的？

單片機(jī)中斷的作用是什么？處理過(guò)程是怎樣的？

2021-11-01 07:07:57

在繪制原理圖過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)了三個(gè)電阻相互連接的電路，請(qǐng)問(wèn)一下它們的作用是分流嗎？

在繪制原理圖過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)了三個(gè)電阻相互連接的電路，請(qǐng)問(wèn)一下它們的作用是分流吧，基礎(chǔ)薄弱，請(qǐng)莫見(jiàn)笑

2016-10-11 15:41:39

基于示波器的EMI輻射干擾測(cè)試

的頻率，方向，波長(zhǎng)。而且因?yàn)殡姶艌?chǎng)無(wú)法進(jìn)入密閉的空間，在抗擾室測(cè)試的汽車(chē)部件在測(cè)試過(guò)程中能夠接收精確且高度可控的電磁波。同時(shí)，電磁波也無(wú)法離開(kāi)干擾室，用于測(cè)試的測(cè)量?jī)x器以及在抗擾室外操控的工程師能夠免于

2019-06-10 08:23:39

安泰測(cè)試分享~R&S預(yù)兼容EMI測(cè)試解決方案

，使研發(fā)人員可以提前采取相應(yīng)的措施避免以后重復(fù)進(jìn)行昂貴的認(rèn)證測(cè)試。多樣的測(cè)試能力，高精度和快速的自動(dòng)測(cè)量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的首選。主要特點(diǎn)l 產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程中理想的EMI診斷工具l 可靠

2019-11-19 09:18:21

我用KEIL2編程調(diào)試過(guò)程中輸入SMOD無(wú)法編譯

本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:55 編輯大家好，我今天在做51單片機(jī)串口調(diào)試過(guò)程中，遇到一個(gè)問(wèn)題，設(shè)置串口波特率那里，本來(lái)輸入SMOD=0；表示串口波特率不加倍，可惜我輸入這條指令無(wú)法編譯，請(qǐng)問(wèn)這是怎么回事？

2012-12-12 18:37:15

晶振的作用是什么？

能夠出現(xiàn)機(jī)械力的。我們?cè)诹私饩д竦臅r(shí)候，需要根據(jù)其材質(zhì)與性狀進(jìn)行對(duì)比，對(duì)于機(jī)電設(shè)備來(lái)說(shuō)，在運(yùn)作的過(guò)程中，往往是會(huì)出現(xiàn)機(jī)電效應(yīng)的。晶振作用是什么？大家也可以根據(jù)重要的特征進(jìn)行分析，比如其熱膨脹系數(shù)、石英

2016-08-08 11:29:48

靈動(dòng)微MCU測(cè)試過(guò)程中確保頻率校準(zhǔn)方法分享

靈動(dòng)微MCU測(cè)試過(guò)程中確保頻率校準(zhǔn)方法

2020-12-31 06:55:28

燒錄過(guò)程中如何解決.out文件的問(wèn)題

用的是MSP430G2553，為了測(cè)試LED程序。燒錄過(guò)程中發(fā)現(xiàn)無(wú)法實(shí)現(xiàn)，由于對(duì)話框中所示：.out couldn't open. 請(qǐng)問(wèn)各位：1，如何解決.out文件的問(wèn)題2，.ccxml目標(biāo)文件是不是必須設(shè)置？它的作用是什么？初學(xué)者，時(shí)間較緊，有些信息可能自己沒(méi)有認(rèn)真去找，麻煩各位解答多謝

2019-06-12 12:43:47

用vca821做測(cè)試，發(fā)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程中芯片會(huì)發(fā)燙，這是什么原因呢？

我最近在用vca821做測(cè)試，發(fā)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程中芯片會(huì)發(fā)燙，但是工作狀態(tài)似乎有是正常的。請(qǐng)問(wèn)這是什么原因呢？

2024-08-23 08:18:03

用示波器測(cè)試過(guò)程中探頭電阻在故障分析中的影響

我們的電路板出現(xiàn)了問(wèn)題，在定位問(wèn)題的過(guò)程中通常會(huì)用到萬(wàn)用表、示波器等測(cè)試工具，這些設(shè)備在測(cè)試過(guò)程中自身的阻抗是需要考慮的，比如在測(cè)電流的時(shí)候要考慮萬(wàn)用表自身的電阻，示波器探頭自身的電阻，下面就是一個(gè)

2022-01-11 07:52:05

記錄一次STM32H743 CANFD調(diào)試過(guò)程中的一次BUG

記錄一次STM32H743 CANFD調(diào)試過(guò)程中的一次BUG

2021-08-13 06:30:35

請(qǐng)問(wèn)nrf24l01傳輸過(guò)程中結(jié)束符有什么作用？

nrf24l01傳輸過(guò)程中結(jié)束符有什么作用？

2023-10-23 07:31:57

附加相位噪聲的測(cè)試過(guò)程是怎樣的？有什么注意事項(xiàng)？

本文簡(jiǎn)單介紹了相位噪聲的定義，詳細(xì)介紹了附加相位噪聲的測(cè)試過(guò)程，給出了實(shí)際的測(cè)試結(jié)果，指出了附加相位噪聲測(cè)試過(guò)程中的一些注意事項(xiàng)，希望對(duì)附加相位噪聲測(cè)試人員有一定的借鑒意義。

2021-05-11 06:50:14

動(dòng)態(tài)模型在軟件系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程中的應(yīng)用研究

系統(tǒng)測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)，系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程的動(dòng)態(tài)模型有助于更好地理解和分析系統(tǒng)行為，做出正確的判斷和決策；相對(duì)于已有的軟件測(cè)試模型，通過(guò)對(duì)錯(cuò)誤發(fā)現(xiàn)效率的

2009-07-16 11:58:55

電源設(shè)計(jì)調(diào)試過(guò)程中的異?，F(xiàn)象分析

調(diào)試過(guò)程中所看到的一些異?，F(xiàn)象，以及后來(lái)的解決辦法。其實(shí)很多工程師認(rèn)為設(shè)計(jì)電源是非常重經(jīng)驗(yàn)的一門(mén)技術(shù)，要見(jiàn)多識(shí)廣。這種經(jīng)

2010-10-09 10:49:18

1955

LED測(cè)量過(guò)程中光學(xué)和熱學(xué)問(wèn)題解決方法

LED測(cè)試過(guò)程中所遇到的幾個(gè)問(wèn)題 LED測(cè)試隨方向性變化的問(wèn)題 LED光學(xué)特性隨溫度變化的問(wèn)題

2011-11-23 14:21:18

TDR測(cè)試過(guò)程靜電危害及其預(yù)防

文章簡(jiǎn)要介紹靜電產(chǎn)生原理及其危害，詳細(xì)分析TDR儀器主體結(jié)構(gòu)及測(cè)試過(guò)程靜電危害，針對(duì)靜電產(chǎn)生環(huán)節(jié)采取預(yù)防措施，并初步取得成效。

2011-12-16 11:24:43

4181

LISN在電力電子設(shè)備EMI測(cè)試中的應(yīng)用

電力電子設(shè)備產(chǎn)生的電磁發(fā)射通常在較低頻率范圍內(nèi)，根據(jù)GB/T6133.1 中關(guān)于電氣設(shè)備性能的測(cè)試要求，通常只需要測(cè)量其傳導(dǎo)干擾。本文詳述了在電力設(shè)備EMI 測(cè)試中的重要輔助設(shè)備電源

2011-12-22 15:58:10

219

電腦電源中，光耦的作用是什么？

電腦電源中，光耦的作用是什么？

2012-06-25 11:47:07

3846

變頻器調(diào)試過(guò)程中的注意事項(xiàng)及其5個(gè)因素的介紹

變頻器的調(diào)試工作相對(duì)較復(fù)雜，一般設(shè)備使用廠家很難獨(dú)立完成，基本上都會(huì)要求變頻器生產(chǎn)廠家來(lái)協(xié)助其配合完成整個(gè)設(shè)備的調(diào)試工作。所以在變頻器的調(diào)試過(guò)程中，不論是使用廠家還是生產(chǎn)廠家都要考慮和注意這些

2017-11-01 09:00:03

工業(yè)軟件現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試過(guò)程及其測(cè)試數(shù)據(jù)生成方法

在工業(yè)軟件的用戶(hù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中，可能由于操作風(fēng)險(xiǎn)、用戶(hù)生產(chǎn)限制等約束而導(dǎo)致測(cè)試不充分，針對(duì)實(shí)踐中的難點(diǎn)提出新的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試過(guò)程及其測(cè)試數(shù)據(jù)生成方法。定義了測(cè)試拆分子集及相關(guān)屬性概念，根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)因素

2017-11-30 10:08:53

壓力傳感器測(cè)試過(guò)程的可靠性概念概述[圖]

根據(jù)壓力傳感器的實(shí)際測(cè)試過(guò)程中的各個(gè)環(huán)節(jié)已經(jīng)或可能產(chǎn)生的影響，獲取壓力傳感器真實(shí)性能輸出數(shù)據(jù)的因素，采用可靠性的分析方法對(duì)其進(jìn)行分析；提示了測(cè)試過(guò)程中影響傳感器輸出的規(guī)律，減小傳感器因在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的誤差；并為深入研究壓力傳感器提供一條新的思路，為研究新的壓力傳感器提供一定的理論依據(jù)。

2018-01-18 11:21:59

4360

關(guān)于PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中的EMC/EMI仿真淺析

應(yīng)用就非常重要了。但目前國(guó)內(nèi)國(guó)際的普遍情況是，與IC設(shè)計(jì)相比，PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中的EMC分析和模擬仿真是一個(gè)薄弱環(huán)節(jié)。同時(shí)，EMC仿真分析目前在PCB設(shè)計(jì)中逐漸占據(jù)越來(lái)越重要的角色。

2018-09-16 11:35:25

6513

單片機(jī)調(diào)試過(guò)程中的調(diào)試組件導(dǎo)致的問(wèn)題

單片機(jī)調(diào)試過(guò)程中，經(jīng)常會(huì)遇到類(lèi)似第3只眼的問(wèn)題。何謂第3只眼呢？

2018-12-30 17:12:00

7919

淺析STM32調(diào)試過(guò)程中的幾個(gè)相關(guān)問(wèn)題

總的來(lái)講，單片機(jī)調(diào)試是單片機(jī)開(kāi)發(fā)工作必不可少的環(huán)節(jié)。不管你愿不愿意，調(diào)試過(guò)程中總會(huì)有各種不期而遇的問(wèn)題出現(xiàn)在我們面前來(lái)磨礪我們。這里分享幾點(diǎn)STM32調(diào)試過(guò)程中與開(kāi)發(fā)工具及IDE有關(guān)的幾個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題，以供參考。

2019-01-21 13:50:58

6078

自動(dòng)測(cè)量模式將成為預(yù)兼容EMI測(cè)試研發(fā)的首選

的措施避免以后重復(fù)進(jìn)行昂貴的認(rèn)證測(cè)試。多樣的測(cè)試能力，高精度和快速的自動(dòng)測(cè)量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的首選。傳導(dǎo)EMI測(cè)試所需的線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN) LISN將干擾信號(hào)從被測(cè)設(shè)備耦合到測(cè)試設(shè)備，同時(shí)，在所要求的頻帶內(nèi)提

2020-07-23 16:48:17

741

鋰離子電池測(cè)試過(guò)程的誤差分析

部分動(dòng)力電池企業(yè)將電池送外檢測(cè)，不同結(jié)構(gòu)給出的結(jié)果往往也存在差異，更別提測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)的各種數(shù)據(jù)波動(dòng)等異常。

2019-12-02 17:19:26

7250

如何在電磁干擾室中進(jìn)行EMI干擾測(cè)試

輻射抗擾室是一個(gè)完全密封的傳導(dǎo)空間，是一個(gè)理想的EMI測(cè)試環(huán)境，因?yàn)樗軌蛲耆刂瓶臻g中產(chǎn)生的電磁場(chǎng)的頻率，方向，波長(zhǎng)。而且因?yàn)殡姶艌?chǎng)無(wú)法進(jìn)入密閉的空間，在抗擾室測(cè)試的汽車(chē)部件在測(cè)試過(guò)程中能夠接收精確且高度可控的電磁波。

2020-05-04 17:27:00

3387

光纖溫度傳感器在微波食品測(cè)試過(guò)程中的應(yīng)用

不僅快捷還可以最大限度地保留食物中的營(yíng)養(yǎng)成分。于是有了微波食品。國(guó)家科學(xué)研究委員會(huì)的研究人員測(cè)量了用蒸、高壓鍋、煮或微波爐烹煮的椰菜中的抗氧化劑含量。通過(guò)測(cè)試發(fā)現(xiàn)，在蒸的過(guò)程中，蔬菜中的抗氧化劑幾乎沒(méi)有被

2020-04-21 09:01:38

2651

六線制稱(chēng)重傳感器在測(cè)試過(guò)程中的注意事項(xiàng)都有哪些

六線制稱(chēng)重傳感器在測(cè)試過(guò)程中的需要注意的地方，六線制稱(chēng)重傳感器實(shí)際上是一種將質(zhì)量信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓽y(cè)量的電信號(hào)輸出的裝置。用傳感器應(yīng)先要考慮傳感器所處的實(shí)際工作環(huán)境，這點(diǎn)對(duì)正確選用稱(chēng)重傳感器至關(guān)重要

2020-08-25 15:50:49

1598

電源設(shè)計(jì)過(guò)程中器件和材料的測(cè)試和分析

電源資料：電源設(shè)計(jì)過(guò)程中器件和材料的測(cè)試和分析資料

2020-12-15 15:18:20

鎖具套裝在使用過(guò)程中它起到的作用是什么

現(xiàn)在的工業(yè)經(jīng)濟(jì)時(shí)代發(fā)展之下，對(duì)于企業(yè)安全管理生產(chǎn)能力自然環(huán)境會(huì)有一個(gè)更高的要求，而在中國(guó)這樣的情況下，也就需要使用到鎖具套裝，在這種鎖具的使用教學(xué)過(guò)程中，也有我們自己的具體實(shí)際作用，那么它都是有

2020-12-25 11:22:49

1070

EMI濾波電路的作用是什么

EMI濾波器主要作用是濾除外界電網(wǎng)的高頻脈沖對(duì)電源的干擾，同時(shí)也起到減少開(kāi)關(guān)電源本身對(duì)外界的電磁干擾。實(shí)際上它是利電感和電容的特性，使頻率為50Hz左右的交流電可以順利通過(guò)濾波器，但高于50Hz以上

2021-05-18 10:09:23

8746

EMI濾波電路的作用是什么

2021-08-10 17:44:04

7538

DCDC開(kāi)關(guān)電源電磁兼容（二）什么是LISN（有內(nèi)部電路詳細(xì)解釋?zhuān)?/a>

2021-10-22 21:06:05

工程編譯和OAD測(cè)試過(guò)程中的注意事項(xiàng)

, 由于很多細(xì)節(jié)沒(méi)有說(shuō)明, 用戶(hù)使用過(guò)程可能出錯(cuò). 這里將結(jié)合TI CC1310 SDK 1.60.00.21 版本(http://www.ti.com.cn/tool/cn/simplelink-cc13x0-sdk), 講解在工程編譯和OAD測(cè)試過(guò)程中的注意事項(xiàng)…

2021-12-14 15:36:27

1720

線束測(cè)試儀在聲吶設(shè)備生產(chǎn)過(guò)程中的應(yīng)用

與電纜的其他芯線依次接觸并測(cè)試絕緣情況(每條芯線測(cè)試需要保壓 3~5 s)。由于電纜數(shù)量多，且需反復(fù)測(cè)試，以 37 芯電纜為例，僅一次絕緣就需測(cè)試 600 余次，測(cè)試過(guò)程中不允許出現(xiàn)漏測(cè)，600 余次

2022-02-10 11:49:57

767

RT-Thread上的單元測(cè)試：什么是單元測(cè)試？單元測(cè)試的作用是什么？

RT-Thread上的單元測(cè)試：什么是單元測(cè)試？單元測(cè)試的作用是什么？ ? ? ? ? ? 審核編輯：彭靜

2022-05-27 16:06:20

2306

電磁流量計(jì)調(diào)試過(guò)程中存在的問(wèn)題以及解決措施

對(duì)流量計(jì)內(nèi)部設(shè)置參數(shù)進(jìn)行仔細(xì)檢查，還需要調(diào)試顯示數(shù)據(jù)情況和信號(hào)反饋情況，查看它們是否處于正常運(yùn)行狀態(tài)下。接下來(lái)就詳細(xì)介紹電磁流量計(jì)調(diào)試過(guò)程中存在的問(wèn)題以及解決措施。

2022-10-27 09:08:49

2082

滲透測(cè)試過(guò)程中所使用的抓包方法

本篇只是簡(jiǎn)單分享平常筆者滲透測(cè)試過(guò)程中所使用的抓包方法，后面會(huì)繼續(xù)更新其他以及安卓端的抓包方法，比較適合沒(méi)理解過(guò)這方面的新手作參考。

2023-02-01 15:41:51

2646

解決測(cè)試過(guò)程中多路供電的難題

■?■ 通信、人工智能、云計(jì)算、智能終端等產(chǎn)品功能越來(lái)越強(qiáng)大、電路也越來(lái)越復(fù)雜，在這些產(chǎn)品的測(cè)試過(guò)程中，往往需要多路的供電。與此同時(shí)，每個(gè)供電通道的電壓和電流規(guī)格各異，上電或下電過(guò)程電壓斜率、時(shí)序

2023-02-15 16:25:04

1673

EMI測(cè)試中電流探頭如何校準(zhǔn)

EMI(電磁干擾)測(cè)試是為了確保電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中，不會(huì)對(duì)周?chē)渌O(shè)備造成電磁波干擾并影響正常使用的測(cè)試。在此測(cè)試中，電流探頭是非常重要的工具，其準(zhǔn)確性直接影響到測(cè)試結(jié)果的可靠性。電流探頭的校準(zhǔn)

2023-05-30 09:17:50

1630

防靜電ESD測(cè)試過(guò)程展示

點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我們防靜電ESD測(cè)試過(guò)程展示本期內(nèi)容為ESD的測(cè)試過(guò)程，先來(lái)看一下規(guī)格書(shū)中有哪些參數(shù)VRWM和IT是固定的，可用作設(shè)置參考，所以我們要測(cè)試的就是VBIPPVCIRC和VESD。測(cè)試前

2021-09-30 17:18:58

2977

淺析EMC認(rèn)證過(guò)程中的整改方法

何為EMC整改？EMC整改就是指產(chǎn)品在功能調(diào)試或EMC測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)問(wèn)題后所采取的彌補(bǔ)手段。首先我們從EMC認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目說(shuō)起，EMC認(rèn)證測(cè)試主要包含兩大項(xiàng)：EMI（干擾）和EMS（產(chǎn)品抗干擾和敏感度

2023-02-13 11:50:37

3102

STMCU應(yīng)用過(guò)程中與電源相關(guān)的案例分享

我們?cè)趶氖耂TM32單片機(jī)的應(yīng)用開(kāi)發(fā)及調(diào)試過(guò)程中，往往會(huì)碰到各類(lèi)異常。其中有不少比例的問(wèn)題跟電源有關(guān)。

2023-08-04 14:52:00

1202

如何避免直線模組在加工過(guò)程中的變形

直線模組在加工過(guò)程中，模組底座會(huì)比較容易變形，這是主要是因?yàn)榱Φ?b class="flag-6" style="color: red">作用是相互的，任何物體在受力的狀態(tài)下都會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力，直線模組變形會(huì)影響模組的直線度和平行度等，長(zhǎng)度越長(zhǎng)的模組造成的影響就越大，不僅影響裝配，而且還會(huì)影響整個(gè)模組的正常運(yùn)行。

2023-03-20 18:35:47

1172

如何解決車(chē)載部品測(cè)試過(guò)程中峰值電流不足的問(wèn)題？

如何解決車(chē)載部品測(cè)試過(guò)程中峰值電流不足的問(wèn)題？隨著汽車(chē)電子系統(tǒng)的不斷發(fā)展和普及，車(chē)載部品的測(cè)試過(guò)程變得更加復(fù)雜和嚴(yán)峻。其中一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題是峰值電流不足。峰值電流不足可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確、設(shè)備損壞

2023-11-23 10:33:05

1149

為什么需要 EMI 預(yù)認(rèn)證測(cè)試？

EMI是英文ElectroMagneticlnterference的縮寫(xiě)，是電磁干擾的意思。電源是發(fā)生EMI的重要來(lái)源。電源電路中EMI電路的作用是濾除由電網(wǎng)進(jìn)來(lái)的各種干擾信號(hào)，防止電源開(kāi)關(guān)電路形成

2024-04-08 12:00:37

1297

CTI/PTI漏電起痕測(cè)試深度解析

測(cè)試過(guò)程中，電極對(duì)試樣的表面作用力為（1.0±0.05）N，也可以換算成等效質(zhì)量，即為（96.94-107.14）g。這個(gè)壓力的主要作用是使得電極與樣品穩(wěn)定接觸。

2024-04-15 12:20:34

13608

SMT生產(chǎn)過(guò)程中錫膏檢查(SPI)的作用是什么

一站式PCBA智造廠家今天為大家講講SMT生產(chǎn)過(guò)程中SPI的作用是什么?SPI在SMT貼片加工過(guò)程中起到的作用。在電子制造領(lǐng)域，SPI是指Solder Paste Inspection，即焊膏檢測(cè)

2024-07-10 09:26:40

2544

RIGOL產(chǎn)品在材料應(yīng)力測(cè)試過(guò)程中的應(yīng)用

、強(qiáng)度、剛度、穩(wěn)定性等，可以精確地控制產(chǎn)品質(zhì)量。本篇解決方案將介紹RIGOL產(chǎn)品在材料應(yīng)力測(cè)試過(guò)程中的應(yīng)用。

2024-07-12 17:01:42

1246

emi濾波器的主要作用是濾除多少頻率的干擾

EMI（Electromagnetic Interference，電磁干擾）濾波器的主要作用是濾除電路中不必要的電磁干擾信號(hào)，以保護(hù)設(shè)備正常運(yùn)行并滿(mǎn)足電磁兼容性（EMC）標(biāo)準(zhǔn)。關(guān)于EMI濾波器濾除

2024-08-25 14:33:18

2925

物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中快速讀取貼片SIM卡號(hào)的方案

卡號(hào)，讀卡表產(chǎn)品可以解決在研發(fā)測(cè)試過(guò)程中，方便讀取物聯(lián)網(wǎng)貼片卡卡號(hào)的問(wèn)題。二、該問(wèn)題帶來(lái)的危害及影響如果不讀出設(shè)備的SIM卡卡號(hào)，無(wú)法將設(shè)備與SIM卡對(duì)應(yīng)起來(lái)。當(dāng)設(shè)備的SIM卡狀態(tài)異常時(shí)，比如：欠費(fèi)，卡停機(jī)，無(wú)法查詢(xún)?cè)O(shè)備對(duì)應(yīng)的SIM卡的狀態(tài)，

2024-09-23 16:14:37

1348

CP測(cè)試和WAT測(cè)試有什么區(qū)別

和測(cè)試過(guò)程中，CP測(cè)試（Chip Probing）和WAT測(cè)試（Wafer Acceptance Test）是兩個(gè)非常重要的測(cè)試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進(jìn)行，但二者的目的、測(cè)試對(duì)象、測(cè)試內(nèi)容和作用是有顯著不同的。

2024-11-22 10:52:20

2560

開(kāi)關(guān)電源之EMI等效分析

（人工電源網(wǎng)絡(luò)）。 LISN 是電力系統(tǒng)中電磁兼容中的一項(xiàng)重要輔助設(shè)備。它可以隔離電網(wǎng)干擾，提供穩(wěn)定的測(cè)試阻抗，并起到濾波的作用。 LISN 是在進(jìn)行傳導(dǎo)干擾發(fā)射測(cè)試中，為了客觀地考核受試設(shè)備（DUT

2024-12-06 10:32:29

2855

在測(cè)試過(guò)程中，如何防止電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)的故障率？

在測(cè)試過(guò)程中，防止電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)故障率的關(guān)鍵在于設(shè)備的使用、維護(hù)和保養(yǎng)。以下是一些具體的方法和建議：一、正確使用設(shè)備熟悉操作規(guī)程 · 操作人員必須熟讀并理解電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)的操作規(guī)程和使用說(shuō)明

2025-01-10 08:55:34

650

使用EMI掃描儀和EMI測(cè)試接收機(jī)進(jìn)行EMI可視化分析

隨著電子設(shè)備的復(fù)雜性日益增長(zhǎng)，EMC（電磁兼容）測(cè)試在產(chǎn)品設(shè)計(jì)與3C認(rèn)證過(guò)程中的作用愈發(fā)顯著。為通過(guò)3C認(rèn)證，企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)初期便積極引入EMI測(cè)試環(huán)節(jié)，旨在先行識(shí)別并解決潛在的電磁干擾難題，從而

2025-02-08 10:01:20

1119

已全部加載完成

chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛兴趣闲谈,欧美亚洲精品 8区,国产精品久久久久精品免费

搜索歷史

EMI測(cè)試過(guò)程中LISN作用是什么？

評(píng)論

搜索歷史

EMI測(cè)試過(guò)程中LISN作用是什么？

評(píng)論

EMI測(cè)試過(guò)程中LISN作用是什么？