UI-X6920是個(gè)高密度高速100MHz的PXI數(shù)字板， 是個(gè)特有的專業(yè)性板卡，專業(yè)面對(duì)數(shù)字類的測(cè)試, 能用來(lái)測(cè)試大量的數(shù)字混合芯片。 板卡有一個(gè)Sequencer Pattern Generator ，功能上類似于一個(gè)32通道的ATE測(cè)試機(jī). 它可以通過(guò)擴(kuò)展的方式擴(kuò)展到512通道. 每個(gè)pin有1ns的沿精度，每個(gè)pin都有pmu，能夠進(jìn)行DC/AC參數(shù)測(cè)試.。
--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 時(shí)針?biāo)俾?/span> 5KHz~100MHz
- 通道數(shù) 32pins
- Pattern內(nèi)存 64M/每通道
- Sequence 64M/每通道
- 并行測(cè)試能力 Any pin to any site
--- 數(shù)據(jù)手冊(cè) ---
--- 產(chǎn)品詳情 ---
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UI-7110 六位半數(shù)字多用表2022-06-02 09:35
產(chǎn)品型號(hào)：UI-7110 直流電壓：100mV~1000V 直流電流：100μA -10A 交流電壓：100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流電流：100μA~10A(3Hz-10kHz) 電阻：10Ω -100MΩ -
源測(cè)量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-06-01 15:32
產(chǎn)品型號(hào)：UI-X6330 輸出通道數(shù)(DACs：4 上電后繼電器狀態(tài)：全通道關(guān)閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲(chǔ)溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U -
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產(chǎn)品型號(hào)：UI-X6320 輸出通道數(shù)(DACs：4 上電后繼電器狀態(tài)：全通道關(guān)閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲(chǔ)溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U -
100M動(dòng)態(tài)數(shù)字功能板卡（Timing，PPMU）2022-05-25 15:12
產(chǎn)品型號(hào)：UI-X6920 型號(hào)：X6920 時(shí)鐘速率：5kHz ~100 MHz 通道數(shù)：32 pins (通過(guò)級(jí)聯(lián)最高可達(dá)512 pins) Pattern內(nèi)存：64M/每通道 Sequence內(nèi)存：64M/每通道 -
MEMS芯片測(cè)試板卡2022-02-21 15:14
產(chǎn)品型號(hào)：UI-X6220 時(shí)針?biāo)俾剩?0MHz（最大） 通道數(shù)：32pins?card 驅(qū)動(dòng)電流：正負(fù)32mA DC（最大） 電壓精度：16bits 電壓量程：-1V到+10V -
100M動(dòng)態(tài)數(shù)字功能板卡（Timing，PPMU）2022-02-21 11:29
產(chǎn)品型號(hào)：UI-X6920 時(shí)針?biāo)俾剩?KHz~100MHz 通道數(shù)：32pins Pattern內(nèi)存：64M/每通道 Sequence：64M/每通道 并行測(cè)試能力：Any pin to any site -
MEMS芯片測(cè)試系統(tǒng)2021-12-13 17:15
產(chǎn)品型號(hào)：UI300系列MEMS傳感器測(cè)試機(jī) Pin Channe：32~224pin (支持多板卡擴(kuò)展) Test Rate：10MHz PMU：PMU per channel/16bit DPS：-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang：2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8 -
MEMS芯片測(cè)試板卡2021-12-08 14:49
產(chǎn)品型號(hào)：UI-X6220 時(shí)鐘速率：10MHz（最大） 通道數(shù)：32pins/card 電壓量程：-1V到正負(fù)10V 驅(qū)動(dòng)電流：正負(fù)32mA DC（最大） 電壓精度：16bits -
BMS測(cè)試系統(tǒng)2021-12-02 10:58
產(chǎn)品型號(hào)：UI120C系列 集成電池管理系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 單體電壓：0.1-5V 電壓輸出精度：正負(fù)1mV 步進(jìn)精度：<0.5mA 隔離電壓：正負(fù)750V 安全保護(hù)：短路保護(hù)，極性反轉(zhuǎn)保護(hù)，過(guò)熱保護(hù)，多通道互鎖結(jié)構(gòu) -
BMS測(cè)試產(chǎn)品2021-12-02 10:47
產(chǎn)品型號(hào)：UI100E 系列 鋰電池模擬模塊 電池仿真通道：16 單體電壓：1.3V-5V 電壓輸出精度：正負(fù)1mV 電壓回讀精度：正負(fù)1mV 電壓輸出步進(jìn)：0.15mV
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半導(dǎo)體測(cè)試制程介紹2026-01-16 10:04
半導(dǎo)體產(chǎn)品的附加價(jià)值高、制造成本高，且產(chǎn)品的性能對(duì)于日后其用于最終電子商品的功能有關(guān)鍵性的影響。因此，在半導(dǎo)體的生產(chǎn)過(guò)程中的每個(gè)階段，對(duì)于所生產(chǎn)的半導(dǎo)體IC產(chǎn)品，都有著層層的測(cè)試及檢驗(yàn)來(lái)為產(chǎn)品的質(zhì)量作把關(guān)。然而一般所指的半導(dǎo)體測(cè)試則是指晶圓制造與IC封裝之后，以檢測(cè)晶圓及封裝后IC的電信功能與外觀而存在的測(cè)試制程。以下即針對(duì)「半導(dǎo)體測(cè)試制程」中之各項(xiàng)制程技術(shù)111瀏覽量 -
芯片可靠性（RE）性能測(cè)試與失效機(jī)理分析2026-01-09 10:02
2025年9月，國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布了六項(xiàng)半導(dǎo)體可靠性測(cè)試國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，為中國(guó)芯片產(chǎn)業(yè)的質(zhì)量基石奠定了技術(shù)規(guī)范。在全球芯片競(jìng)爭(zhēng)進(jìn)入白熱化的今天，可靠性已成為衡量半導(dǎo)體產(chǎn)品核心價(jià)值的關(guān)鍵指標(biāo)。01芯片的“健康指標(biāo)”：半導(dǎo)體可靠性的本質(zhì)半導(dǎo)體可靠性（RE）指的是芯片在規(guī)定條件和時(shí)間內(nèi)，持續(xù)保持其預(yù)定功能的能力。這不僅僅是“能用”，而是在各種復(fù)雜環(huán)境下“穩(wěn)定可靠地 -
半導(dǎo)體測(cè)試，是“下一個(gè)前沿”2025-12-26 10:02
本文由半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫（ID：ICVIEWS）編譯自3dincites利用人工智能進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試創(chuàng)新，將能夠共享與良率、覆蓋率和成本息息相關(guān)的真實(shí)數(shù)據(jù)。雖然人工智能在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和制造領(lǐng)域取得了重大進(jìn)展，但半導(dǎo)體測(cè)試是“下一個(gè)前沿”，它是設(shè)計(jì)與制造之間的橋梁，解決了傳統(tǒng)分離領(lǐng)域之間模糊的界限。更具體地說(shuō)，通過(guò)連接設(shè)計(jì)和制造，測(cè)試可以幫助產(chǎn)品和芯片公司更快地生產(chǎn)出446瀏覽量 -
過(guò)零檢測(cè)電路，有點(diǎn)意思~2025-12-19 10:01
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我就是那個(gè)32歲還在點(diǎn)點(diǎn)點(diǎn)的測(cè)試狗！2025-12-12 10:02
2019年入行，如果你問(wèn)我有沒(méi)有后悔選測(cè)試這條路，說(shuō)實(shí)話，有也沒(méi)有。工作前兩年我?guī)缀跏窃诨烊兆?，完全沒(méi)方向，機(jī)械點(diǎn)點(diǎn)點(diǎn)、提bug，和現(xiàn)在剛?cè)胄械男氯藳](méi)太大差別。那個(gè)階段沒(méi)有成長(zhǎng)、也沒(méi)思考，腦子里沒(méi)有職業(yè)規(guī)劃，甚至連“測(cè)試到底是干什么”都說(shuō)不清。直到第三年，一個(gè)項(xiàng)目出了重大線上問(wèn)題，我被拉去參與復(fù)盤(pán)。那次我第一次意識(shí)到：“測(cè)試，不只是找bug，而是保障質(zhì)量的最 -
為什么資深測(cè)試工程師都離不開(kāi)走查？2025-12-05 10:01
在軟件研發(fā)中，我們常常會(huì)遇到這樣的場(chǎng)景：需求文檔改了三版仍有缺失、開(kāi)發(fā)代碼已經(jīng)完成卻在測(cè)試階段暴露大量邏輯漏洞、自動(dòng)化測(cè)試寫(xiě)到一半才發(fā)現(xiàn)流程設(shè)計(jì)根本無(wú)法覆蓋……這些問(wèn)題看似分散，卻有一個(gè)共同點(diǎn)：它們本可以通過(guò)一次有效的Walk-through（走查）避免。當(dāng)團(tuán)隊(duì)日常討論質(zhì)量時(shí)，經(jīng)常會(huì)提到測(cè)試、自動(dòng)化、代碼Review，但Walk-through卻是被最多人忽 -
北京漢通達(dá)科技有限公司與蘇州賽邁測(cè)控技術(shù)有限公司簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議2025-11-14 10:02
近日，北京漢通達(dá)科技有限公司與蘇州賽邁測(cè)控技術(shù)有限公司正式簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議。雙方作為測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域的專業(yè)企業(yè)，本著“資源共享、優(yōu)勢(shì)互補(bǔ)、合作共贏”的原則，經(jīng)友好協(xié)商，達(dá)成戰(zhàn)略合作共識(shí)。根據(jù)協(xié)議，雙方將充分整合各自的技術(shù)實(shí)力與人力資源優(yōu)勢(shì)，攜手開(kāi)發(fā)具有創(chuàng)新性與市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的測(cè)試測(cè)量產(chǎn)品。同時(shí)，雙方將共同拓展市場(chǎng)渠道，分享客戶資源，策劃并執(zhí)行聯(lián)合市場(chǎng)推廣活動(dòng)，進(jìn)一步563瀏覽量 -
測(cè)試計(jì)劃與測(cè)試策略的工程化邊界2025-11-07 10:05
測(cè)試計(jì)劃與測(cè)試策略是軟件測(cè)試管理的核心文檔，但二者有明顯區(qū)別。測(cè)試計(jì)劃（TestPlan）面向具體項(xiàng)目，詳細(xì)說(shuō)明時(shí)間、資源、分工與準(zhǔn)入/退出標(biāo)準(zhǔn)，適用于項(xiàng)目啟動(dòng)或版本發(fā)布前的落地執(zhí)行。測(cè)試策略（TestStrategy）面向組織，定義總體測(cè)試目標(biāo)、方法與質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，指導(dǎo)長(zhǎng)期方向與跨項(xiàng)目一致性。前者強(qiáng)調(diào)執(zhí)行可操作性，后者強(qiáng)調(diào)統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)與戰(zhàn)略指引；二者結(jié)合可讓測(cè)試既229瀏覽量 -
【綜述】工作總有規(guī)范——測(cè)試執(zhí)行和bug2025-10-24 10:04
關(guān)于測(cè)試工作的規(guī)范，上次討論了用例部分。本次將繼續(xù)聊下測(cè)試執(zhí)行期間的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，是主要需要測(cè)試執(zhí)行人員關(guān)注的部分。【測(cè)試執(zhí)行】測(cè)試執(zhí)行規(guī)范或標(biāo)準(zhǔn)，主要是為了確保測(cè)試人員“在正確的環(huán)境做正確的驗(yàn)證”，并且能“留下相關(guān)記錄、準(zhǔn)確及時(shí)地暴露出問(wèn)題”。這里會(huì)包含可測(cè)性確認(rèn)、測(cè)試記錄、問(wèn)題/風(fēng)險(xiǎn)判斷與提交、異常情況處理等；也就是主要與測(cè)試執(zhí)行期關(guān)聯(lián)的要求?？蓽y(cè)性確認(rèn)算可 -
十四年過(guò)去，再談“測(cè)試已死”2025-10-17 10:05
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MEMS傳感器轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試設(shè)備2021-12-13 15:30
聯(lián)合儀器MEMS測(cè)試系統(tǒng)UI320采用測(cè)試機(jī)加轉(zhuǎn)臺(tái)的構(gòu)架，是對(duì)MEMS陀螺儀和加速度計(jì)的測(cè)試平臺(tái)?？蓪?duì)MEMS傳感器芯片進(jìn)行測(cè)試，支持I2C/SPI的通訊方式，提供免費(fèi)的開(kāi)源軟件底層API基于C開(kāi)發(fā)，支持VC,VC++，labview等。2.5k瀏覽量
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上傳時(shí)間：2022-06-02 10:15
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