UI300系列MEMS芯片測試系統(tǒng)是由聯(lián)合儀器推出的基于PXI架構(gòu)的針對MEMS傳感器的高度集成自動(dòng)測試系統(tǒng)解決方案。該系統(tǒng)可以通過專用的硬件配合測試軟件對MEMS傳感器進(jìn)行一系列的DC參數(shù)測試和功能測試。廣泛應(yīng)用與MEMS傳感器開發(fā)與調(diào)試、生產(chǎn)與下線檢測。為了方便用戶適用，聯(lián)合儀器可以提供系統(tǒng)級API接口，用戶可以根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行二次開發(fā)。
--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- Pin Channe 32~224pin (支持多板卡擴(kuò)展)
- Test Rate 10MHz
- PMU PMU per channel/16bit
- DPS -1V~+10V per site; 512mA MAX
- Rang 2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8
--- 數(shù)據(jù)手冊 ---
--- 產(chǎn)品詳情 ---
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UI-7110 六位半數(shù)字多用表2022-06-02 09:35
產(chǎn)品型號：UI-7110 直流電壓：100mV~1000V 直流電流：100μA -10A 交流電壓：100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流電流：100μA~10A(3Hz-10kHz) 電阻：10Ω -100MΩ -
源測量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-06-01 15:32
產(chǎn)品型號：UI-X6330 輸出通道數(shù)(DACs：4 上電后繼電器狀態(tài)：全通道關(guān)閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U -
源測量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-05-31 15:23
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100M動(dòng)態(tài)數(shù)字功能板卡（Timing，PPMU）2022-05-25 15:12
產(chǎn)品型號：UI-X6920 型號：X6920 時(shí)鐘速率：5kHz ~100 MHz 通道數(shù)：32 pins (通過級聯(lián)最高可達(dá)512 pins) Pattern內(nèi)存：64M/每通道 Sequence內(nèi)存：64M/每通道 -
MEMS芯片測試板卡2022-02-21 15:14
產(chǎn)品型號：UI-X6220 時(shí)針?biāo)俾剩?0MHz（最大） 通道數(shù)：32pins?card 驅(qū)動(dòng)電流：正負(fù)32mA DC（最大） 電壓精度：16bits 電壓量程：-1V到+10V -
100M動(dòng)態(tài)數(shù)字功能板卡（Timing，PPMU）2022-02-21 11:29
產(chǎn)品型號：UI-X6920 時(shí)針?biāo)俾剩?KHz~100MHz 通道數(shù)：32pins Pattern內(nèi)存：64M/每通道 Sequence：64M/每通道 并行測試能力：Any pin to any site -
MEMS芯片測試系統(tǒng)2021-12-13 17:15
產(chǎn)品型號：UI300系列MEMS傳感器測試機(jī) Pin Channe：32~224pin (支持多板卡擴(kuò)展) Test Rate：10MHz PMU：PMU per channel/16bit DPS：-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang：2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8 -
MEMS芯片測試板卡2021-12-08 14:49
產(chǎn)品型號：UI-X6220 時(shí)鐘速率：10MHz（最大） 通道數(shù)：32pins/card 電壓量程：-1V到正負(fù)10V 驅(qū)動(dòng)電流：正負(fù)32mA DC（最大） 電壓精度：16bits -
BMS測試系統(tǒng)2021-12-02 10:58
產(chǎn)品型號：UI120C系列 集成電池管理系統(tǒng)自動(dòng)測試系統(tǒng) 單體電壓：0.1-5V 電壓輸出精度：正負(fù)1mV 步進(jìn)精度：<0.5mA 隔離電壓：正負(fù)750V 安全保護(hù)：短路保護(hù)，極性反轉(zhuǎn)保護(hù)，過熱保護(hù)，多通道互鎖結(jié)構(gòu) -
BMS測試產(chǎn)品2021-12-02 10:47
產(chǎn)品型號：UI100E 系列 鋰電池模擬模塊 電池仿真通道：16 單體電壓：1.3V-5V 電壓輸出精度：正負(fù)1mV 電壓回讀精度：正負(fù)1mV 電壓輸出步進(jìn)：0.15mV
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為什么資深測試工程師都離不開走查？2025-12-05 10:01
在軟件研發(fā)中，我們常常會(huì)遇到這樣的場景：需求文檔改了三版仍有缺失、開發(fā)代碼已經(jīng)完成卻在測試階段暴露大量邏輯漏洞、自動(dòng)化測試寫到一半才發(fā)現(xiàn)流程設(shè)計(jì)根本無法覆蓋……這些問題看似分散，卻有一個(gè)共同點(diǎn)：它們本可以通過一次有效的Walk-through（走查）避免。當(dāng)團(tuán)隊(duì)日常討論質(zhì)量時(shí)，經(jīng)常會(huì)提到測試、自動(dòng)化、代碼Review，但Walk-through卻是被最多人忽 -
北京漢通達(dá)科技有限公司與蘇州賽邁測控技術(shù)有限公司簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議2025-11-14 10:02
近日，北京漢通達(dá)科技有限公司與蘇州賽邁測控技術(shù)有限公司正式簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議。雙方作為測試測量領(lǐng)域的專業(yè)企業(yè)，本著“資源共享、優(yōu)勢互補(bǔ)、合作共贏”的原則，經(jīng)友好協(xié)商，達(dá)成戰(zhàn)略合作共識。根據(jù)協(xié)議，雙方將充分整合各自的技術(shù)實(shí)力與人力資源優(yōu)勢，攜手開發(fā)具有創(chuàng)新性與市場競爭力的測試測量產(chǎn)品。同時(shí)，雙方將共同拓展市場渠道，分享客戶資源，策劃并執(zhí)行聯(lián)合市場推廣活動(dòng)，進(jìn)一步 -
測試計(jì)劃與測試策略的工程化邊界2025-11-07 10:05
測試計(jì)劃與測試策略是軟件測試管理的核心文檔，但二者有明顯區(qū)別。測試計(jì)劃（TestPlan）面向具體項(xiàng)目，詳細(xì)說明時(shí)間、資源、分工與準(zhǔn)入/退出標(biāo)準(zhǔn)，適用于項(xiàng)目啟動(dòng)或版本發(fā)布前的落地執(zhí)行。測試策略（TestStrategy）面向組織，定義總體測試目標(biāo)、方法與質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，指導(dǎo)長期方向與跨項(xiàng)目一致性。前者強(qiáng)調(diào)執(zhí)行可操作性，后者強(qiáng)調(diào)統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)與戰(zhàn)略指引；二者結(jié)合可讓測試既 -
【綜述】工作總有規(guī)范——測試執(zhí)行和bug2025-10-24 10:04
關(guān)于測試工作的規(guī)范，上次討論了用例部分。本次將繼續(xù)聊下測試執(zhí)行期間的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，是主要需要測試執(zhí)行人員關(guān)注的部分?！緶y試執(zhí)行】測試執(zhí)行規(guī)范或標(biāo)準(zhǔn)，主要是為了確保測試人員“在正確的環(huán)境做正確的驗(yàn)證”，并且能“留下相關(guān)記錄、準(zhǔn)確及時(shí)地暴露出問題”。這里會(huì)包含可測性確認(rèn)、測試記錄、問題/風(fēng)險(xiǎn)判斷與提交、異常情況處理等；也就是主要與測試執(zhí)行期關(guān)聯(lián)的要求?？蓽y性確認(rèn)算可 -
十四年過去，再談“測試已死”2025-10-17 10:05
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如何讓大模型生成你想要的測試用例？2025-09-26 10:01
應(yīng)用大模型生成測試用例，常見的知識庫，測試大模型，微調(diào)，RAG等技術(shù)門檻都不低，甚至很難，因此對于應(yīng)用者而言，最快的方式就是應(yīng)用好提示詞，調(diào)教屬于個(gè)人風(fēng)格的測試用例智能生成模塊，讓智能模板像人一樣，有角色定位，有業(yè)務(wù)背景，有個(gè)人偏好，有目標(biāo)達(dá)成標(biāo)準(zhǔn)，有格式規(guī)范要求等，讓智能模板充當(dāng)你的個(gè)人翻譯官，充分發(fā)揮每一句設(shè)定提示詞的作用和價(jià)值，生成屬于你想要風(fēng)格的測試 -
推薦5個(gè)讓測試效率翻倍的MCP2025-09-19 10:02
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“沒什么可測”時(shí)，測試工程師可以做什么？2025-09-12 10:03
作為一名軟件測試工程師，應(yīng)該都有過這樣的經(jīng)歷：開發(fā)人員還在編碼中，看板上沒有待測試的任務(wù)，沒有即將發(fā)布的版本，也沒有回歸測試的要求...特別是在實(shí)行瀑布模型團(tuán)隊(duì)的研發(fā)早期，或者敏捷模式下迭代早期階段?！皼]什么可測的”，輕松的同時(shí)又有些無所事事，隱隱還會(huì)覺得有些浪費(fèi)人生的焦慮但事實(shí)上，總有東西可以測試的。永遠(yuǎn)都有。如果沒有功能需要測試，我們?nèi)匀挥卸喾N方式可以為432瀏覽量 -
芯片硬件測試用例2025-09-05 10:04
SOC回片，第一步就進(jìn)行核心功能點(diǎn)亮，接著都是在做驗(yàn)證測試工作，所以對于硬件AE，有很多測試要做，bringup階段和芯片功能驗(yàn)收都是在測試找問題，發(fā)現(xiàn)問題->解決問題循環(huán)，因此測試計(jì)劃、測試用例是項(xiàng)目開始的關(guān)鍵，利用白盒和黑盒覆蓋，保證產(chǎn)品質(zhì)量。根據(jù)芯片功能，目標(biāo)市場，進(jìn)行測試立項(xiàng)：依據(jù)BRD/MRD/PRD；計(jì)劃：測試需求分析、人力資源時(shí)間線；測試用例設(shè)
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MEMS傳感器轉(zhuǎn)臺測試設(shè)備2021-12-13 15:30
聯(lián)合儀器MEMS測試系統(tǒng)UI320采用測試機(jī)加轉(zhuǎn)臺的構(gòu)架，是對MEMS陀螺儀和加速度計(jì)的測試平臺?？蓪EMS傳感器芯片進(jìn)行測試，支持I2C/SPI的通訊方式，提供免費(fèi)的開源軟件底層API基于C開發(fā)，支持VC,VC++，labview等。2.4k瀏覽量
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