--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 服務(wù)區(qū)域 全國
- 服務(wù)資質(zhì) CNAS
- 發(fā)票 可提供
- 加急服務(wù) 可提供
- 報(bào)告類型 中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告
--- 產(chǎn)品詳情 ---
服務(wù)范圍
LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路:光電子器件(國家標(biāo)準(zhǔn))
● GB7000系列燈具國家標(biāo)準(zhǔn)(強(qiáng)制性)
● GB7000.5道路域街路照明燈具安全要求
● GB/T9468-1988道路照明燈具光度測(cè)試
● GB/T9468-2008燈具分布光度測(cè)測(cè)量的一般要求
● GB/T5700-2008《照明測(cè)量方法》標(biāo)準(zhǔn)
檢測(cè)項(xiàng)目
(1)分析大類:成本分析、競(jìng)品分析、失效分析。
(2)常?檢測(cè)項(xiàng)目:導(dǎo)熱能力檢測(cè),光電參數(shù)檢測(cè),氣密性檢測(cè)、可疑污染元素檢測(cè),塑封料、鍍銀層、銅基板、鍵合線等材料質(zhì)量檢測(cè)。
(3)常?失效模式分析:硫化、掉電極、漏電、過電應(yīng)力、鍵合異常、鍍層異常、封裝結(jié)合性變差、散熱能力變差。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
國家在5G通信領(lǐng)域的LED正在取代傳統(tǒng)節(jié)能燈、鹵素?zé)舸罅繎?yīng)用于民用照明、城市亮化工程。市場(chǎng)規(guī)模的無限放大以及市場(chǎng)價(jià)格的不斷降低,造成市場(chǎng)上LED燈珠質(zhì)量參差不齊。降低生產(chǎn)原材料成本的同時(shí)如何不斷提高產(chǎn)品質(zhì)量是LED行業(yè)一直面臨的問題。
我們的優(yōu)勢(shì)
通過對(duì)各種型號(hào)LED燈珠大量、長(zhǎng)時(shí)間的AEC-Q環(huán)境老化試驗(yàn),以及市面上各種LED產(chǎn)品質(zhì)量異常根因分析案例,廣電計(jì)量積累了LED領(lǐng)域最全面的基礎(chǔ)數(shù)據(jù),以及LED上中下游全產(chǎn)業(yè)鏈常?問題的經(jīng)驗(yàn),可幫助企業(yè)根據(jù)失效機(jī)理,指導(dǎo)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)。
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產(chǎn)品型號(hào):EMC檢測(cè) 服務(wù)區(qū)域:全國 服務(wù)資質(zhì):CMA/CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)3-5個(gè)工作日 服務(wù)形式:寄送樣品或現(xiàn)場(chǎng)操作 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):視具體產(chǎn)品或用戶需求而定 -
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產(chǎn)品型號(hào):EMC檢測(cè) 服務(wù)區(qū)域:全國 服務(wù)資質(zhì):CMA/CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)3-5個(gè)工作日 服務(wù)形式:寄送樣品或現(xiàn)場(chǎng)操作 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):視具體產(chǎn)品或用戶需求而定
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應(yīng)對(duì)運(yùn)輸振動(dòng)風(fēng)險(xiǎn):ASTM D3580標(biāo)準(zhǔn)下的測(cè)試策略與性能驗(yàn)證2025-10-15 11:29
在物流運(yùn)輸過程中,包裝件可能因振動(dòng)、沖擊等動(dòng)態(tài)載荷導(dǎo)致破損,進(jìn)而影響產(chǎn)品安全。ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)作為國際公認(rèn)的包裝件抗振動(dòng)性能測(cè)試方法,為評(píng)估包裝系統(tǒng)的可靠性提供了科學(xué)依據(jù)。本文將深入解析該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試項(xiàng)目、適用范圍、測(cè)試周期及其重要性。一、ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)的核心測(cè)試項(xiàng)目ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)通過模擬運(yùn)輸環(huán)境中的振動(dòng)場(chǎng)景,驗(yàn)證包裝件在動(dòng)態(tài)載荷下的防護(hù)246瀏覽量 -
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在全球化貿(mào)易和電子商務(wù)快速發(fā)展的背景下,產(chǎn)品從生產(chǎn)端到消費(fèi)者手中的運(yùn)輸環(huán)節(jié)面臨復(fù)雜的環(huán)境挑戰(zhàn)。ASTMD4003作為行業(yè)內(nèi)認(rèn)可的包裝運(yùn)輸測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),為評(píng)估包裝系統(tǒng)在運(yùn)輸過程中的可靠性提供了科學(xué)依據(jù),成為企業(yè)降低貨損、提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的重要工具。廣電計(jì)量包裝運(yùn)輸測(cè)試服務(wù)已通過CNAS/CMA認(rèn)可,測(cè)試操作嚴(yán)格遵循GB/T4857.11、ISTA1A、IATA2A、103瀏覽量 -
電源芯片一次篩選:復(fù)雜流程下的高要求與高效應(yīng)對(duì)2025-08-15 08:48
一次篩選:芯片可靠性的“第一道防線”在集成電路從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的全流程中,一次篩選是保障產(chǎn)品質(zhì)量的核心環(huán)節(jié)。它位于封裝測(cè)試階段前端,通過多維度的嚴(yán)格測(cè)試,如電性能測(cè)試、環(huán)境應(yīng)力篩選(如高低溫、濕度測(cè)試)以及功能驗(yàn)證等步驟,精準(zhǔn)剔除存在潛在缺陷(如材料瑕疵、工藝誤差導(dǎo)致的性能不達(dá)標(biāo))的芯片,直接影響產(chǎn)品良率、可靠性及終端應(yīng)用安全。隨著芯片向高集成度、先進(jìn)制程發(fā)展, -
電化學(xué)遷移(ECM):電子元件的“隱形殺手” ——失效機(jī)理、環(huán)境誘因與典型案例解析2025-08-14 15:46
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MIL-STD-810是美國國防部發(fā)布的一系列環(huán)境工程標(biāo)準(zhǔn),旨在驗(yàn)證軍用裝備在極端環(huán)境下的性能和可靠性。其中,MIL-STD-810F版本發(fā)布于2000年,針對(duì)裝備在高低溫、濕度、氣壓等復(fù)雜環(huán)境下的適應(yīng)性提出了系統(tǒng)的測(cè)試要求。隨著現(xiàn)代軍事裝備部署場(chǎng)景的多樣化(如高原、深海、熱帶雨林等),高低氣壓和溫濕度試驗(yàn)成為評(píng)估裝備環(huán)境耐受性的核心環(huán)節(jié)。測(cè)試項(xiàng)目與技術(shù)要求 -
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隨著車聯(lián)網(wǎng)和人工智能技術(shù)的不斷發(fā)展,駕駛者與車機(jī)互動(dòng)場(chǎng)景越來越多,車機(jī)系統(tǒng)的語音通信質(zhì)量正在變得越來越重要,各個(gè)國家和車輛生產(chǎn)廠越來越重視車載語音通信質(zhì)量的提升。然而,車載語音通信質(zhì)量的提升充滿挑戰(zhàn),麥克風(fēng)和揚(yáng)聲器的布局,各種背景噪聲的處理,以及由射頻引起的問題,都顯著影響通話中的語音質(zhì)量,且各個(gè)環(huán)節(jié)的調(diào)節(jié)與控制均與實(shí)際車型及內(nèi)飾相關(guān),需要針對(duì)不同的車型進(jìn)行 -
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技術(shù)干貨 | 聊一聊功能安全中的ASIL 等級(jí)2025-05-08 14:47
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破局SiC封裝瓶頸 | 攻克模組失效分析全流程問題2025-04-25 13:41
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