有關(guān)100M、1000M以太網(wǎng)一致性測(cè)試問(wèn)題探討交流

100M、1000M以太網(wǎng)一致性測(cè)試

2025-12-14 標(biāo)簽：測(cè)試以太網(wǎng)信號(hào)測(cè)試 44 0

測(cè)試案例分享——OFDR測(cè)試大插損器件長(zhǎng)度的方法與技巧

隨著通信技術(shù)的不斷發(fā)展，光學(xué)器件與系統(tǒng)內(nèi)部集成的組件數(shù)量顯著增加，系統(tǒng)結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜。大量功能各異的光學(xué)組件不可避免地引入更高的插入損耗，從而在復(fù)雜光路中...

2025-12-12 標(biāo)簽：測(cè)試光學(xué) 1k 0

【案例集錦】功率放大器在超聲導(dǎo)波測(cè)試領(lǐng)域研究中的應(yīng)用

關(guān)于超聲導(dǎo)波超聲導(dǎo)波是一種沿特定路徑傳播的超聲波，通常是在結(jié)構(gòu)內(nèi)部（如管道、板材等）沿著邊界條件形成的波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中傳播，利用結(jié)構(gòu)的幾何特性和材料屬性來(lái)引導(dǎo)...

2025-12-11 標(biāo)簽：測(cè)試功率放大器超聲導(dǎo)波 4.1k 0

一文讀懂四探針測(cè)試電阻率的原理

在現(xiàn)代顯微成像技術(shù)中，共聚焦顯微鏡（LSCM）與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡代表了兩種不同層次的成像理念與技術(shù)路徑。它們?cè)诔上裨怼⒎直婺芰?、?yīng)用場(chǎng)景及操作要求等方面...

2025-12-11 標(biāo)簽：測(cè)試電阻率四探針 984 0

ADP8000/7000系列示波器特色功能：深存儲(chǔ)，工程測(cè)試的“時(shí)間放大鏡”

ADP8000/7000系列示波器特色功能一深存儲(chǔ)在高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)、汽車(chē)電子系統(tǒng)開(kāi)發(fā)及復(fù)雜電磁環(huán)境測(cè)試中，工程師們常常面臨一個(gè)核心挑戰(zhàn)：如何獲取較長(zhǎng)時(shí)...

2025-12-11 標(biāo)簽：測(cè)試示波器 96 0

熱重分析儀：為何在某些嚴(yán)格場(chǎng)景下不能直接用于炭黑含量測(cè)試？

熱重分析儀：為何在某些嚴(yán)格場(chǎng)景下不能直接用于炭黑含量測(cè)試？熱重分析儀（TGA）作為材料熱分析的核心設(shè)備，理論上可通過(guò)程序控溫和氣氛切換區(qū)分聚合物、炭黑及...

2025-12-10 標(biāo)簽：測(cè)試分析儀 225 0

高溫工作壽命測(cè)試（HTOL）對(duì)LED車(chē)燈可靠性不可或缺的驗(yàn)證

引言在現(xiàn)代汽車(chē)電子技術(shù)飛速發(fā)展的背景下，LED車(chē)燈已從傳統(tǒng)的照明功能逐步演變?yōu)榧踩?、智能化與個(gè)性化于一體的復(fù)雜系統(tǒng)。無(wú)論是前照燈、日行燈還是尾燈，L...

2025-12-10 標(biāo)簽：測(cè)試LED車(chē)燈 124 0

如何在模型在環(huán)測(cè)試中高效進(jìn)行故障注入測(cè)試

汽車(chē)測(cè)試領(lǐng)域，在模型測(cè)試階段進(jìn)行故障注入，是保障汽車(chē)安全性、可靠性的關(guān)鍵手段。如何提高故障注入測(cè)試的效率呢？

2025-12-10 標(biāo)簽：測(cè)試模型測(cè)試故障注入 833 0

為航空研發(fā)保駕護(hù)航：imc打造閉環(huán)方案助力GVT測(cè)試

Part.1為什么GVT測(cè)試如此關(guān)鍵在航空研發(fā)領(lǐng)域，“安全”與“可靠”永遠(yuǎn)是核心命題。飛機(jī)機(jī)身作為復(fù)雜機(jī)械結(jié)構(gòu)，除了靜態(tài)強(qiáng)度和疲勞性能，動(dòng)態(tài)特性（固有頻...

2025-12-10 標(biāo)簽：測(cè)試航空 75 0

電動(dòng)汽車(chē)太陽(yáng)能天窗的發(fā)電效能光模擬測(cè)試

隨著新能源汽車(chē)產(chǎn)業(yè)向“輕量化、節(jié)能化、智能化”升級(jí)，太陽(yáng)能天窗作為輔助供電系統(tǒng)，其發(fā)電效能直接影響車(chē)輛續(xù)航補(bǔ)能能力與能源利用效率。然而，自然光照的波動(dòng)性...

2025-12-08 標(biāo)簽：電動(dòng)汽車(chē)測(cè)試太陽(yáng)能 86 0

TVS二極管的雪崩測(cè)試：原理、步驟與常見(jiàn)問(wèn)題

TVS二極管（瞬態(tài)電壓抑制二極管）廣泛應(yīng)用于電路中保護(hù)敏感元器件免受瞬時(shí)過(guò)電壓和浪涌電流的損害。為了確保TVS二極管能夠在電路中穩(wěn)定有效地發(fā)揮保護(hù)作用，...

2025-12-08 標(biāo)簽：二極管測(cè)試TVS管 166 0

高壓試驗(yàn)變壓器選型要點(diǎn)是什么？

在實(shí)際生產(chǎn)與檢驗(yàn)中，很多用戶(hù)都會(huì)遇到“測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)大、重復(fù)性差”的困擾，這往往源于選型不當(dāng)導(dǎo)致的磁場(chǎng)不穩(wěn)、溫升異常等問(wèn)題[[1]]。關(guān)鍵材料——硅鋼片鐵...

2025-12-08 標(biāo)簽：變壓器測(cè)試 107 0

大面積鈣鈦礦組件規(guī)?；苽洌撼练e工藝、器件封裝及穩(wěn)定性測(cè)試

在全球能源轉(zhuǎn)型背景下，太陽(yáng)能的高效利用至關(guān)重要。鈣鈦礦太陽(yáng)能電池作為最具前景的第三代光伏技術(shù)，其小面積電池認(rèn)證效率已突破26%，展現(xiàn)出與成熟硅電池媲美的...

2025-12-08 標(biāo)簽：測(cè)試器件封裝鈣鈦礦 338 0

跨越“仿真到實(shí)車(chē)”的鴻溝：如何構(gòu)建端到端高置信度驗(yàn)證體系？

01引言隨著自動(dòng)駕駛功能復(fù)雜度的指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)，單純依賴(lài)道路測(cè)試進(jìn)行驗(yàn)證的成本高昂、周期漫長(zhǎng)且無(wú)法窮盡所有可能的邊緣場(chǎng)景。仿真測(cè)試因此成為研發(fā)流程中不可或缺...

2025-12-05 標(biāo)簽：測(cè)試仿真端到端 835 0

創(chuàng)新！匹配任意現(xiàn)場(chǎng)供電的LIN測(cè)試工具

導(dǎo)讀還在為L(zhǎng)IN口供電問(wèn)題發(fā)愁？ZLG致遠(yuǎn)電子推出的CANFDNET-800H，不僅能實(shí)現(xiàn)LIN口自行供電（5V和12V）和外部電源輸入雙方案，還支持對(duì)...

2025-12-04 標(biāo)簽：測(cè)試供電LIN 114 0

車(chē)載屏幕基礎(chǔ)可靠性功能測(cè)試：守護(hù)智能座艙的“第一道防線”

車(chē)載屏幕的基礎(chǔ)可靠性功能測(cè)試，絕非簡(jiǎn)單的“點(diǎn)亮屏幕、點(diǎn)幾下看看”。它是一個(gè)貫穿顯示、觸控、軟件、硬件、環(huán)境、安全等多領(lǐng)域的系統(tǒng)工程。每一塊最終裝車(chē)的屏幕...

2025-12-04 標(biāo)簽：測(cè)試試驗(yàn)機(jī)智能座艙 1.3k 0

太陽(yáng)光模擬如何增強(qiáng)航天器地面測(cè)試？

航天器在太空中需承受極端輻射、溫度驟變、粒子轟擊等復(fù)雜環(huán)境，材料性能的可靠性直接決定任務(wù)成敗。地面精準(zhǔn)復(fù)刻太空輻射環(huán)境是保障航天器安全性的關(guān)鍵，紫創(chuàng)測(cè)控...

2025-12-03 標(biāo)簽：測(cè)試航天器太陽(yáng)光 118 0

納米超疏水涂層在LED燈板過(guò)雙85環(huán)境測(cè)試應(yīng)用案例

納米超疏水涂層在LED燈板過(guò)雙85環(huán)境測(cè)試應(yīng)用案例1，試驗(yàn)前將電控板安裝在產(chǎn)品上并插好電源插座，在額定電壓下開(kāi)啟產(chǎn)品，空載工作5min，以B型試驗(yàn)探棒或...

2025-12-04 標(biāo)簽：測(cè)試防水涂料LED燈板 104 0

什么是壓力蒸煮試驗(yàn)（PCT）？

PCT試驗(yàn)（壓力蒸煮試驗(yàn)）是一種模擬極端環(huán)境條件的測(cè)試方法，通過(guò)將樣品置于高溫、高濕度和高壓的環(huán)境中，評(píng)估其在嚴(yán)苛條件下的性能表現(xiàn)。該試驗(yàn)的核心在于模擬...

2025-12-02 標(biāo)簽：測(cè)試PCT試驗(yàn) 121 0

什么是高壓蒸煮試驗(yàn)加速測(cè)試（HAST）？

HAST試驗(yàn)的背景與重要性在電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)估體系中，環(huán)境應(yīng)力是引發(fā)故障的關(guān)鍵因素之一。據(jù)美國(guó)Hughes航空公司的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示，溫濕度應(yīng)力導(dǎo)致的電子...

2025-12-01 標(biāo)簽：測(cè)試電子產(chǎn)業(yè) 234 0