3.晶體管擊穿電壓的測試

　　以NPN型3DK2晶體管為例，查手冊得知3DK2 BVCBO、BVCEO、BVEBO的測試條件IC分別為100μA、200μA和100μA。測試時，儀器部件的置位詳見表A-6。

　　逐步調(diào)高“峰值電壓”，被測管按圖A-30（a）的接法，Y軸IC=0.1mA時，X軸的偏移量為BVCEO值；被測管按圖A-30（b）的接法，Y軸IC=0.2m A時，X軸的偏移量為BVCEO值；被測管按圖A-30（c）的接法，Y軸IC=0.1mA時，X軸的偏移量為BVEBO值。

　　表A-6 3DK2晶體管擊穿電壓測試時儀器部件的置位

　　圖A-31 反向擊穿電壓曲線（PNP）

　　PNP型晶體管的測試方法與NPN型晶體管的測試方法相似。其測試曲線如圖1-31所示。

　　4.穩(wěn)壓二極管的測試

　　以2CW19穩(wěn)壓二極管為例，查手冊得知2CW19穩(wěn)定電壓的測試條件IR=3mA。測試時。儀器部件置位詳見表A-7。

　　逐漸加大“峰值電壓”，即可在熒光屏上看到被測管的特性曲線，如圖A-32所示。

　　表A-7 2CW19穩(wěn)壓二極管測試時儀器部件的置位

　　讀數(shù)：正向壓降約0.7V，穩(wěn)定電壓約12.5V。

　　5.整流二極管反向漏電電流的測試

　　以2DP5C整流二極管為例，查手冊得知2DP5的反向電流應≤500nA。測試時，儀器各部件的置位詳見表A-8。

　　逐漸增大“峰值電壓”，在熒光屏上即可顯示被測管反向漏電電流特性，如圖A-33所示。

　　讀數(shù)：IR=4div×0.2μA×0.1（倍率）=80 nA

　　測量結果表明，被測管性能符合要求。

　　圖A-32 穩(wěn)壓二極管特性曲線 圖A-33 二極管反向電流測試

　　表A-8 2DP5C整流二極管測試時儀器部件的置位

　　6.二簇特性曲線比較測試

　　以NPN型3DG6晶體管為例，查手冊得知3DG6晶體管輸出特性的測試條件為IC=10 mA、VCE=10V。測試時，儀器部件的置位詳見表A-9。

　　將被測的兩只晶體管，分別插入測試臺左、右插座內(nèi)，然后按表1-8置位各功能鍵，參數(shù)調(diào)至理想位置。按下測試選擇按鈕的“二簇”琴鍵，逐步增大峰值電壓，即可要熒光屏上顯示二簇特性曲線，如圖A-34所示。

　　表A-9 二簇特性曲線測試時儀器部件的置位

　　當測試配對管要求很高時，可調(diào)節(jié)“二簇位移旋鈕”（37），使右簇曲線左移，視其曲線重合程度，可判定其輸出特性的一致程度。

　　七、晶體管測試儀使用注意事項

　?、偈褂脙x器前，應檢查儀器有關旋鈕位置， “測試選擇”　　開關置于“關”， “峰值電壓”旋鈕調(diào)至零， “階梯作用”置于“關”。

　?、陂_啟電源，指示燈亮，預熱5min。調(diào)整“標尺亮度”，觀察時用紅色標尺，攝影時用黃色標尺。調(diào)整“輝度”，使屏幕上光點和線條至適中的亮度。調(diào)整“聚焦”及“輔助聚焦”　　旋鈕，使屏幕上顯示清晰的線條或亮點。

　?、圻M行基極階梯信號調(diào)零。將光點移至屏幕左下角作為坐標零點，進行基極階梯信號調(diào)零。當熒光屏上出現(xiàn)基極階梯信號后，按下測試臺上的“零電壓”鍵，觀察光點停留在熒光屏上的位置。復位后調(diào)節(jié)“階梯調(diào)零”旋鈕，使階梯信號的起始級光點仍在該處，則基極階梯信號的零位即被校準。

　　④根據(jù)被測管的類型（PNP型或NPN型）和接地形式（E接地或B接地），選擇“極性”開關位置，然后插上被測晶體管。

　?、莞鶕?jù)需要顯示的醢線和需要測試的參數(shù)，選擇相應的作用開關以及合適的量程，即可進行有關圖形顯示和參數(shù)測定。晶體管圖示測試系統(tǒng)在運用的過程中：

　　a.測試時逐漸加大峰值電壓，即可得到輸出特性曲線。在測試中，由于晶體管的離散性較大，其輸出特性曲線可能會超出屏幕坐標，此時可將Y軸作用開關置于其他擋位。由于輸出特性曲線可以反映被測管特性的全貌，因此，可依此對晶體管性能的優(yōu)劣迅速作出判斷。

　　b.測量晶體三極管的h FE值。連接方法與調(diào)整同上，調(diào)整儀器的開關旋鈕置于適當位置，即可得到k與，。關系的一條直線，根據(jù)^匝= A/C/A/B可求得晶體管的hFF值。

　　c.觀察晶體三極管的輸入特性曲線。使用晶體管特性圖示儀觀察晶體三極管的輸入特性曲線的連接方法與調(diào)整同上。測試時，逐漸加大峰值電壓，可得到晶體三極管的輸入特性曲線。讀出工作點Q處的基極電壓UBE和基極電流厶的值，可得到輸入電阻R。：塵UBE鞏。：SVA/B（3）在操作使用JT-1型晶體管圖示儀時，要注意以下幾點。

　　總結：晶體管圖示測試系統(tǒng)在使用的過程中應該遵從以上事項，并且儀器在長時間的使用中，由于元件老化和變值，有可能引起一定的誤差，因此需要大家進行定期計量和維修。