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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
文章：4775個(gè) 瀏覽：128554次 帖子：722個(gè)
如何在Linux中創(chuàng)建節(jié)點(diǎn)
手把手教你在 Linux 中創(chuàng)建節(jié)點(diǎn)，使其可以進(jìn)行 cat 和 echo 。 我們測(cè)試驅(qū)動(dòng)加載是否正常工作，一般都會(huì)寫(xiě)應(yīng)用程序去測(cè)試，這樣驅(qū)動(dòng)程序中需要...
2023-10-07 標(biāo)簽：測(cè)試驅(qū)動(dòng)Linux 1249 0
DoIP網(wǎng)絡(luò)邏輯圖 一般來(lái)說(shuō)，在工程師或者售后人員控制下的網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)被稱(chēng)為外部測(cè)試設(shè)備（External Test Equipment），外部測(cè)試設(shè)備向車(chē)...
2023-10-07 標(biāo)簽：測(cè)試車(chē)載網(wǎng)絡(luò) 980 0
EEMBC 的 CoreMark? 評(píng)分是一種比較通用的基準(zhǔn)測(cè)試方式，用于測(cè)量嵌入式系統(tǒng)中使用的微控制器（MCU）和中央處理單元（CPU）的性能，可以幫...
2023-10-09 標(biāo)簽：測(cè)試基準(zhǔn)測(cè)試編譯 3074 0
如何使用光學(xué)互連器件優(yōu)化數(shù)據(jù)中心的性能
作者：Jeff Shepard 為了支持云和其他數(shù)據(jù)中心在可靠、低延遲通信方面的需求，對(duì)高速、低功耗和耐用的光纖互連器件的需求也在增長(zhǎng)?？赏ㄟ^(guò)對(duì)光纖收發(fā)...
FreeRTOS 中斷測(cè)試實(shí)驗(yàn) 設(shè)定：FreeRTOS 中優(yōu)先級(jí)低于 configMAX_SYSCALL_INTERRUPT_PRIORITY的中斷會(huì)被...
如何使用valgrind對(duì)代碼進(jìn)行內(nèi)存泄露檢測(cè)
代碼可能存在 內(nèi)存泄露 怎么辦？ 使用 valgrind 可以對(duì)代碼進(jìn)行內(nèi)存泄露檢測(cè)。 valgrind下載安裝 安裝： 1 、tar –jxvf va...
ATA-M210高壓放大器模塊有什么具體優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用？
在電子測(cè)試實(shí)驗(yàn)室中，工程師們對(duì)于功率放大器的需求不盡相同。在很多實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目中需要進(jìn)行測(cè)試系統(tǒng)集成，要求測(cè)試系統(tǒng)中的儀器擁有更小巧、集成度更高的特點(diǎn)，而體積...
ic自動(dòng)化測(cè)試之電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測(cè)試原理和測(cè)試方法
測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時(shí)我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)軟件控制電源給芯片供電輸入，讓芯片處于工作狀態(tài)，之后給芯片的輸出端加載輸出電...
電子電路(如手機(jī)、服務(wù)器等領(lǐng)域)的切換速度和信號(hào)擺動(dòng)率高于以前。同時(shí)，芯片的包裝和信號(hào)擺動(dòng)越來(lái)越小，對(duì)噪聲更敏感。因此，電路設(shè)計(jì)師更關(guān)心電源噪聲的影響。...
關(guān)于硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試，經(jīng)研究，參考肖特基二極管雜質(zhì)濃度測(cè)試方案，兩者幾乎一致，因此，針對(duì)硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試亦采用CV法測(cè)量。
基于DWC_ether_qos的以太網(wǎng)驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)-RTOS環(huán)境移植LWIP與性能測(cè)試
本文轉(zhuǎn)自公眾號(hào)，歡迎關(guān)注 基于DWC_ether_qos的以太網(wǎng)驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)-RTOS環(huán)境移植LWIP與性能測(cè)試 (qq.com) https://mp.w...
本文主要內(nèi)容：汽車(chē)NVH概述、汽車(chē)電機(jī)聲品質(zhì)、汽車(chē)電機(jī)階次分析。
2023-09-07 標(biāo)簽：新能源汽車(chē)測(cè)試NVH 3100 0
LabVIEW調(diào)用C#編寫(xiě)的.NET類(lèi)庫(kù)
本文主要是LabVIEW無(wú)法調(diào)用回調(diào)函數(shù)dll的問(wèn)題的解決方法，也介紹了LabVIEW調(diào)用C#庫(kù)的方法。
軟件代碼結(jié)構(gòu)化覆蓋測(cè)試-分支覆蓋
本篇我們介紹分支覆蓋，從測(cè)試技術(shù)對(duì)代碼的測(cè)試程度上來(lái)說(shuō)，在復(fù)雜代碼中，分支覆蓋比語(yǔ)句覆蓋效果要好。
電子產(chǎn)品中的導(dǎo)體連接部位的金屬?gòu)椘?5%是使用銅材質(zhì)（黃銅、磷銅、紅銅，洋白銅、鈹銅）
2023-08-30 標(biāo)簽：電子產(chǎn)品測(cè)試材料 1162 0
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