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標(biāo)簽 > 芯片設(shè)計
《芯片設(shè)計》是2009年11月上??茖W(xué)技術(shù)出版社出版的圖書,作者是(德)B.科爾特,(德)J.菲根。
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芯片設(shè)計中的功耗估計與優(yōu)化技術(shù)
在芯片設(shè)計中,低功耗一直是一個重要的目標(biāo),受到封裝、供電、散熱的約束,并且最大功耗限制越來越嚴(yán)格。在本文中,首先討論了芯片中的功耗來源。接著,闡述了在設(shè)...
射頻識別芯片設(shè)計中時鐘樹功耗的優(yōu)化與實現(xiàn)
在RFID芯片中的功耗主要有模擬射頻前端電路,存儲器,數(shù)字邏輯三部分,而在數(shù)字邏輯電路中時鐘樹上的功耗會占邏輯功耗不小的部分。本文著重從降低數(shù)字邏輯時鐘...
細(xì)數(shù)了不起的25款震撼世界的微芯片設(shè)計(圖文)
微芯片設(shè)計有時就如同我們的生活一樣,有時很小的東西會慢慢積累而變成一件很了不起的東西。設(shè)計一個巧妙的微電路,然后將它刻在一片硅上,你的一個小小的杰作就可...
產(chǎn)生高質(zhì)量芯片:熱設(shè)計注意事項須知
當(dāng)所設(shè)計的芯片需要滿足經(jīng)常不一致的規(guī)格要求時,先進(jìn)的工藝和設(shè)計技術(shù)也會帶來艱巨的挑戰(zhàn)。在納米級設(shè)計中,功耗已經(jīng)成為限制性能的主要因素。納米工藝中使用...
在向先進(jìn)工藝技術(shù)發(fā)展的過程中,半導(dǎo)體公司除需滿足不斷增長的制造要求之外,還要面對日益增長的實現(xiàn)芯片設(shè)計一次性成功的壓力。晶圓廠期待設(shè)計符合那些面向先...
長期可靠性的問題,比如電子遷移(EM)失效機(jī)制,歷來屬于晶圓廠的處理范疇。但隨著納米設(shè)計中可靠性實現(xiàn)的愈加困難,對設(shè)計人員而言,不能再把問題扔給制造...
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