UWB認(rèn)證的重要性與測(cè)試方法

回顧偉大無線創(chuàng)新的歷史，推動(dòng)技術(shù)走上成功之路的共同因素是基于其構(gòu)建的廣泛生態(tài)系統(tǒng)。在過去 20 年間，Wi-Fi 和 Bluetooth 所取得的成功主...

2022-06-24 標(biāo)簽：測(cè)試wi-fiUWB 3666 0

關(guān)于Wi-Fi CERTIFIED EasyMesh測(cè)試計(jì)劃v4.1版本

近日，Wi-Fi聯(lián)盟更新了Wi-Fi CERTIFIED EasyMesh測(cè)試計(jì)劃v4.1版本，以闡明與測(cè)試用例適用性的相關(guān)條件，此版本將Wi-Fi A...

2022-06-24 標(biāo)簽：測(cè)試wi-fiDEKRA 3452 0

PCB焊盤設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)

1、貼片元器件兩端沒連接插裝元器件的必須增加測(cè)試點(diǎn)，測(cè)試點(diǎn)直徑在1.0mm~1.5mm之間為宜，以便于在線測(cè)試儀測(cè)試。測(cè)試點(diǎn)焊盤的邊緣至少離周圍焊盤邊緣...

2022-06-23 標(biāo)簽：pcb測(cè)試焊盤 2493 0

動(dòng)力電池的混合脈沖功率特性測(cè)試

混合脈沖功率特性（Hybird Pulse Power Characterization，簡(jiǎn)稱HPPC）測(cè)試是動(dòng)力電池性能評(píng)估中的一項(xiàng)重要的測(cè)試方法，該...

2022-06-22 標(biāo)簽：動(dòng)力電池測(cè)試脈沖電流 6991 0

多通道電子負(fù)載的功能特點(diǎn)

多通道電子負(fù)載模組化設(shè)計(jì)，不同功率的電子負(fù)載模組可自由組合，同一電子負(fù)載控制外框可達(dá)8個(gè)通道，適合多組輸出開關(guān)式電源供應(yīng)器的測(cè)試

2022-06-22 標(biāo)簽：測(cè)試電子負(fù)載多通道 1860 0

電路特性分析測(cè)試的簡(jiǎn)單介紹

用于諸如放大器、混頻器和濾波器等電路的晶圓級(jí)測(cè)量的測(cè)試系統(tǒng)的規(guī)范化會(huì)頗具挑戰(zhàn)性，特別是當(dāng)單個(gè)晶圓可容納多種電路類型時(shí)，為驗(yàn)證這些結(jié)構(gòu)所需進(jìn)行的測(cè)試是廣泛...

2022-06-21 標(biāo)簽：電路測(cè)試 1259 0

太赫茲測(cè)試的簡(jiǎn)單介紹

太赫茲（THz）技術(shù)歷來是體積龐大且昂貴的系統(tǒng)，僅用于射電天文學(xué)和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用。但是，近年來取得的技術(shù)進(jìn)步使太赫茲技術(shù)有可能在成像，通信，國土安全以及藥物...

2022-06-21 標(biāo)簽：測(cè)試太赫茲 2050 0

產(chǎn)品可靠性MTBF測(cè)試的詳細(xì)說明

1 MTTF 產(chǎn)生背景? 現(xiàn)如今，電子產(chǎn)品更新日趨頻繁，產(chǎn)品投產(chǎn)前的可靠性測(cè)試便顯得尤為重要。與此同時(shí)，在日常工作中，我們發(fā)現(xiàn)，客戶的設(shè)計(jì)規(guī)格要求一般會(huì)...

2022-06-20 標(biāo)簽：測(cè)試MTBF 2401 0

羅德與施瓦茨聯(lián)合中關(guān)村泛聯(lián)院構(gòu)建通信感知一體化測(cè)試解決方案

中關(guān)村泛聯(lián)移動(dòng)通信技術(shù)創(chuàng)新應(yīng)用研究院（以下簡(jiǎn)稱“中關(guān)村泛聯(lián)院”）自2021年成立以來圍繞信息通信領(lǐng)域前沿技術(shù)及其應(yīng)用，推動(dòng)基礎(chǔ)理論和關(guān)鍵技術(shù)攻關(guān)、產(chǎn)業(yè)路...

2022-06-15 標(biāo)簽：測(cè)試羅德與施瓦茨6G 1406 0

羅德與施瓦茨聯(lián)合Comprion開發(fā)出eSIM測(cè)試配置文件

傳統(tǒng) SIM 卡接口的移動(dòng)設(shè)備先前需要使用專用的測(cè)試 SIM卡在測(cè)試實(shí)驗(yàn)室中使用綜測(cè)儀進(jìn)行測(cè)試?，F(xiàn)在，對(duì)于不支持物理上更換eSIM(嵌入式 SIM)的移...

2022-06-15 標(biāo)簽：測(cè)試羅德與施瓦茨eSIM 1548 0

晶圓上超導(dǎo)材料低溫晶圓測(cè)試正在升溫

? 近年來，在低溫（低于123K或-150°C）下，晶圓上超導(dǎo)材料，其他新型材料和傳統(tǒng)半導(dǎo)體的使用迅速增長(zhǎng)。具有創(chuàng)造力的新型傳感器利用了非常低的溫度下獨(dú)...

2022-06-13 標(biāo)簽：測(cè)試晶圓 480 0

信號(hào)完整性常用的一些測(cè)試方法和使用的儀器

使用示波器進(jìn)行波形測(cè)試，這是信號(hào)完整性測(cè)試中最常用的評(píng)估方法。主要測(cè)試波形幅度、邊沿和毛刺等，通過測(cè)試波形的參數(shù)，可以看出幅度、邊沿時(shí)間等是否滿足器件接...

2022-06-10 標(biāo)簽：測(cè)試示波器信號(hào)完整性 5022 0

智能手機(jī)開發(fā)周期中都需要做哪些測(cè)試

2020年7月，是德科技宣布了對(duì)Eggplant公司的收購。Eggplant 是一家行業(yè)領(lǐng)先的軟件測(cè)試自動(dòng)化平臺(tái)提供商，致力于幫助客戶通過人工智能(AI...

2022-06-09 標(biāo)簽：測(cè)試智能手機(jī)Keysight 2105 0

CM300xi-ULN探針臺(tái)基本實(shí)現(xiàn)即插即用

將高性能閃爍噪聲或相位噪聲實(shí)驗(yàn)室安裝在不良位置會(huì)降低其性能。與開發(fā)高性能系統(tǒng)一樣，對(duì)于負(fù)責(zé)安裝新探針臺(tái)的實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員來說，找到一個(gè)好位置可能是一項(xiàng)耗時(shí)...

2022-06-08 標(biāo)簽：測(cè)試探針噪聲放大器 563 0

Infinity探針系列如何真正提高測(cè)試工程團(tuán)隊(duì)的生產(chǎn)力

我們的設(shè)備表征和建模的理想選擇InfinityProbe?系列產(chǎn)品在鋁墊上具有極低的接觸電阻，具有無與倫比的RF測(cè)量精度，可實(shí)現(xiàn)高度可靠，可重復(fù)的測(cè)量。...

2022-06-07 標(biāo)簽：測(cè)試探針接觸電阻 535 0

連接器產(chǎn)品檢驗(yàn)要求主要體現(xiàn)在哪些方面

經(jīng)過測(cè)試和檢驗(yàn)，連接器在性能和質(zhì)量上都有保障，使用起來也更加安全。隨著電子產(chǎn)品的發(fā)展，連接器的性能也在向高速化、高集成化、數(shù)字化方向發(fā)展，體積也越來越小...

2022-06-07 標(biāo)簽：測(cè)試連接器檢驗(yàn) 2867 0

Incal Echo/DI兩種低功率老化爐的簡(jiǎn)單對(duì)比

隨著這兩年芯片熱的興起，特別是國內(nèi)設(shè)計(jì)公司的快速發(fā)展，客戶群體對(duì)于可靠性老化測(cè)試需求呈快速增長(zhǎng)趨勢(shì)。目前季豐電子是國內(nèi)唯一一家擁有多臺(tái)INCAL老化爐的...

2022-06-06 標(biāo)簽：測(cè)試實(shí)驗(yàn)室老化 6942 0