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標(biāo)簽 > 失效分析
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。本章就機械失效分析,失效分析實驗室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學(xué)過程(失效機理),為集成電路封裝糾正...
PCBA端子引腳焊接發(fā)生異常,通過對PCBA基板和端子進(jìn)行一系列分析,定位到問題發(fā)生的原因在于共面性不良,且端子焊接引腳與錫膏接觸程度不足導(dǎo)致。詳細(xì)分析...
失效分析為設(shè)計工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計,使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~,PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。但是由...
某門鈴在使用一段時間出現(xiàn)門鈴失效,將失效樣品剝離,發(fā)現(xiàn)二極管燒損,通過表面觀察、通電間斷性檢測、靜電擊穿、切片分析、SEM分析等手段對樣品進(jìn)行分析,發(fā)現(xiàn)...
熱載流子注入(熱載流子誘生的MOS器件退化是由于高能量的電子和空穴注入柵氧化層引起的,注入的過程中會產(chǎn)生界面態(tài)和氧化層陷落電荷,造成氧化層的損傷。)
抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例分析 金鑒實驗室失效分析方法
隨著LED業(yè)內(nèi)競爭的不斷加劇,LED品質(zhì)受到了前所未有的重視。LED在制造、運輸、裝配及使用過程中,生產(chǎn)設(shè)備、材料和操作者都有可能給LED帶來靜電(ES...
SEM&EDS分析在PCB失效分析中的應(yīng)用
PCB失效原因越來越多,在以前看起來難以發(fā)現(xiàn)的問題,現(xiàn)在可以用掃描電子顯微鏡與能譜(SEM&EDS)分析出來。本文介紹了在PCB生產(chǎn)過程中利用S...
RMA是什么意思?IC芯片設(shè)計失效分析和RMA流程分解
2020年季豐電子集成電路運營工程技術(shù)研討會(GF Seminar 2020)已于2020年12月17日圓滿落幕,應(yīng)廣大客戶要求,現(xiàn)將研討會PPT按系列...
汽車行業(yè)工程技術(shù)中的失效分析、PFMEA DFMEA關(guān)系、文件結(jié)果化分享
失效分析 根據(jù)過程步驟,導(dǎo)出失效并從功能分析中創(chuàng)建失效鏈(即失效結(jié)構(gòu)/失效樹/失效網(wǎng))[詳情見過程FMEA步驟三:功能分析] 失效結(jié)構(gòu)的關(guān)注要素被稱為失...
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