資料介紹
鉭電容器和獨(dú)石電容器應(yīng)用中的失效分析
樊曉團(tuán) 胡圣 西安微電子技術(shù)研究所(西安710054)
1前言
對于有極性的鉭電容器來說,人們最容易想到的是極性接反引起的擊穿失效。通過多次分析實(shí)例來看,這種失效原因在實(shí)際工作中出現(xiàn)的可能性較小,常常出現(xiàn)的是一種較為隱蔽的原因所導(dǎo)致的失效—焊接溫度高、焊接持續(xù)時(shí)間長。而獨(dú)石瓷介電容器本身為無極性電容器,但在失效分析過程中發(fā)現(xiàn),有些獨(dú)石電容器表現(xiàn)出與極性明顯相關(guān),即兩個(gè)不同方向的漏電流相差很顯著,這正是電容器介質(zhì)中離子遷移的實(shí)際表現(xiàn),采用環(huán)氧樹脂固封后研磨,發(fā)現(xiàn)此類電容器的失效原因是電容器的質(zhì)量隱患所致,受其制造工藝過程的復(fù)雜性影響。
2固體電解質(zhì)鉭電容器的失效分析
某型號機(jī)器在隨機(jī)振動過程中,±15V電壓降至5V左右,后經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn)該電容器短路,在整機(jī)板上的連接如圖1所示。
測試發(fā)現(xiàn),電容器正負(fù)極間已經(jīng)短波,其阻值約為0.1Ω。與原始失效現(xiàn)象一致。采用BT1505型X光機(jī)透視觀察,看到電容器內(nèi)部陽極一端空腔內(nèi)有一塊較大的多余物,其X光機(jī)下的形貌如圖2所示。將電容器振動后在X光機(jī)下?lián)Q不同角度的觀察,發(fā)現(xiàn)多余物可以移動。然后分別將電容器進(jìn)行搖晃、振動、翻轉(zhuǎn),重新測試,電容器時(shí)而短路,時(shí)而正常。證實(shí)電容器失效確是因內(nèi)部多余物引起時(shí)斷時(shí)通。仔細(xì)進(jìn)行解剖分析,剝除電容器陰極金屬外殼,暴露出陽極內(nèi)芯,取出內(nèi)部多余物,在顯微鏡下檢查,此多余物為焊錫,如圖3所示。取出電容器腔體內(nèi)的多余焊錫后,用數(shù)字電橋測試儀測試電容值,結(jié)果正常,100Hz條件下為100.8μf,1kHz條件下為99.5μf。
該鉭電容器因腔體內(nèi)部有焊錫多余物,在振動試驗(yàn)中引起短路失效,產(chǎn)生多余物的原因是焊接不當(dāng),如鉻鐵溫度高,持續(xù)時(shí)間長,引起電容器內(nèi)鉭絲與陽極引線熔焊的焊錫受熱后流出所致。因此我們建設(shè):(1)在焊接器電容器的過程中應(yīng)盡量縮短焊接時(shí)間,以免使電容器內(nèi)焊錫熔化變?yōu)槎嘤辔?,引起短路失效;?)進(jìn)行X射線透視觀察,淘汰有多余物的電容器。用戶接到分析報(bào)告后返回焊接過程檢查,證實(shí)是工作人員鍍錫時(shí)不慎將電容器浸入錫鍋較深且放置時(shí)間較長引起的。類似失效情況還有幾例,所以此類問題應(yīng)引起足夠重視。
樊曉團(tuán) 胡圣 西安微電子技術(shù)研究所(西安710054)
1前言
對于有極性的鉭電容器來說,人們最容易想到的是極性接反引起的擊穿失效。通過多次分析實(shí)例來看,這種失效原因在實(shí)際工作中出現(xiàn)的可能性較小,常常出現(xiàn)的是一種較為隱蔽的原因所導(dǎo)致的失效—焊接溫度高、焊接持續(xù)時(shí)間長。而獨(dú)石瓷介電容器本身為無極性電容器,但在失效分析過程中發(fā)現(xiàn),有些獨(dú)石電容器表現(xiàn)出與極性明顯相關(guān),即兩個(gè)不同方向的漏電流相差很顯著,這正是電容器介質(zhì)中離子遷移的實(shí)際表現(xiàn),采用環(huán)氧樹脂固封后研磨,發(fā)現(xiàn)此類電容器的失效原因是電容器的質(zhì)量隱患所致,受其制造工藝過程的復(fù)雜性影響。
2固體電解質(zhì)鉭電容器的失效分析
某型號機(jī)器在隨機(jī)振動過程中,±15V電壓降至5V左右,后經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn)該電容器短路,在整機(jī)板上的連接如圖1所示。
測試發(fā)現(xiàn),電容器正負(fù)極間已經(jīng)短波,其阻值約為0.1Ω。與原始失效現(xiàn)象一致。采用BT1505型X光機(jī)透視觀察,看到電容器內(nèi)部陽極一端空腔內(nèi)有一塊較大的多余物,其X光機(jī)下的形貌如圖2所示。將電容器振動后在X光機(jī)下?lián)Q不同角度的觀察,發(fā)現(xiàn)多余物可以移動。然后分別將電容器進(jìn)行搖晃、振動、翻轉(zhuǎn),重新測試,電容器時(shí)而短路,時(shí)而正常。證實(shí)電容器失效確是因內(nèi)部多余物引起時(shí)斷時(shí)通。仔細(xì)進(jìn)行解剖分析,剝除電容器陰極金屬外殼,暴露出陽極內(nèi)芯,取出內(nèi)部多余物,在顯微鏡下檢查,此多余物為焊錫,如圖3所示。取出電容器腔體內(nèi)的多余焊錫后,用數(shù)字電橋測試儀測試電容值,結(jié)果正常,100Hz條件下為100.8μf,1kHz條件下為99.5μf。
該鉭電容器因腔體內(nèi)部有焊錫多余物,在振動試驗(yàn)中引起短路失效,產(chǎn)生多余物的原因是焊接不當(dāng),如鉻鐵溫度高,持續(xù)時(shí)間長,引起電容器內(nèi)鉭絲與陽極引線熔焊的焊錫受熱后流出所致。因此我們建設(shè):(1)在焊接器電容器的過程中應(yīng)盡量縮短焊接時(shí)間,以免使電容器內(nèi)焊錫熔化變?yōu)槎嘤辔?,引起短路失效;?)進(jìn)行X射線透視觀察,淘汰有多余物的電容器。用戶接到分析報(bào)告后返回焊接過程檢查,證實(shí)是工作人員鍍錫時(shí)不慎將電容器浸入錫鍋較深且放置時(shí)間較長引起的。類似失效情況還有幾例,所以此類問題應(yīng)引起足夠重視。
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