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標(biāo)簽 > 可靠性試驗(yàn)
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肖克利 | 每一個(gè)高端場景都有它的“隱形守護(hù)”——環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備
當(dāng)新能源汽車在-40℃的極寒雪原平穩(wěn)啟動,當(dāng)無人機(jī)穿越南方梅雨季的低空航線精準(zhǔn)作業(yè),當(dāng)光伏組件在高溫高濕環(huán)境下持續(xù)發(fā)電——這些看似順理成章的場景背后,都...
2025-11-28 標(biāo)簽:可靠性試驗(yàn)高低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 450 0
驅(qū)動智能升級:ASTM D6055在自動化包裝機(jī)械中的前沿應(yīng)用
在全球物流高速發(fā)展的今天,包裝機(jī)械的裝卸性能直接關(guān)系到產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中的安全性與完整性。ASTMD6055作為國際公認(rèn)的包裝機(jī)械測試標(biāo)準(zhǔn),通過動態(tài)負(fù)載、...
2025-10-23 標(biāo)簽:自動化可靠性試驗(yàn)沖擊可靠性 640 0
智芯公司入選MEMS器件可靠性試驗(yàn)創(chuàng)新聯(lián)合體首批成員單位
近日,MEMS器件可靠性試驗(yàn)創(chuàng)新聯(lián)合體(以下簡稱“聯(lián)合體”)成立大會在京召開,智芯公司、北京大學(xué)、清華大學(xué)、哈工大、北航、中科院微電子所、中科院空天研究...
2024-05-15 標(biāo)簽:mems可靠性試驗(yàn)智芯 1.5k 0
除了對整體電池包進(jìn)行測試外,還會對電芯模組進(jìn)行詳細(xì)的性能測試。這包括充放電循環(huán)試驗(yàn)、擠壓針刺測試、重物沖擊(碰撞)測試、高溫(常溫)短路測試、火燒測試、...
環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別
環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別
2023-12-08 標(biāo)簽:設(shè)備試驗(yàn)可靠性試驗(yàn) 1.7k 0
一、熱循環(huán)試驗(yàn)熱循環(huán)試驗(yàn)通常包括兩種類型:高低溫循環(huán)試驗(yàn)和溫濕度循環(huán)試驗(yàn)。前者主要考察車燈對高溫、低溫交替循環(huán)環(huán)境的耐抗性,后者則主要考察車燈對高溫高濕...
2023-09-06 標(biāo)簽:測試車燈可靠性試驗(yàn) 1.1k 0
高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對電子電工、汽車摩托、航空航天、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)...
2023-07-12 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱可靠性試驗(yàn)高低溫試驗(yàn)箱 1.4k 0
大氣環(huán)境包含了溫度,濕度,氧氣,氣體污染物及其他腐蝕成分與因素。這些氣體在特定條件下會與吸附于金屬表面的水分子反應(yīng)生成化合物,對于電子產(chǎn)品元器件,整機(jī)或...
2023-02-14 標(biāo)簽:元件可靠性試驗(yàn) 1.8k 0
季豐電子可靠性試驗(yàn)和失效分析自研產(chǎn)品助力眾多實(shí)驗(yàn)室能力提升
季豐電子自2018年成功推出第一款自研產(chǎn)品后,如今已有10多款產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于可靠性試驗(yàn)和失效分析測試,滿足季豐電子自己使用,同時(shí)也對外銷售,并獲得眾多...
2022-06-24 標(biāo)簽:失效分析可靠性試驗(yàn)季豐電子 3.6k 0
可靠性試驗(yàn)是對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采...
2020-05-13 標(biāo)簽:電子元器件可靠性測試可靠性試驗(yàn) 2.7k 0
可靠性試驗(yàn)是什么?哪里實(shí)驗(yàn)室可以測試可靠性?
2018-06-28 標(biāo)簽:可靠性試驗(yàn) 1.3k 0
鹽霧試驗(yàn)是集成電路可靠性試驗(yàn)之一,它可以用來檢驗(yàn)產(chǎn)品的抗腐蝕環(huán)境能力的強(qiáng)弱。而鹽霧試驗(yàn)所需的條件又比較多,這些條件會對試驗(yàn)產(chǎn)生一定的影響。
2012-04-25 標(biāo)簽:集成電路可靠性試驗(yàn)鹽霧技術(shù) 5.5k 0
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