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頁(yè)巖樣品掃描電鏡觀察失效分析
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MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析功
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2024-03-13 16:26:07
首樣免費(fèi)掃描電鏡SEM-EDS測(cè)試分析【博仕檢測(cè)】
射線，表征材料元素方面的信息，可定性、半定量Be-U的元素 ；
定位測(cè)試點(diǎn)，如在失效分析中可以用來(lái)定位失效點(diǎn)，在異物分析中可以用來(lái)定位異物點(diǎn)。
博****仕檢測(cè)測(cè)試案例：
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603MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析
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2023-12-27 15:41:37278
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DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱，由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng)，迄今已在家電、工業(yè)和汽車(chē)空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-12-22 15:15:27241
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? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對(duì)掃描電子顯微鏡
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2023-12-18 09:56:12155
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2023-12-15 14:11:17142
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大部分掃描電鏡實(shí)驗(yàn)室對(duì)于納米尺寸的準(zhǔn)確測(cè)量，要求沒(méi)有那么嚴(yán)格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要
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2023-12-07 11:49:36284
284DIPIPM失效解析報(bào)告解讀及失效樹(shù)分析
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助力鋰電池材料的“升華和蛻變”，蔡司掃描電鏡全流程深度研究
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壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同，如表1所示。本文針對(duì)兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
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2023-11-21 13:16:41235
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FPC焊點(diǎn)剝離失效分析
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2023-11-20 16:32:22312
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光耦失效的幾種常見(jiàn)原因及分析
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2023-11-20 15:13:441445
1445PCB失效分析技術(shù)概述
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115九項(xiàng)PCB失效分析的技術(shù)總結(jié)
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156一文帶您了解掃描電子顯微鏡EBSD技術(shù)的原理、采集及分辨率
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SEM掃描電鏡中鎢燈絲與場(chǎng)發(fā)射的區(qū)別
相同點(diǎn)：都是電子槍即發(fā)射電子的裝置，都有陰極和陽(yáng)極,陰極都是點(diǎn)源發(fā)射，陰極和陽(yáng)極之間有直流高壓電場(chǎng)存在，高壓一般可調(diào)，用于控制電子的發(fā)射速度（能量），電子槍發(fā)射的電流強(qiáng)度很小，微安級(jí)別和納安級(jí)別，為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源，都需要高真空環(huán)境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優(yōu)劣:1、點(diǎn)源直徑不同及優(yōu)劣：鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39353
353差示掃描量熱儀是測(cè)什么的？
和晟HS-DSC-101差示掃描量熱儀DSC通過(guò)測(cè)量樣品和參考物之間的熱流差異來(lái)分析材料的熱性質(zhì)。在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，樣品和參考物被同時(shí)加熱或冷卻，并測(cè)量?jī)烧咧g熱流的差
2023-11-10 15:05:03307
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鎢燈絲掃描電鏡使用的一些注意事項(xiàng)
鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大，抗干擾能力和穩(wěn)定性好?？稍诘驼婵障虏怀潆妼?duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
2023-11-06 13:52:52176
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車(chē)門(mén)控制板暗電流失效分析
一、案例背景 車(chē)門(mén)控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象，有持續(xù)發(fā)生的情況，初步判斷發(fā)生原因?yàn)镃3 MLCC電容開(kāi)裂。據(jù)此情況，結(jié)合本次失效樣品，對(duì)失效件進(jìn)行分析，明確失效原因。 二、分析過(guò)程 1、失效復(fù)現(xiàn)
2023-11-03 11:24:22279
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差示掃描量熱儀熔點(diǎn)檢測(cè)：實(shí)驗(yàn)過(guò)程與結(jié)果分析
差示掃描量熱儀（DSC）是一種熱分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、藥品研發(fā)、食品分析等領(lǐng)域。通過(guò)DSC可以研究物質(zhì)的熱性質(zhì)，如熔點(diǎn)、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等。本文將介紹DSC熔點(diǎn)檢測(cè)的實(shí)驗(yàn)步驟、結(jié)果及分析。上海
2023-11-02 17:00:37348
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一文帶您了解鎢燈絲掃描電鏡的一些使用注意事項(xiàng)
鎢絲掃描電子顯微鏡的發(fā)射電流和光斑都比較適中，抗干擾能力和穩(wěn)定性比較好。可在低真空下對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
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249廣東全自動(dòng)SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
廣東全自動(dòng)SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過(guò)掃描樣品表面并利用電子信號(hào)生成圖像。它與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數(shù)和更好的表面細(xì)節(jié)。以下是廣東全自動(dòng)SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
2023-10-31 15:12:41770
770差示掃描量熱儀的應(yīng)用領(lǐng)域
差示掃描量熱儀是一種重要的熱分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。它通過(guò)測(cè)量樣品在加熱過(guò)程中吸收或釋放熱量的方式，提供有關(guān)材料熱性質(zhì)的信息。本文將介紹差示掃描量熱儀的應(yīng)用領(lǐng)域、實(shí)驗(yàn)過(guò)程
2023-10-30 11:51:35388
388高端新品發(fā)布！國(guó)產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國(guó)電鏡年會(huì)
10月26日，2023年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞市召開(kāi)。國(guó)儀量子在會(huì)議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開(kāi)啟了國(guó)產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471158
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一文帶您了解場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
1. 工作原理 掃描電子顯微鏡以電子束為光源，以光柵式掃描方式將精細(xì)聚焦的電子束照射到樣品上。二次電子、背散射電子等。電子與樣品之間相互作用所產(chǎn)生的電子然后被收集和處理，以獲得顯微形貌的放大圖像
2023-10-23 14:56:393838
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電子背散射衍射(EBSD)裝置的基本布局
EBSD 分析系統(tǒng)的基本布局如圖所示。放入掃描電鏡樣品室內(nèi)的樣品經(jīng)大角度傾轉(zhuǎn)后(一般傾轉(zhuǎn) 65°-70°，通過(guò)減小背散射電子射出表面的路徑以獲取足夠強(qiáng)的背散射衍射信號(hào)，減小吸收信號(hào)），入射
2023-10-21 16:51:22384
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你了解掃描電鏡的特點(diǎn)和結(jié)構(gòu)嗎
。 特點(diǎn) 制樣簡(jiǎn)單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實(shí)的三維效果等特點(diǎn)。對(duì)于導(dǎo)電材料，它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導(dǎo)電層。 基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看，掃描電鏡主
2023-10-19 15:38:30357
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HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例
本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評(píng)論區(qū)發(fā)表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299
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一分鐘帶你了解EBSD的操作過(guò)程
不同型號(hào)掃描電鏡的操作步驟會(huì)有一些差異，各廠家的EBSD系統(tǒng)，特別是控制SEM的軟件都不一致。
2023-10-10 09:25:08609
609電鏡常用元素分析方法：EDS、EELS、HAADF-STEM
不同的波長(zhǎng)λ對(duì)應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個(gè)特征能量， 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式， EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面掃描三種：EDS 點(diǎn)分析是將電子束固定于樣品中某一點(diǎn)上，進(jìn)行定性或者定量的分析。
2023-09-28 15:54:341719
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LGA封裝芯片焊接失效
NO.1 案例背景 某攝像頭模組，在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過(guò)初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過(guò)程 #1 X-ray分析 樣品#1 樣品#2 測(cè)試結(jié)果：兩個(gè)失效
2023-09-28 11:42:21399
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季豐電子新熱場(chǎng)電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時(shí)，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375
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2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)順利召開(kāi)
（合肥）技術(shù)有限公司承辦的“2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)”在合肥召開(kāi)。來(lái)自中國(guó)科學(xué)院、北京大學(xué)、中南大學(xué)、中國(guó)農(nóng)科院、中國(guó)醫(yī)學(xué)科學(xué)院、浙江中醫(yī)藥大學(xué)等高校科研
2023-09-13 08:30:05502
502各種材料失效分析檢測(cè)方法
失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47291
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功率放大器在掃描顯微鏡中的應(yīng)用有什么
功率放大器在掃描顯微鏡中起到了至關(guān)重要的作用。掃描顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，它能夠以極高的精度觀察和研究樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征。而功率放大器則能夠提供所需的信號(hào)增益，使得掃描顯微鏡能夠獲得
2023-09-07 18:28:23209
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集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331
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聚焦離子束FIBSEM切片測(cè)試【博仕檢測(cè)】
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356
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集成電路失效分析
集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會(huì)的快速發(fā)展，人們對(duì)集成電路（Integrated Circuit，簡(jiǎn)稱IC）的需求越來(lái)越大，IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位，如手機(jī)、電腦、汽車(chē)等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627
627芯片失效分析方法 芯片失效原因分析
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見(jiàn)的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800
2800半導(dǎo)體失效分析
半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736
736透射電鏡TEM測(cè)試原理及過(guò)程
散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)的顯微鏡。 透射電鏡TEM原理 博仕檢測(cè)工程師對(duì)客戶指定樣品區(qū)域內(nèi)定點(diǎn)制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品 聚焦離子束FI
2023-08-29 14:54:151371
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EDS面掃、線掃、點(diǎn)掃的應(yīng)用
能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時(shí)，不同元素被激發(fā)出來(lái)的x射線能量不同，通過(guò)探測(cè)這些特征X射線的能量與強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241953
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鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文
鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133
2133國(guó)儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000
“在大規(guī)模成像場(chǎng)景中，常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動(dòng)化程度都無(wú)法滿足應(yīng)用需求。例如，在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中，需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對(duì)百億級(jí)神經(jīng)元進(jìn)行高分辨成像
2023-08-09 08:29:23453
453蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419
1419蔡司掃描電鏡下金剛石形貌
金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對(duì)稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見(jiàn)的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國(guó)也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無(wú)
2023-08-04 11:50:01458
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SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大平臺(tái)中心
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350
350蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對(duì)透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330
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半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析
本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930
930蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡
蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650
650蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無(wú)交叉光路設(shè)計(jì)，打破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對(duì)圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無(wú)需
2023-07-14 16:26:59916
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EM科特 CUBE-Ⅱ臺(tái)式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433
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關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點(diǎn)分析
的高性能高效率，大樣品倉(cāng)內(nèi)含5軸共心電動(dòng)樣品臺(tái)，可更輕松地測(cè)量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無(wú)法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤(pán) l無(wú)損樣品分析?? 無(wú)需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38270
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SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用
等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束與物質(zhì)間的相
2023-07-05 10:04:061995
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AMEYA360談蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列
近日，蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門(mén)領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司
2023-07-04 15:39:24249
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集成電路封裝失效分析流程
為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315
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集成電路封裝失效分析方法
Analysis, DPA)是為防止有明顯缺陷或潛在缺陷的集成電路等被使用，而在指定時(shí)機(jī)、指定機(jī)構(gòu)隨機(jī)抽取適 當(dāng)樣品，進(jìn)行一系列破壞性和非破壞性的物理試驗(yàn)和失效分析，是破壞性分析的一類。
2023-06-21 08:53:40572
572場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)
今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動(dòng)粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
2023-06-19 11:15:40813
813喜提儀器行業(yè)大獎(jiǎng)！國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎(jiǎng)”
5月18日，2023第十六屆中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2023)在北京雁棲湖國(guó)際會(huì)展中心盛大開(kāi)幕，并頒發(fā)“儀器及檢測(cè)3i獎(jiǎng)”。國(guó)儀量子自主研發(fā)的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16366
366芯明天壓電鏡架選型
芯明天壓電鏡架是一種利用壓電效應(yīng)來(lái)控制鏡片位置的光學(xué)機(jī)械。壓電效應(yīng)是指在某些晶體中，如壓電陶瓷，當(dāng)施加電場(chǎng)時(shí)，壓電陶瓷會(huì)發(fā)生形變，通過(guò)機(jī)械結(jié)構(gòu)將這種形變轉(zhuǎn)換為直線毫米級(jí)行程，該運(yùn)動(dòng)對(duì)鏡架進(jìn)行角度偏轉(zhuǎn)
2023-05-25 10:27:45350
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怎樣進(jìn)行芯片失效分析？
失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365
1365TVS二極管失效機(jī)理與失效分析
。
通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678
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進(jìn)口芯片失效怎么辦？做個(gè)失效分析查找源頭
芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái)，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548
548Multisim軟件之交流掃描分析
交流掃描分析
交流掃描分析是在正弦小信號(hào)工作條件下的一種頻域分析。它可以計(jì)算電路的幅頻特性和相頻特性，是一種線性分析方法。
Multisim 軟件在進(jìn)行交流頻率分析時(shí)，首先分析電路的直流
2023-04-27 16:15:27
Multisim直流掃描分析
直流掃描分析是計(jì)算電路中某一節(jié)點(diǎn)直流工作點(diǎn)隨著電路中一個(gè)或兩個(gè)直流電源數(shù)值變化情況。在分析前，可以選擇直流電源的變化范圍和增量。在直流掃描分析時(shí)，電路中的所有電容視為開(kāi)路，所有電感視為短路
2023-04-27 14:48:48
半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見(jiàn)失效分析方法介紹！
失效分析（FA）是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)
2023-04-18 09:11:211360
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喜報(bào)！國(guó)儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺(tái)
磁性樣品可適用。光學(xué)導(dǎo)航、完善的自動(dòng)功能、精心設(shè)計(jì)的人機(jī)交互，優(yōu)化的操作和使用流程，無(wú)論經(jīng)驗(yàn)是否豐富，都可以快速上手，完成高分辨率拍攝任務(wù)。場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM4
2023-04-12 11:38:30572
572PCB失效分析技術(shù)總結(jié)
程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。 對(duì)于這種失效問(wèn)題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749
749北京大學(xué)先進(jìn)光子集成公共平臺(tái)正式開(kāi)放運(yùn)行
該平臺(tái)擁有超凈間面積約300平方米，其中百級(jí)潔凈區(qū)50平米，配備了可完整涵蓋微加工需求的大、中、小型設(shè)備，包括電子束曝光機(jī)、掃描電鏡、磁控濺射儀、等離子刻蝕機(jī)、快速退火爐、精密貼片機(jī)、勻膠機(jī)、離子濺射儀、膜厚計(jì)、原子力顯微鏡、任意波形發(fā)生器、高速采樣示波器、信號(hào)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
2023-04-10 11:24:06712
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工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論