高阻抗無(wú)源探頭的詳細(xì)介紹

無(wú)源探頭是一種將示波器連接到受測(cè)試器件或電路的很好方法。它們具有低成本和高可靠性的優(yōu)點(diǎn)，當(dāng)正確使用時(shí)，還提供合理的信號(hào)完整性。本文將從工作原理入手，通過(guò)...

2022-03-28 標(biāo)簽：示波器無(wú)源探頭 3338 0

介紹示波器頻率響應(yīng)、FFT功能以及探頭衰減比對(duì)測(cè)量

示波器測(cè)量是很多工程師需要了解的，畢竟是工程師的“眼睛”，“眼睛”想要亮，對(duì)齊功能就需要了如指掌。今日，博宇訊銘工程師針對(duì)示波器的頻率響應(yīng)、FFT功能以...

2022-08-11 標(biāo)簽：示波器FFT探頭 3329 0

開(kāi)關(guān)電源短路保護(hù)測(cè)試方法

短路保護(hù)測(cè)試是開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的一個(gè)重要測(cè)試內(nèi)容，目的是為了檢測(cè)電源在短路時(shí)是否有保護(hù)能力，從而保護(hù)電路系統(tǒng)以及對(duì)設(shè)備的保護(hù)，防止受到損壞。

2023-11-07 標(biāo)簽：開(kāi)關(guān)電源示波器電子負(fù)載 3312 0

關(guān)于示波器測(cè)量電源紋波時(shí)該考慮的方方面面

紋波是電源的核心指標(biāo)，但如何準(zhǔn)確測(cè)量紋波確實(shí)一個(gè)被廣泛忽略的問(wèn)題。也許您認(rèn)為不就是示波器交流耦合，然后把探頭點(diǎn)在電源上嘛？事實(shí)遠(yuǎn)非如此，本文為您呈現(xiàn)紋波...

2018-03-30 標(biāo)簽：示波器電源紋波 3299 0

PicoScope 7中自動(dòng)保存數(shù)據(jù)文件設(shè)置步驟

觸發(fā)模式（TriggerMode）：選擇“重復(fù)觸發(fā)（Normal）”，即只要觸發(fā)條件滿足示波器即觸發(fā)，否則示波器將等待觸發(fā)，如果不斷的有滿足觸發(fā)條件的信...

2023-05-04 標(biāo)簽：示波器數(shù)據(jù)波形 3287 0

示波器頻域中的尼奎斯特頻率和混疊現(xiàn)象

我們以示波器為例，看看頻域中的尼奎斯特頻率和混疊現(xiàn)象。

2023-10-26 標(biāo)簽：示波器帶寬FFT 3281 0

基于STM32單片機(jī)的簡(jiǎn)易波形發(fā)生器設(shè)計(jì)

系統(tǒng)內(nèi)使用STM32單片機(jī)進(jìn)行主控，proteus內(nèi)部集成示波器，使用按鍵可以調(diào)節(jié)波形的輸出方式，在示波器上可以實(shí)時(shí)觀察波形的變化。

2024-06-27 標(biāo)簽：單片機(jī)示波器STM32 3273 0

數(shù)據(jù)中心使用PAM-4帶來(lái)的挑戰(zhàn)

在數(shù)據(jù)中心和整個(gè) IT 基礎(chǔ)設(shè)施中使用 PAM-4 帶來(lái)了設(shè)計(jì)和測(cè)試挑戰(zhàn)

2022-08-29 標(biāo)簽：示波器發(fā)射機(jī)PAM 3271 0

共基極放大電路的仿真分析

小川給大家介紹的是共基極放大電路的Multisim仿真及分析。希望大家能夠多多支持。

2023-02-27 標(biāo)簽：示波器放大電路仿真 3269 0

利用單片機(jī)和FPGA器件實(shí)現(xiàn)等效和實(shí)時(shí)采樣方式的數(shù)字示波器設(shè)計(jì)

選擇實(shí)時(shí)采樣和等效采樣相結(jié)合的方式，實(shí)時(shí)采樣速率小于1 MS/s，水平分辨率至少為20點(diǎn)/div，故系統(tǒng)50 kHz以下采用實(shí)時(shí)采樣方式，而50 kHz...

2019-05-05 標(biāo)簽：fpga單片機(jī)示波器 3269 0

泰克示波器如何處理示波器噪聲？

噪音是一個(gè)無(wú)處不在的普遍問(wèn)題。幾乎處理電路中的每個(gè)人都必須花費(fèi)一定的時(shí)間來(lái)處理噪聲，要么找到噪聲源來(lái)修復(fù)它，要么降低噪聲對(duì)測(cè)量的影響。那么要如何處理示波器噪聲?

2023-01-12 標(biāo)簽：示波器噪聲泰克示波器 3267 0

利用新一代虛擬探測(cè)功能實(shí)現(xiàn)DDR等信號(hào)去嵌測(cè)試

內(nèi)存廣泛應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品中，內(nèi)存測(cè)試也是產(chǎn)品測(cè)試中的熱點(diǎn)和難點(diǎn)。內(nèi)存測(cè)試中最為關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)目為DQ/DQS/CLK之間的時(shí)序關(guān)系。##Jitter S...

2014-01-06 標(biāo)簽：示波器內(nèi)存測(cè)試 3260 0