放大器自動(dòng)化測(cè)試軟件測(cè)試功率放大器S參數(shù)的詳細(xì)步驟

在功率放大器出廠前需要經(jīng)過(guò)一系列的嚴(yán)格檢測(cè)，以把控產(chǎn)品質(zhì)量，提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。S參數(shù)作為功放的重要指標(biāo)，對(duì)其進(jìn)行S參數(shù)測(cè)試是非常重要的環(huán)節(jié)。NSAT-10...

2024-09-24 標(biāo)簽：放大器自動(dòng)化測(cè)試功率放大器 685 0

電源模塊自動(dòng)化測(cè)試一站式解決方案都包含哪些模塊？

電源模塊自動(dòng)化測(cè)試解決方案會(huì)為企業(yè)提供一體化硬件和自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

2024-09-10 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試電源模塊 870 0

重磅！INTEWORK-TAE通過(guò)ISO26262功能安全認(rèn)證，為產(chǎn)品安全保駕護(hù)航

經(jīng)緯恒潤(rùn)全自主研發(fā)的測(cè)試自動(dòng)化執(zhí)行軟件TAE獲得由獨(dú)立第三方國(guó)際權(quán)威汽車(chē)檢驗(yàn)、檢測(cè)和認(rèn)證機(jī)構(gòu)DEKRA德凱正式授予ISO26262 ASIL D功能安全...

2024-09-08 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試汽車(chē)電子ISO 1925 0

納米軟件帶您了解電源自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的儀器靈活接入與擴(kuò)展

在ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)上開(kāi)發(fā)的電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)比傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其獨(dú)特之處在于擁有極為靈活的系統(tǒng)架構(gòu)。這種架構(gòu)的靈活性體現(xiàn)在自動(dòng)化測(cè)試...

2024-09-03 標(biāo)簽：電源自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)測(cè)試 408 0

開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備：如何實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試？

開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備是將測(cè)試軟件和測(cè)試硬件集成在一個(gè)電源測(cè)試柜中的ate自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，其測(cè)試原理是通過(guò)計(jì)算機(jī)操控測(cè)試儀器，從而減少人工干預(yù)，完成開(kāi)關(guān)電...

2024-08-30 標(biāo)簽：開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試 1638 0

一文了解開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試方案

開(kāi)關(guān)電源作為電子設(shè)備不可或缺的部分，對(duì)其性能的精確測(cè)試一直是業(yè)界的關(guān)注焦點(diǎn)。NSAT-8000開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)提供了自動(dòng)化測(cè)試解決方案，綜合檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源性能。

2024-08-22 標(biāo)簽：開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試 707 0

車(chē)載以太網(wǎng)自動(dòng)化測(cè)試套件—AETP.UDS

AETP.UDS是專為車(chē)載以太網(wǎng)UDS測(cè)試設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試套件，旨在測(cè)試ECU對(duì)ISO 14229協(xié)議規(guī)范實(shí)現(xiàn)的一致性，測(cè)試ECU是否具備上報(bào)故障等關(guān)鍵...

2024-08-21 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試ecu車(chē)載以太網(wǎng) 1264 0

合肥某公司無(wú)源器件S參數(shù)與互調(diào)自動(dòng)化測(cè)試案例分享

針對(duì)客戶面臨的測(cè)試難題、產(chǎn)品特性及測(cè)試需求，納米軟件精心打造了一套定制化的多工位自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，精準(zhǔn)完成無(wú)源器件S參數(shù)和互調(diào)測(cè)試，有效解決了手動(dòng)測(cè)試的低...

2024-08-20 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試無(wú)源器件 791 0

車(chē)載以太網(wǎng)自動(dòng)化測(cè)試套件—AETP.UDS

AETP.UDS是專為車(chē)載以太網(wǎng)UDS測(cè)試設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試套件，旨在測(cè)試ECU對(duì)ISO 14229協(xié)議規(guī)范實(shí)現(xiàn)的一致性，測(cè)試ECU是否具備上報(bào)故障等關(guān)鍵...

2024-08-15 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試車(chē)載以太網(wǎng) 457 0

同星智能即將亮相：上法蘭西大區(qū)投資交流會(huì)、長(zhǎng)安軟件&同星技術(shù)交流日、ATC汽車(chē)軟件與安全技術(shù)周

同星一周展會(huì)TOSUN.EXHIBIT01/上法蘭西大區(qū)投資交流會(huì)2024年7月15日（周一），上法蘭西大區(qū)投資交流會(huì)將在浙江嘉興·敏實(shí)集團(tuán)總部舉辦。同...

2024-07-13 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試長(zhǎng)安汽車(chē)以太網(wǎng) 543 0

SPEA合作伙伴會(huì)議圓滿結(jié)束

SPEANews面對(duì)復(fù)雜多變的全球經(jīng)濟(jì)環(huán)境，SPEA追求長(zhǎng)期價(jià)值創(chuàng)造，不斷迭代升級(jí)產(chǎn)品和服務(wù)，與全球合作伙伴攜手共進(jìn)，構(gòu)筑在自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。近...

2024-06-13 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試ATS 630 0

如何進(jìn)行輻射抗擾度磁場(chǎng)測(cè)試？

一、為什么要進(jìn)行閉環(huán)磁場(chǎng)測(cè)試？ 輻射抗擾度測(cè)試中進(jìn)行閉環(huán)磁場(chǎng)測(cè)試是為了評(píng)估設(shè)備在外部磁場(chǎng)影響下的性能表現(xiàn)。外部磁場(chǎng)可能來(lái)自各種源頭，例如電力線、電動(dòng)機(jī)、...

2024-06-03 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試磁場(chǎng)測(cè)試 1197 0

納米軟件自動(dòng)化測(cè)試方案：新能源車(chē)內(nèi)連接器測(cè)試

在使用納米軟件ATECLOUD自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，系統(tǒng)會(huì)通過(guò)設(shè)定電壓和電流來(lái)調(diào)整電源，并且會(huì)實(shí)時(shí)顯示溫度巡檢儀采集到的溫度數(shù)據(jù)。一旦溫度超過(guò)閾值，系統(tǒng)會(huì)在...

2024-04-29 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試連接器新能源車(chē) 937 0

納米軟件分享：電源管理芯片自動(dòng)化測(cè)試方案

在納米軟件與江蘇某科技公司合作的電源管理芯片產(chǎn)線測(cè)試項(xiàng)目中，需要完成單入單出、單入雙出、單入三出、單入四出系列微模塊的14個(gè)項(xiàng)目的自動(dòng)化測(cè)試。該公司之前...

2024-04-23 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試電源芯片電源管理芯片 695 0

開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)如何簡(jiǎn)化測(cè)試流程

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試涉及的項(xiàng)目較多，因此，采用一套易于操作和便于維護(hù)的測(cè)試系統(tǒng)至關(guān)重要，簡(jiǎn)化整個(gè)測(cè)試流程，提高測(cè)試效率，讓測(cè)試更便捷。NSAT-8000電源綜合...

2024-04-17 標(biāo)簽：開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試 580 0

NSAT-1000測(cè)試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺(tái)對(duì)接，助力晶圓芯片批量自動(dòng)化測(cè)試

在用NSAT-1000系統(tǒng)測(cè)試時(shí)，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺(tái)和網(wǎng)絡(luò)分析儀之間的通訊，通過(guò)探針臺(tái)獲取產(chǎn)品狀態(tài)、位置信息，配合網(wǎng)絡(luò)分析儀完成產(chǎn)品測(cè)試。

2024-03-25 標(biāo)簽：芯片測(cè)試自動(dòng)化測(cè)試 628 0