--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 服務(wù)區(qū)域 全國(guó)
- 服務(wù)資質(zhì) CNAS、CMA、A2LA、VCCI
- 服務(wù)周期 常規(guī)3-5個(gè)工作日
- 服務(wù)形式 寄送樣品或現(xiàn)場(chǎng)操作
- 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 視具體產(chǎn)品或用戶需求而定
- 報(bào)告語(yǔ)言 中英文
- 報(bào)告形式 電子/紙質(zhì)報(bào)告
--- 產(chǎn)品詳情 ---
服務(wù)內(nèi)容
提供數(shù)控機(jī)床、各類便攜電動(dòng)工具、倉(cāng)儲(chǔ)設(shè)備、車間設(shè)備、起重設(shè)備、傳輸設(shè)備、包裝設(shè)備、清潔設(shè)備飛機(jī)廊橋,中央空調(diào)、高頻爐、水處理設(shè)備、大型工業(yè)機(jī)床、升降車的EMC檢測(cè),產(chǎn)品EMC設(shè)計(jì)、仿真服務(wù)。
服務(wù)范圍
工業(yè)設(shè)備研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造企業(yè)。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
IEC 61000-6-1/-2/-3/-4
IEC 61000-4-2/-3/-4/-5/-6/-8/-11/
ITU-T K.20/21(K.44/45)
GB/T 17799.1/.2/.3/.4
GB/T 4824
YD/T 993
GB/T 17626.2/.3/.4/.5/.6/.8/.11
檢測(cè)項(xiàng)目
傳導(dǎo)騷擾(CE)、輻射騷擾(RE)、靜電放電抗擾度ESD、射頻輻射抗擾度RS、電快速瞬變脈沖群抗擾度EFT、浪涌(沖擊)抗擾度Surge、射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度CS、工頻磁場(chǎng)抗擾度PFMF、脈沖磁場(chǎng)抗擾度PMF、電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度DIP。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS、CMA、A2LA、VCCI
測(cè)試周期
5~7天
服務(wù)背景
隨著電子產(chǎn)品的大量使用,環(huán)境中的電磁干擾日益嚴(yán)重,為了保證電子設(shè)備能夠安全穩(wěn)定的工作,需要對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行EMC檢測(cè)、認(rèn)證,我們以致力于為客戶產(chǎn)品上市提供一站式服務(wù)。
我們的優(yōu)勢(shì)
作為全國(guó)領(lǐng)先的第三方實(shí)驗(yàn)室,建有廣州、上海、無(wú)錫、深圳、北京、武漢、西安、成都等8個(gè)檢測(cè)基地并輻射全國(guó),資源全國(guó)統(tǒng)一調(diào)度;擁有領(lǐng)先的儀器設(shè)備和分析手段,測(cè)試項(xiàng)目?jī)?nèi)容全面,提供定制化服務(wù)方案,及時(shí)高效可為您提供一站式優(yōu)質(zhì)服務(wù)。
為你推薦
-
自然科學(xué)基金結(jié)項(xiàng)驗(yàn)收-廣電計(jì)量-分析評(píng)價(jià)與整改優(yōu)化服務(wù)2025-09-23 11:14
產(chǎn)品型號(hào):科研測(cè)試 -
自然科學(xué)基金測(cè)試-科研項(xiàng)目可行性評(píng)估-成果預(yù)測(cè)與驗(yàn)證服務(wù)2025-09-23 11:13
產(chǎn)品型號(hào):科研測(cè)試 -
科研課題驗(yàn)收測(cè)試-元器件與芯片可靠性測(cè)試-第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)2025-09-23 11:12
產(chǎn)品型號(hào):科研測(cè)試 -
科研結(jié)題驗(yàn)收?qǐng)?bào)告編制-研究過(guò)程與成果剖析-第三方檢測(cè)服務(wù)2025-09-23 11:10
產(chǎn)品型號(hào):科研測(cè)試 -
科研項(xiàng)目測(cè)試方案制定-成果的質(zhì)量與合規(guī)性評(píng)估-第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)2025-09-23 11:08
產(chǎn)品型號(hào):科研測(cè)試 -
科研項(xiàng)目方案編制指導(dǎo)-立項(xiàng)依據(jù)與創(chuàng)新點(diǎn)評(píng)估-專項(xiàng)測(cè)試機(jī)構(gòu)2025-09-23 11:05
產(chǎn)品型號(hào):科研測(cè)試 -
科研測(cè)試-廣電計(jì)量-科研項(xiàng)目第三方檢測(cè)咨詢2025-09-23 11:01
產(chǎn)品型號(hào):科研測(cè)試 -
新能源汽車EMC仿真2024-11-18 11:37
產(chǎn)品型號(hào):EMC檢測(cè) 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CMA/CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)3-5個(gè)工作日 服務(wù)形式:寄送樣品或現(xiàn)場(chǎng)操作 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):視具體產(chǎn)品或用戶需求而定 -
微波及天線射頻電磁特性仿真2024-11-18 11:34
產(chǎn)品型號(hào):EMC檢測(cè) 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CMA/CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)3-5個(gè)工作日 服務(wù)形式:寄送樣品或現(xiàn)場(chǎng)操作 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):視具體產(chǎn)品或用戶需求而定 -
線纜線束電磁特性仿真2024-11-18 11:08
產(chǎn)品型號(hào):EMC檢測(cè) 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CMA/CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)3-5個(gè)工作日 服務(wù)形式:寄送樣品或現(xiàn)場(chǎng)操作 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):視具體產(chǎn)品或用戶需求而定
-
應(yīng)對(duì)運(yùn)輸振動(dòng)風(fēng)險(xiǎn):ASTM D3580標(biāo)準(zhǔn)下的測(cè)試策略與性能驗(yàn)證2025-10-15 11:29
在物流運(yùn)輸過(guò)程中,包裝件可能因振動(dòng)、沖擊等動(dòng)態(tài)載荷導(dǎo)致破損,進(jìn)而影響產(chǎn)品安全。ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)作為國(guó)際公認(rèn)的包裝件抗振動(dòng)性能測(cè)試方法,為評(píng)估包裝系統(tǒng)的可靠性提供了科學(xué)依據(jù)。本文將深入解析該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試項(xiàng)目、適用范圍、測(cè)試周期及其重要性。一、ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)的核心測(cè)試項(xiàng)目ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)通過(guò)模擬運(yùn)輸環(huán)境中的振動(dòng)場(chǎng)景,驗(yàn)證包裝件在動(dòng)態(tài)載荷下的防護(hù)116瀏覽量 -
ASTM D4003標(biāo)準(zhǔn)解讀:它為何成為運(yùn)輸包裝安全的核心依據(jù)?2025-10-11 15:36
在全球化貿(mào)易和電子商務(wù)快速發(fā)展的背景下,產(chǎn)品從生產(chǎn)端到消費(fèi)者手中的運(yùn)輸環(huán)節(jié)面臨復(fù)雜的環(huán)境挑戰(zhàn)。ASTMD4003作為行業(yè)內(nèi)認(rèn)可的包裝運(yùn)輸測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),為評(píng)估包裝系統(tǒng)在運(yùn)輸過(guò)程中的可靠性提供了科學(xué)依據(jù),成為企業(yè)降低貨損、提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的重要工具。廣電計(jì)量包裝運(yùn)輸測(cè)試服務(wù)已通過(guò)CNAS/CMA認(rèn)可,測(cè)試操作嚴(yán)格遵循GB/T4857.11、ISTA1A、IATA2A、80瀏覽量 -
電源芯片一次篩選:復(fù)雜流程下的高要求與高效應(yīng)對(duì)2025-08-15 08:48
一次篩選:芯片可靠性的“第一道防線”在集成電路從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的全流程中,一次篩選是保障產(chǎn)品質(zhì)量的核心環(huán)節(jié)。它位于封裝測(cè)試階段前端,通過(guò)多維度的嚴(yán)格測(cè)試,如電性能測(cè)試、環(huán)境應(yīng)力篩選(如高低溫、濕度測(cè)試)以及功能驗(yàn)證等步驟,精準(zhǔn)剔除存在潛在缺陷(如材料瑕疵、工藝誤差導(dǎo)致的性能不達(dá)標(biāo))的芯片,直接影響產(chǎn)品良率、可靠性及終端應(yīng)用安全。隨著芯片向高集成度、先進(jìn)制程發(fā)展, -
電化學(xué)遷移(ECM):電子元件的“隱形殺手” ——失效機(jī)理、環(huán)境誘因與典型案例解析2025-08-14 15:46
-
MIL-STD-810F高低氣壓溫濕度試驗(yàn):確保裝備在極端環(huán)境下的可靠性2025-08-14 11:31
MIL-STD-810是美國(guó)國(guó)防部發(fā)布的一系列環(huán)境工程標(biāo)準(zhǔn),旨在驗(yàn)證軍用裝備在極端環(huán)境下的性能和可靠性。其中,MIL-STD-810F版本發(fā)布于2000年,針對(duì)裝備在高低溫、濕度、氣壓等復(fù)雜環(huán)境下的適應(yīng)性提出了系統(tǒng)的測(cè)試要求。隨著現(xiàn)代軍事裝備部署場(chǎng)景的多樣化(如高原、深海、熱帶雨林等),高低氣壓和溫濕度試驗(yàn)成為評(píng)估裝備環(huán)境耐受性的核心環(huán)節(jié)。測(cè)試項(xiàng)目與技術(shù)要求 -
汽車智能座艙ITU-T測(cè)試認(rèn)證,車載語(yǔ)音通信測(cè)試智慧解決方案2025-06-25 11:04
隨著車聯(lián)網(wǎng)和人工智能技術(shù)的不斷發(fā)展,駕駛者與車機(jī)互動(dòng)場(chǎng)景越來(lái)越多,車機(jī)系統(tǒng)的語(yǔ)音通信質(zhì)量正在變得越來(lái)越重要,各個(gè)國(guó)家和車輛生產(chǎn)廠越來(lái)越重視車載語(yǔ)音通信質(zhì)量的提升。然而,車載語(yǔ)音通信質(zhì)量的提升充滿挑戰(zhàn),麥克風(fēng)和揚(yáng)聲器的布局,各種背景噪聲的處理,以及由射頻引起的問(wèn)題,都顯著影響通話中的語(yǔ)音質(zhì)量,且各個(gè)環(huán)節(jié)的調(diào)節(jié)與控制均與實(shí)際車型及內(nèi)飾相關(guān),需要針對(duì)不同的車型進(jìn)行 -
技術(shù)干貨 | 功能安全術(shù)語(yǔ)的暗黑森林2025-06-10 16:38
在汽車產(chǎn)業(yè)高度發(fā)展的當(dāng)下,功能安全已從抽象概念轉(zhuǎn)化為系統(tǒng)性防控要求。ISO26262定義的核心術(shù)語(yǔ)正是突破概念模糊性的首道門檻——既是工程師協(xié)同的技術(shù)語(yǔ)言,也是實(shí)現(xiàn)安全出行的底層方法論。今天我們就來(lái)聊一下幾個(gè)核心術(shù)語(yǔ),一起走進(jìn)這片功能安全術(shù)語(yǔ)的“暗黑森林”。01安全目標(biāo):頂層安全需求的基石【SafetyGoal】:top-levelSafetyrequire -
技術(shù)干貨 | 汽車功能安全:ISO 26262-2018 的框架探秘2025-06-03 16:29
當(dāng)汽車從機(jī)械時(shí)代邁入智能時(shí)代,電子電氣系統(tǒng)的復(fù)雜度呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)——L3級(jí)自動(dòng)駕駛系統(tǒng)包含超千萬(wàn)行代碼,線控制動(dòng)系統(tǒng)的信號(hào)鏈路涉及20余個(gè)電子控制單元(ECU)。在此技術(shù)背景下,ISO26262-2018作為汽車功能安全的“黃金法則”,通過(guò)全生命周期管理框架,為智能汽車建立了從芯片到整車的安全防護(hù)體系。本文將結(jié)合自動(dòng)駕駛、車聯(lián)網(wǎng)等前沿場(chǎng)景,探討這一標(biāo)準(zhǔn)的框架邏 -
技術(shù)干貨 | 聊一聊功能安全中的ASIL 等級(jí)2025-05-08 14:47
ASIL(AutomotiveSafetyIntegrityLevel,汽車安全完整性等級(jí))作為ISO26262功能安全標(biāo)準(zhǔn)的核心評(píng)估指標(biāo),采用A、B、C、D的分級(jí)體系(D級(jí)為最高風(fēng)險(xiǎn)等級(jí))。通常在項(xiàng)目開(kāi)發(fā)初期概念階段就要根據(jù)相關(guān)項(xiàng)的功能進(jìn)行失效分析,從而確定ASIL等級(jí),以量化的方法平衡該項(xiàng)目開(kāi)發(fā)時(shí)的安全與成本。一、ASIL等級(jí)定義ASIL等級(jí)的確定基于三1620瀏覽量 -
破局SiC封裝瓶頸 | 攻克模組失效分析全流程問(wèn)題2025-04-25 13:41
碳化硅(SiC)作為第三代半導(dǎo)體的核心材料,憑借其高功率密度、優(yōu)異的耐高溫性能和高效的功率轉(zhuǎn)換能力,在新能源汽車、5G通信、數(shù)據(jù)中心等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。然而,先進(jìn)封裝的SiC功率模組在失效分析方面面臨諸多挑戰(zhàn),尤其是在化學(xué)開(kāi)封、X-Ray和聲掃等測(cè)試環(huán)節(jié),國(guó)內(nèi)技術(shù)尚不成熟?;诖?,廣電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析研究所推出了先進(jìn)封裝SiC功率模組失效分析技