測試測量與醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域的模擬技術(shù)趨勢:架構(gòu)領(lǐng)域的系統(tǒng)集成及發(fā)展是未來電子市場成功的關(guān)鍵。實現(xiàn)成功的主要目標(biāo)包括：使產(chǎn)品外型更小、功能更多、功耗更低，并且成本也更低。未來的集成解決方案將以當(dāng)今的分離式解決方案為開發(fā)基礎(chǔ)。制造商利用工藝技術(shù)推動市場發(fā)展，向市場提供集成度更高的產(chǎn)品，在縮小尺寸、降低功耗及成本、提高可靠性的同時提高性能。 成功的路上充滿挑戰(zhàn)，特別是在測試測量與醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用領(lǐng)域尤其如此。上述領(lǐng)域涉及高精尖技術(shù)，因此要求采用速度最快、分辨率最高的電子技術(shù)，才能設(shè)計出獨樹一幟的未來產(chǎn)品。數(shù)字電子技術(shù)的發(fā)展正在推動相關(guān)領(lǐng)域的進步，而模擬電子技術(shù)也同樣重要。 在測試測量與醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用領(lǐng)域，數(shù)字電子技術(shù)通常在軟件和／或固件控制下執(zhí)行多種復(fù)雜功能。數(shù)字以二進制為基礎(chǔ)，也就是說信號只有兩種狀態(tài)，非"開"即"關(guān)"，非"真"即"假"，非"0"即"1"，等等。 現(xiàn)實世界的信號（如聲和光等）是持續(xù)的，我們需采用模擬信號處理技術(shù)來應(yīng)對" 真實"的環(huán)境。用模擬電子技術(shù)通過感應(yīng)器進行信號采樣并帶動傳感器。 我們可將數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC) 與模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 等混合信號產(chǎn)品用于實現(xiàn)模擬和數(shù)字之間的連接。盡管這些器件搭建了數(shù)字與模擬間的橋梁，但我們?nèi)詫⑵湟暈槟M元件。 本文將給出測試測量與醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用領(lǐng)域的實例，并討論未來的發(fā)展趨勢。