二極管、三極管和集成電路等電子元器件靜電放電敏感度要用 EST883 靜電放電模擬器測(cè)試，它是專門為測(cè)量元器件的靜電放電模擬器，它輸出電壓范圍寬（0～±20kV HBM），精度高（1%），分辨率高（1V， CDM， MM），其輸出電壓和波形符合目前大部分國(guó)際和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-883E/F 方法 3015、MIL-STD-750 方法 1020、MIL-PRP-19500、 MIL-PRP-38535，國(guó)家軍標(biāo) GJB548A-97 方法 3015 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 靜電放電敏感度分類標(biāo)準(zhǔn)要求（等同于美國(guó)軍標(biāo) MIL-STD-883E， 國(guó)家軍標(biāo) GJB1649-93 電子產(chǎn)器防靜電放電控制大綱， 國(guó)家軍標(biāo) GJB128A 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 靜電放電敏感度分類，國(guó)際 ESD 協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn) ANSI/ESD STM 5.1， ANSI/ESD STM 5.2 ，ANSI/ESD STM5.3.1 等標(biāo)準(zhǔn)中的 HBM、MM 和 CDM 測(cè)試

　　2.2 放電重復(fù)時(shí)間（REPEAT TIME）設(shè)置放電時(shí)間間隔可設(shè)置，最小時(shí)間可達(dá) 0.05 秒（s），此一秒鐘內(nèi)放電達(dá) 20 次！一般測(cè)量元器件時(shí)，IEC、ESDA 和 JEDEC 等最小放電重復(fù)時(shí)間為不小于 1 秒，一般設(shè)置為 3 秒。