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連接用戶設(shè)備和 DST1E1DK SCT 設(shè)計(jì)套件

1951221 2022-11-18 | pdf | 102.51KB | 次下載 | 免費(fèi)

資料介紹

描述描述本應(yīng)用筆記旨在說明如何將用戶定義的被測設(shè)備 (DUT) 或開發(fā)板與 DST1E1DK SCT 設(shè)計(jì)套件連接起來。DST1E1DK 開發(fā)板由 Dallas Semiconductor 設(shè)計(jì)，用于方便 Dallas Semiconductor 單芯片收發(fā)器 (SCT) 的用戶測試和原型設(shè)計(jì)。這些板具有一個(gè)基于 8051 處理器的微控制器、板載 EPROM、一個(gè)用于測試不同 Dallas Semiconductor SCT 的插座，以及一個(gè) DS2172 誤碼率測試儀 (BERT)。除了這些功能之外，該板還提供原型設(shè)計(jì)區(qū)域和擴(kuò)展端口。本應(yīng)用筆記的重點(diǎn)是展示如何使用擴(kuò)展端口來擴(kuò)展開發(fā)板的功能，以包括測試用戶定義的設(shè)備或完整的板，從而為用戶提供幾乎無限的測試靈活性。本應(yīng)用筆記旨在說明如何將用戶定義的被測設(shè)備 (DUT) 或開發(fā)板與 DST1E1DK SCT 設(shè)計(jì)套件連接起來。DST1E1DK 開發(fā)板由 Dallas Semiconductor 設(shè)計(jì)，用于方便 Dallas Semiconductor 單芯片收發(fā)器 (SCT) 的用戶測試和原型設(shè)計(jì)。這些板具有一個(gè)基于 8051 處理器的微控制器、板載 EPROM、一個(gè)用于測試不同 Dallas Semiconductor SCT 的插座，以及一個(gè) DS2172 誤碼率測試儀 (BERT)。除了這些功能之外，該板還提供原型設(shè)計(jì)區(qū)域和擴(kuò)展端口。本應(yīng)用筆記的重點(diǎn)是展示如何使用擴(kuò)展端口來擴(kuò)展開發(fā)板的功能，以包括測試用戶定義的設(shè)備或完整的板，從而為用戶提供幾乎無限的測試靈活性。擴(kuò)展端口定義擴(kuò)展端口定義DST1E1DK 板上有兩個(gè)標(biāo)有 J7 和 J10 的擴(kuò)展端口。本應(yīng)用筆記的重點(diǎn)是 J7。擴(kuò)展端口 J7 使用戶可以訪問 8 位微處理器多路復(fù)用地址/數(shù)據(jù)總線、另外四個(gè)最高有效地址位、地址鎖存使能 (ALE)、微處理器讀寫信號（低電平有效 RD 和低電平有效WR ，分別），六個(gè)不同的片選，和四個(gè)獨(dú)立的中斷。此外，它還提供對 5V、3.3V 和接地層的訪問。擴(kuò)展端口 J7 的引出線DST1E1DK 板上有兩個(gè)標(biāo)有 J7 和 J10 的擴(kuò)展端口。本應(yīng)用筆記的重點(diǎn)是 J7。擴(kuò)展端口 J7 使用戶可以訪問 8 位微處理器多路復(fù)用地址/數(shù)據(jù)總線、另外四個(gè)最高有效地址位、地址鎖存使能 (ALE)、微處理器讀寫信號（低電平有效 RD 和低電平有效WR ，分別），六個(gè)不同的片選，和四個(gè)獨(dú)立的中斷。此外，它還提供對 5V、3.3V 和接地層的訪問。擴(kuò)展端口 J7 的引出線如圖 1如圖 1所示。所示。對于大多數(shù)用戶應(yīng)用程序，微處理器總線訪問將是必要的。例如，如果用戶希望對 DUT 或目標(biāo)板中的寄存器進(jìn)行讀寫訪問，則可以通過該總線完成該訪問。如果需要單獨(dú)的地址和數(shù)據(jù)線，可以使用鎖存器（例如 74HC373）很容易地對多路復(fù)用總線進(jìn)行多路分解。示例圖對于大多數(shù)用戶應(yīng)用程序，微處理器總線訪問將是必要的。例如，如果用戶希望對 DUT 或目標(biāo)板中的寄存器進(jìn)行讀寫訪問，則可以通過該總線完成該訪問。如果需要單獨(dú)的地址和數(shù)據(jù)線，可以使用鎖存器（例如 74HC373）很容易地對多路復(fù)用總線進(jìn)行多路分解。示例圖如圖 2如圖 2所示。