完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>
標簽 > 失效機理
文章:26個 瀏覽:11798次 帖子:5個
電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等),部分功能失效
電阻線或電阻膜在制備過程中都會承受機械應力,使其內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)生畸變,線徑愈小或膜層愈薄,應力影響愈顯著。一般可采用熱處理方法消除內(nèi)應力,殘余內(nèi)應力則可能在...
功率器件的封裝正朝著小體積和3D封裝發(fā)展,在工作損耗不變的情況下,使得器件的發(fā)熱功率密度變得更大,在熱導率和熱阻相同的情況下,會使得封裝體和裸芯的溫度更...
MOSFET等開關器件可能會受各種因素影響而失效。因此,不僅要準確了解產(chǎn)品的額定值和工作條件,還要全面考慮電路工作中的各種導致失效的因素。本系列文章將介...
MOSFET的失效機理:什么是SOA(Safety Operation Area)失效
MOSFET的失效機理本文的關鍵要點?SOA是“Safety Operation Area”的縮寫,意為“安全工作區(qū)”。?需要在SOA范圍內(nèi)使用MOSF...
半導體元器件在整機應用端的失效主要為各種過應力導致的失效,器件的過應力主要包括工作環(huán)境的緩變或者突變引起的過應力,當半導體元器件的工作環(huán)境發(fā)生變化并產(chǎn)生...
溫度導致失效 環(huán)境溫度是導致元件失效的重要因素。 溫度變化對半導體器件的影響:構(gòu)成雙極型半導體器件的基本單元P-N結(jié)對溫度的變化很敏感,當P-N結(jié)反向偏...
失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機理:是導致失效的物理、化學、熱力學或其他過程。1、電阻器的主要
編輯推薦廠商產(chǎn)品技術軟件/工具OS/語言教程專題
電機控制 | DSP | 氮化鎵 | 功率放大器 | ChatGPT | 自動駕駛 | TI | 瑞薩電子 |
BLDC | PLC | 碳化硅 | 二極管 | OpenAI | 元宇宙 | 安森美 | ADI |
無刷電機 | FOC | IGBT | 逆變器 | 文心一言 | 5G | 英飛凌 | 羅姆 |
直流電機 | PID | MOSFET | 傳感器 | 人工智能 | 物聯(lián)網(wǎng) | NXP | 賽靈思 |
步進電機 | SPWM | 充電樁 | IPM | 機器視覺 | 無人機 | 三菱電機 | ST |
伺服電機 | SVPWM | 光伏發(fā)電 | UPS | AR | 智能電網(wǎng) | 國民技術 | Microchip |
Arduino | BeagleBone | 樹莓派 | STM32 | MSP430 | EFM32 | ARM mbed | EDA |
示波器 | LPC | imx8 | PSoC | Altium Designer | Allegro | Mentor | Pads |
OrCAD | Cadence | AutoCAD | 華秋DFM | Keil | MATLAB | MPLAB | Quartus |
C++ | Java | Python | JavaScript | node.js | RISC-V | verilog | Tensorflow |
Android | iOS | linux | RTOS | FreeRTOS | LiteOS | RT-THread | uCOS |
DuerOS | Brillo | Windows11 | HarmonyOS |