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電子顯微鏡,簡(jiǎn)稱電鏡,英文名Electron Microscope(簡(jiǎn)稱EM),經(jīng)過(guò)五十多年的發(fā)展已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。
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聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用
聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域...
掃描透射電子顯微鏡(STEM)掃描透射電子顯微鏡(STEM)是一種融合了透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)部分特點(diǎn)的先進(jìn)顯微技術(shù)。該技術(shù)...
在科學(xué)研究與工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域,掃描電鏡作為探索微觀世界的利器,發(fā)揮著不可替代的作用。從材料科學(xué)中觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)與性能,到生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域展示細(xì)胞的表面形態(tài),...
以下是一份大樣品倉(cāng)掃描電鏡的購(gòu)買指南:1、明確需求-樣品尺寸和類型:確定經(jīng)常需要觀察的樣品的最大尺寸、形狀以及樣品的性質(zhì),如導(dǎo)電性、磁性等。例如,若研究...
sem掃描電鏡是測(cè)什么的?哪些學(xué)科領(lǐng)域會(huì)經(jīng)常使用到掃描電鏡?
SEM掃描電鏡即掃描電子顯微鏡,主要用于以下方面的檢測(cè):1、材料微觀形貌觀察-材料表面結(jié)構(gòu):可以清晰地觀察到材料表面的微觀結(jié)構(gòu),如金屬材料的表面紋理、陶...
掃描電子顯微鏡(SEM)具有高分辨率、大景深、可觀察多種信號(hào)等特點(diǎn),在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,以下是一些主要的應(yīng)用方面:一、材料科學(xué)領(lǐng)域-金屬材料研...
離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)是將聚焦離子束(FIB)技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM?FIB-SEM...
掃描電子顯微鏡(SEM)有多種分類方式,具體如下:1、按電子槍種類分類(1)鎢絲槍掃描電鏡:使用熱鎢極電子槍,陰極為能加熱的鎢絲。優(yōu)點(diǎn)是結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本較...
掃描電子顯微鏡(SEM)原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后,形成極細(xì)的電子束在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。電子束與樣品表面相互作用,激發(fā)出二次電子、背...
什么是聚焦離子束?聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段,近年來(lái)在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了...
桌面式掃描電鏡是掃描電子顯微鏡的一種類型,它在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、功能特點(diǎn)等方面都有自身獨(dú)特之處,以下從其定義、原理、特點(diǎn)、應(yīng)用場(chǎng)景等方面進(jìn)行具體介紹:1、定義與...
機(jī)械研磨和離子濺射技術(shù)是硬質(zhì)材料樣品制備中常用的方法。首先,將樣品通過(guò)機(jī)械研磨的方式制成極薄的片狀,然后利用離子濺射技術(shù)進(jìn)一步減薄至電子能夠穿透的厚度。...
獲得良好的衍射圖譜的前提是制備出優(yōu)質(zhì)的EBSD樣品
電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)在材料科學(xué)領(lǐng)域,電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)自20世紀(jì)90年代末期以來(lái),已經(jīng)成為一種創(chuàng)新且不可或缺的分析工具。EBSD技...
在當(dāng)今時(shí)代,納米科學(xué)因其在眾多行業(yè)中引發(fā)的變革性應(yīng)用,已然成為促進(jìn)人類文明向前發(fā)展的重要驅(qū)動(dòng)力。無(wú)論是在生物醫(yī)學(xué)、能源存儲(chǔ)還是航空宇宙領(lǐng)域,納米技術(shù)都展...
氬離子拋光技術(shù)是一種精密的表面處理工藝,它通過(guò)氬離子束的物理作用,對(duì)樣品表面進(jìn)行細(xì)致的平滑和拋光。這種技術(shù)在提升樣品表面質(zhì)量方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用,特別是在...
鎂合金微觀結(jié)構(gòu)分析:EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)探討
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域,電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)以其卓越的晶體微區(qū)取向和結(jié)構(gòu)分析能力,已經(jīng)成為全球研究者不可或缺的工具。它不...
全自動(dòng)變倍對(duì)焦顯微鏡:晶圓盤檢測(cè)的得力助手
全自動(dòng)變倍對(duì)焦顯微鏡,以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用前景,正成為晶圓盤檢測(cè)領(lǐng)域的一顆璀璨明星。
蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam 550 Samplefab
蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡Crossbeam550Samplefab作為一款專為半導(dǎo)體行業(yè)TEM樣品制備開發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子...
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