對(duì)于需要測(cè)試的應(yīng)用 來(lái)說(shuō)，使用FPGA 的可重編程功能，它 和LabVIEW之間的自動(dòng)化接口 以及CAN分析儀功 能，我們可以很容易地開發(fā)我們的系統(tǒng)。

　　我們需要合適的測(cè)試 平臺(tái)應(yīng)用程序以測(cè)試 微控制器的不同外 設(shè)。比如，為了測(cè)試 SPI接口，我們需 要建立SPI主機(jī)或者從機(jī)作為測(cè)試平 臺(tái)。我們使用LabVIEW FPGA VIs（CAN接 口的CAN VI） 來(lái)創(chuàng)建每個(gè)測(cè)試平 臺(tái)。框架內(nèi)測(cè)試案例構(gòu)造則是指各自的 VI。

　　在框架中，我們可以 創(chuàng)建一個(gè) LabVIEW對(duì)象 以獲取VI引用，對(duì) 于每個(gè)測(cè)試案例的需 求，都為用戶配置了 輸入控件和顯示控件。執(zhí)行自動(dòng)化框架 中的測(cè)試案例，需要 調(diào)用特定的VI，配 置該VI，最后運(yùn)行 它。該框架無(wú)需用戶參與 就可以執(zhí)行測(cè)試。比 如，測(cè)量PWM信號(hào) 的解決方案如下： VI測(cè)量占空比和信 號(hào)頻率，然后將其保 存到Excel文件中。

　　另一種解決方案涉及 從SPI主機(jī)接收數(shù) 據(jù)。作為從機(jī) SPI 的VI 可 以從主機(jī)測(cè)試設(shè)備 （DUT）中接收數(shù) 據(jù)。SPI從機(jī)工作在不同的波特率和變 化的數(shù)據(jù)比特下。用 戶可以配置VI，而 其運(yùn)行取決于測(cè)試設(shè) 備（DUT）的主 SPI的配置。然而，還有一種解決 方案涉及產(chǎn)生所需的 脈沖個(gè)數(shù)以測(cè)試捕獲 和計(jì)數(shù)模塊。VI可 以產(chǎn)生在上升沿或者 下降沿觸發(fā)的脈沖。 在VI運(yùn)行時(shí)，用 戶可以配置VI以產(chǎn) 生所需個(gè)數(shù)的脈沖。