具有18位通用總線收發(fā)器的'ABTH18502A和'ABTH182502A掃描測(cè)試設(shè)備是德州儀器SCOPE可測(cè)性集成電路系列的成員。該系列器件支持IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990邊界掃描，便于測(cè)試復(fù)雜的電路板組件。掃描訪問測(cè)試電路是通過4線測(cè)試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件是18位通用總線收發(fā)器，它們組合了D型鎖存器和D類型的觸發(fā)器，允許數(shù)據(jù)以透明，鎖存或時(shí)鐘模式流動(dòng)。它們既可以用作兩個(gè)9位收發(fā)器，也可以用作一個(gè)18位收發(fā)器。測(cè)試電路可以由TAP激活，以獲取出現(xiàn)在器件引腳上的數(shù)據(jù)的快照樣本，或者對(duì)邊界測(cè)試單元執(zhí)行自測(cè)試。在正常模式下激活TAP不會(huì)影響SCOPE通用總線收發(fā)器的功能操作。

每個(gè)方向的數(shù)據(jù)流由輸出使能控制（和 ），鎖存使能（LEAB和LEBA）和時(shí)鐘（CLKAB和CLKBA）輸入。對(duì)于A到B數(shù)據(jù)流，當(dāng)LEAB為高電平時(shí)，器件以透明模式工作。當(dāng)LEAB為低電平時(shí)，A-bus數(shù)據(jù)被鎖存，而CLKAB保持在靜態(tài)低或高邏輯電平。否則，如果LEAB為低電平，則A總線數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在CLKAB從低到高的轉(zhuǎn)換中。當(dāng)為低電平，B輸出有效。當(dāng)為高電平，B輸出處于高阻態(tài)。 B-to-A數(shù)據(jù)流類似于A-to-B數(shù)據(jù)流，但使用，LEBA和CLKBA輸入。

在測(cè)試模式下，SCOPE正常運(yùn)行通用總線收發(fā)器被禁止，并且測(cè)試電路能夠觀察和控制設(shè)備的I /O邊界。啟用后，測(cè)試電路根據(jù)IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990中描述的協(xié)議執(zhí)行邊界掃描測(cè)試操作。

四個(gè)專用測(cè)試引腳觀察并控制測(cè)試的操作電路：測(cè)試數(shù)據(jù)輸入（TDI），測(cè)試數(shù)據(jù)輸出（TDO），測(cè)試模式選擇（TMS）和測(cè)試時(shí)鐘（TCK）。另外，測(cè)試電路執(zhí)行其他測(cè)試功能，例如數(shù)據(jù)輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數(shù)據(jù)輸出的偽隨機(jī)模式生成（PRPG）。所有測(cè)試和掃描操作都與TAP接口同步。

通過每個(gè)I /O引腳架構(gòu)采用一個(gè)邊界掃描單元（BSC），可以提高掃描效率。該體系結(jié)構(gòu)以捕獲最相關(guān)的測(cè)試數(shù)據(jù)的方式實(shí)現(xiàn)。還包括PSA /COUNT指令，以簡(jiǎn)化二進(jìn)制計(jì)數(shù)尋址方案有用的存儲(chǔ)器和其他電路的測(cè)試。

有源總線保持電路將未使用或浮動(dòng)的數(shù)據(jù)輸入保持在有效的邏輯電平。

'ABTH182502A的B端口輸出，設(shè)計(jì)用于提供或吸收高達(dá)12 mA的電流，包括25- 用于減少過沖和下沖的串聯(lián)電阻。

SN54ABTH18502A和SN54ABTH182502A的特點(diǎn)是可在-55°C至125°C的整個(gè)軍用溫度范圍內(nèi)工作。 SN74ABTH18502A和SN74ABTH182502A的工作溫度范圍為-40°C至85°C。

A-to-B數(shù)據(jù)流是所示。 B-to-A數(shù)據(jù)流類似，但使用OEBA \，LEBA和CLKBA。

在建立穩(wěn)態(tài)輸入條件之前的輸出電平 < /p>