移動通信的不斷發(fā)展，對測試技術(shù)提出了非常高的要求，測試儀器和儀表在產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)中是不可或缺的一環(huán)，沒有這一環(huán)，技術(shù)和業(yè)務(wù)都無法正常開展。LTE即將在中國規(guī)模商用，在這一進程中，構(gòu)建完善的LTE產(chǎn)業(yè)鏈至關(guān)重要。LTE測試是整條產(chǎn)業(yè)鏈中重要的一環(huán)。

　　據(jù)（艾斯）Frost & Sullivan的研究報告顯示，全球LTE測試設(shè)備市場到2018年將增至28.456億美元。研究指出，多種類型的測試設(shè)備和應(yīng)用技術(shù)，如研究和開發(fā)、制造、安裝、維護和監(jiān)控等，將推動整體LTE測試設(shè)備市場的增長。高帶寬應(yīng)用和服務(wù)的使用增加將為無線測試設(shè)備供應(yīng)商創(chuàng)造無數(shù)機會。

　　當(dāng)前，LTE產(chǎn)業(yè)的推進主要聚焦在幾個環(huán)節(jié)上，而測試測量領(lǐng)域是其中非常重要的一環(huán)。NI射頻與無線通信產(chǎn)品市場開發(fā)經(jīng)理姚遠先生日前接受了電子發(fā)燒友專訪，就LTE測試發(fā)表了獨到見解。
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　　圖：NI射頻與無線通信產(chǎn)品市場開發(fā)經(jīng)理姚遠先生

　　NI：打破常規(guī) 積極布局

　　4G時代正式來臨，NI非常看好中國LTE測試市場，4年前就開始積極布局，并有針對性的推出“打破常規(guī)”的解決方案。

　　NI射頻與無線通信產(chǎn)品市場開發(fā)經(jīng)理姚遠先生表示：NI對4G/LTE在中國未來幾年的市場前景還是比較樂觀的。作為全球的手機制造基地，中國的手機廠商非常關(guān)注快速、高質(zhì)量、高性價比的測試方案，滿足大規(guī)模的手機終端生產(chǎn)需要。另一方面，相比于傳統(tǒng)電子產(chǎn)品行業(yè)，移動終端，特別是智能手機的出貨量受市場波動很大，當(dāng)一款手機受到消費者青睞，其出乎量可能出現(xiàn)脈沖式的增長，風(fēng)頭過后，出乎量可能又會迅速萎縮，這就更需要一種靈活而兼具成本效益的測試系統(tǒng)解決方案。面對這樣的市場現(xiàn)狀，NI提出的基于PXI平臺的無線測試平臺提供了一種“打破常規(guī)”的解決思路。一方面，在PXI平臺上，我們可以更快享受到商業(yè)現(xiàn)成可用技術(shù)所帶來的成本優(yōu)勢。另一方面，這種軟件定義的模塊化的解決方案具有極強的靈活性和可擴展性，可以很好的支持最新的通信標準。

　　姚遠先生還表示，在LTE測試方面，早在2009年，NI就已經(jīng)開始利用PXI平臺針對LTE-FDD進行相關(guān)實驗，在2010年12月5日LTE-FDD正式商用之前已經(jīng)推出相關(guān)測試方案。在2012年全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計大會NIWeek和2013年世界移動通信大會（MWC2013）上，NI先后發(fā)布了兩款矢量信號收發(fā)儀（VST）NI PXIe-5644R和NI PXIe-5645R，它是全新的軟件完全自定義儀器，不僅具備快速的測量速度和小巧的生產(chǎn)測試儀器組成結(jié)構(gòu)，同時還擁有研發(fā)級箱型儀器的靈活性和高性能，可以全面支持LTE的相關(guān)測試。

　　以軟件為中心、全方位合作快速推出極具競爭力的測試方案

　　NI的無線通信測試方案，采用以軟件為中心的模塊化儀器構(gòu)架，基于現(xiàn)成可用的模塊化硬件設(shè)備，與相關(guān)廠商積極合作，快速開發(fā)出最合適的高性價比測試方案，贏得市場認可。工程師可快速實現(xiàn)從研發(fā)驗證到生產(chǎn)測試的全方位一體化流程。

　　姚遠先生表示，一個成熟的市場一定是一個充分競爭的市場。特別是由于TD-LTE的國產(chǎn)背景，在這個市場中，除了許多老牌國際測試廠商，還會有眾多國內(nèi)測試廠商參與其中。由于NI的測試方案是基于軟件定義的理念，我們特別看重和具有技術(shù)實力的國內(nèi)測試測量廠商以及研究所合作，為客戶提供極具性價比的方案。舉個例子，大家都知道在TD-LTE之前，國內(nèi)首先嘗試的是TD-SCDMA，這個標準雖然表現(xiàn)一般，但這確是中國走向標準制定者的第一步。在TD-SCDMA剛剛提出時，面臨的一個很重要的挑戰(zhàn)就是國際上大的測試測量廠商都沒有足夠重視這一塊的市場，所以相關(guān)的商業(yè)測試方案遲遲沒有出來，在一定程度上制約了這個標準的發(fā)展。我們的聯(lián)盟合作伙伴，聚星儀器，在標準的制定階段，他們就已經(jīng)積極投入并參與到這個協(xié)議的測試方案之中。這正是得益于軟件定義，針對一些比較前期的標準可以找到頂尖的射頻測試工程師利用這個平臺，來針對協(xié)議測試進行快速開發(fā)。

　　LTE測試難點解讀

　　新的標準也意味著新的挑戰(zhàn)，相比于3G移動通信標準，4G/LTE終端產(chǎn)品的測試項目要多出近百項。不僅無線制式在增加，終端支持的頻段也在增加。這對生產(chǎn)測試提出了更高的要求，測試項目和測試時間達以前的數(shù)倍。測試時間的增加意味著測試成本的提高，如何尋找快速有效的測試方法，則成為針對4G/LTE系統(tǒng)測試的一個重要挑戰(zhàn)。另一方面，隨著數(shù)據(jù)傳輸量的上升，測量的復(fù)雜性也隨之增加，4G/LTE信號的調(diào)制解調(diào)需要提高一個數(shù)量級的信號處理能力，這些都對于測試系統(tǒng)提出了新的要求。NI采用“非信令模式” （Non-signaling）由于無需建立信令呼叫，可以省去由于信令所需要的大量時間，因此大大提高了測試速度，使得測試時間可以加快50%以上，非常適用于快速、高效率的生產(chǎn)測試。

　　LTE的另一個很重要挑戰(zhàn)就是它的功耗很大。如果大家以后使用LTE手機，可能就會有所體會。NI為市場提供了LTE-TDD和LTE-FDD的測試方案，不止包括了通訊協(xié)議的測試，也可以進行射頻功放（PA）的測試。

　　對于PA來說，它需要有一個確定的輸出功率。為了精確的校準一個功放，在每個PA出廠之前，我們使用功率伺服定標系統(tǒng)來進行確定其最終的增益。這個定標系統(tǒng)通過監(jiān)測并分析PA的輸出功率來及時調(diào)整輸入端的功率直到最終達到了理想值，這是一個非常耗時的過程。基于FPGA的VST是一個非常理想的進行功率定標的儀器，因為我們可以將分析的算法放在FPGA上，并且利用它的射頻輸入進行快速調(diào)諧，從而可以加速整個校準的過程。

　　測試技術(shù)是LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，面對LTE產(chǎn)業(yè)多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動互聯(lián)網(wǎng)時代復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，NI獨具優(yōu)勢的LTE測試方案可以快速靈活的應(yīng)對市場挑戰(zhàn)，幫助工程師們降低測試成本、提高產(chǎn)品市場競爭力，為整個LTE產(chǎn)業(yè)發(fā)展做好鋪墊。

　　姚遠先生簡介：

　　姚遠先生目前擔(dān)任美國國家儀器中國地區(qū)市場開發(fā)經(jīng)理，負責(zé)NI射頻與無線通信產(chǎn)品及方案在中國區(qū)重要行業(yè)的市場推廣與合作等工作。此前，姚遠先生曾在NI公司擔(dān)任應(yīng)用工程師，系統(tǒng)工程師，技術(shù)市場工程師等職務(wù)，在測試測量與自動化領(lǐng)域具有多年的系統(tǒng)開發(fā)及行業(yè)經(jīng)驗。姚遠先生畢業(yè)于上海交通大學(xué)，獲碩士學(xué)位。