多功能導(dǎo)電能力測試儀電路

多功能導(dǎo)電能力測試儀電路由探測電極、電阻分壓器、緩沖電路和雙色二極管組成，如圖所示。探測電極可感知被測物的電阻，根據(jù)被測物電阻的大小控制雙色發(fā)光二極管發(fā)...

2012-08-01 標(biāo)簽：電路測試導(dǎo)電 2218 0

簡單介紹LTE測試技術(shù)的相關(guān)基礎(chǔ)知識(shí)

長期演進(jìn)（LTE）無線網(wǎng)絡(luò)給測試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址（OFDMA）技術(shù)，在上行采用單載頻頻分多...

2012-07-17 標(biāo)簽：測試LTE基礎(chǔ)知識(shí) 1689 0

測試竅門：選擇合適的示波器帶寬

帶寬是大多數(shù)工程師在選擇一款示波器時(shí)首先考慮的參數(shù)。本文將為您提供一些有用的竅門，教您如何為您的數(shù)字和模擬應(yīng)用選擇合適的示波器 帶寬。但首先，我們先看看...

2012-07-12 標(biāo)簽：測試示波器帶寬 5245 0

多重通訊的挑戰(zhàn)與測試方案

現(xiàn)今的個(gè)人通訊產(chǎn)品都傾向多重通訊功能方向發(fā)展，多重通訊裝置意指單一裝置中具備多種射頻和連結(jié)方式，如在市場熱賣的蘋果品牌 iPhone或智能手機(jī)就具備藍(lán)牙...

2012-07-04 標(biāo)簽：測試無線 931 1

多標(biāo)準(zhǔn)無線電基站發(fā)射機(jī)測試

下一代基站發(fā)射機(jī)和接收機(jī)將會(huì)支持更寬的帶寬，不僅包括采用單一無線制式的多載波（MC），還包括在單一發(fā)射機(jī)路徑中的多種制式。例如，GSM、W-CDMA和L...

2012-06-21 標(biāo)簽：測試無線電基站發(fā)射機(jī) 1477 0

基于802.11的高速藍(lán)牙技術(shù)測試

　　IMT-2000和802.11無線電會(huì)相互干擾，除非彼此在2.6GHz時(shí)的距離能達(dá)到8公尺左右，而在2.3GHz時(shí)的距離可達(dá)到16公尺左右。

2012-05-18 標(biāo)簽：測試802.11高速藍(lán)牙技術(shù) 2985 0

實(shí)現(xiàn)高速串行I/O效率的嵌入式測試

　　隨著技術(shù)的進(jìn)步，電子產(chǎn)業(yè)自身在不斷地發(fā)明創(chuàng)新。嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)師相當(dāng)清楚這一點(diǎn)，許多人開發(fā)的應(yīng)用數(shù)量甚至可以橫跨幾代電子技術(shù)和微處理器技術(shù)。

2012-05-18 標(biāo)簽：測試嵌入式測試 1217 0

最新測試技術(shù)在芯片良率提高中發(fā)揮新作用

在納米設(shè)計(jì)時(shí)代，可制造性設(shè)計(jì)（DFM）方法在提高良率方面中已經(jīng)占據(jù)了中心地位。為了實(shí)現(xiàn)更高的良率，人們在初始設(shè)計(jì)和制造過程本身采用了各種技術(shù)。由于采用了...

2012-05-10 標(biāo)簽：測試芯片測試 2071 0

LED驅(qū)動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測試方案

提高系統(tǒng)的可靠性的根源在于系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。要使系統(tǒng)的元器件工作在正常狀態(tài)下，沒有過載超負(fù)荷等現(xiàn)象的發(fā)生，并且要有一定的余量。也可以通過設(shè)計(jì)備用 方案，使系統(tǒng)...

2012-05-09 標(biāo)簽：LED測試LED驅(qū)動(dòng)器 2817 0

為高電壓測試選擇最佳電纜

確保測試期間使用的電纜符合測試系統(tǒng)最大電壓額定值。在功率器件關(guān)閉狀態(tài)特性分析期間經(jīng)常遇到高壓、低電流測試，要使用能夠?qū)崿F(xiàn)這類測試所需性能的電纜。在高壓測...

2012-05-08 標(biāo)簽：測試IT吉時(shí)利 1057 0

復(fù)雜RF環(huán)境下的RFID測試

隨著設(shè)備價(jià)格的下降及全球市場擴(kuò)大，RFID應(yīng)用正面臨飛速發(fā)展。嵌入式RFID的使用量不斷提高，隨著泛在ID中心（Ubiquitous ID Center...

2012-05-07 標(biāo)簽：測試RFIDRF 1817 0

RFID測試技術(shù)分析

隨著閱讀器與標(biāo)簽價(jià)格的降低和全球市場的擴(kuò)大，射頻標(biāo)識(shí) RFID（以下簡稱RFID）的應(yīng)用與日俱增。標(biāo)簽既可由閱讀器供電（無源標(biāo)簽），也可以由標(biāo)簽的板上電...

2012-05-03 標(biāo)簽：測試RFID 1255 0

設(shè)計(jì)早期對EMC的考慮

隨著產(chǎn)品復(fù)雜性和密集度的提高以及設(shè)計(jì)周期的不斷縮短，在設(shè)計(jì)周期的后期解決電磁兼容性（EMC）問題變得越來越不切合實(shí)際。在較高的頻率下，你通常用來計(jì)算EM...

2012-05-02 標(biāo)簽：測試EMC 1588 0