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IC設(shè)計(jì),Integrated Circuit Design,或稱為集成電路設(shè)計(jì),是電子工程學(xué)和計(jì)算機(jī)工程學(xué)的一個(gè)學(xué)科,其主要內(nèi)容是運(yùn)用專業(yè)的邏輯和電路設(shè)計(jì)技術(shù)設(shè)計(jì)集成電路。
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高溫IC設(shè)計(jì)學(xué)習(xí)筆記之環(huán)境溫度和結(jié)溫
隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,商業(yè)、工業(yè)、軍事及汽車等領(lǐng)域?qū)δ透邷丶呻娐罚↖C)的需求持續(xù)攀升?。高溫環(huán)境會(huì)嚴(yán)重制約集成電路的性能、可靠性和安全性,亟需通過創(chuàng)新...
2025-04-21 標(biāo)簽:集成電路IC設(shè)計(jì)安森 489 0
華大九天版圖寄生參數(shù)分析工具Empyrean ADA介紹
在集成電路設(shè)計(jì)中,寄生參數(shù)是決定芯片性能的關(guān)鍵因素之一,尤其是在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)下,其影響愈發(fā)顯著,甚至可能成為影響芯片成敗的決定性因素。
2025-04-19 標(biāo)簽:芯片集成電路IC設(shè)計(jì) 352 0
Microchip通過設(shè)計(jì)內(nèi)signoff DRC在成熟節(jié)點(diǎn)定制IC設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)顯著的生產(chǎn)率提升
版圖設(shè)計(jì)人員和 CAD 工程師利用多種工具,例如 Calibre RealTime 平臺(tái)和 Calibre nmDRC Recon 早期設(shè)計(jì) DRC 工...
2025-04-13 標(biāo)簽:microchipIC設(shè)計(jì)eda 341 0
西門子EDA助力提升IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證效率
本文將簡要概述使用 S-Edit 原理圖輸入環(huán)境的前端流程,然后更詳細(xì)地描述 Analog FastSPICE (AFS) 平臺(tái)仿真器以及使用該仿真器進(jìn)...
2025-03-10 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)西門子仿真器 920 0
使用環(huán)旭電子FEDS平臺(tái)解決電源完整性模擬難題
在現(xiàn)代高速電子系統(tǒng)中,電源完整性是指確保電子系統(tǒng)中所有元件都能穩(wěn)定、準(zhǔn)確地獲得電源電壓和電流,以確保系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行,避免受到雜訊或波動(dòng)的影響。電源完整性已...
2025-01-14 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)電子系統(tǒng)電源完整性 481 0
FIFO是FPGA/IC設(shè)計(jì)中經(jīng)常使用到的模塊,它經(jīng)常被用在兩個(gè)模塊之間進(jìn)行數(shù)據(jù)的緩存,以避免數(shù)據(jù)在傳輸過程中丟失。同時(shí)FIFO也經(jīng)常被用在跨時(shí)鐘域處理中。
2024-10-25 標(biāo)簽:FPGAIC設(shè)計(jì)fifo 781 0
Lint靜態(tài)驗(yàn)證工具如何助力IC設(shè)計(jì)
近年來IC設(shè)計(jì)的規(guī)模和復(fù)雜度不斷增大,產(chǎn)品的迭代周期越來越短,傳統(tǒng)的驗(yàn)證方式已經(jīng)難以滿足設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)的要求。在“設(shè)計(jì)左移”這一理念的趨勢下,設(shè)計(jì)流程和方法學(xué)...
2024-09-03 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)靜態(tài)驗(yàn)證英諾達(dá) 1509 0
先進(jìn)IC設(shè)計(jì)中如何解決產(chǎn)熱對可靠性的影響?
隨著電子設(shè)備性能的不斷提升和微縮技術(shù)的進(jìn)步,熱效應(yīng)在集成電路(IC)設(shè)計(jì)中扮演著越來越重要的角色。現(xiàn)代集成電路的高密度和復(fù)雜性使得熱量的產(chǎn)生和管理成為影...
2024-08-10 標(biāo)簽:集成電路IC設(shè)計(jì)熱效應(yīng) 659 0
DFT Design For Test,可測性設(shè)計(jì)。芯片內(nèi)部往往都自帶測試電路,DFT的目的就是在設(shè)計(jì)的時(shí)候就考慮將來的測試。DFT的常見方法就是,在設(shè)...
2024-04-30 標(biāo)簽:寄存器IC設(shè)計(jì)芯片設(shè)計(jì) 1368 0
半導(dǎo)體IC設(shè)計(jì)是什么?IC設(shè)計(jì)和芯片設(shè)計(jì)區(qū)別
半導(dǎo)體IC設(shè)計(jì)是什么半導(dǎo)體IC設(shè)計(jì)(IntegratedCircuitDesign)是指基于半導(dǎo)體工藝,按照一定的電路設(shè)計(jì)規(guī)則和原理,在晶片上集成多個(gè)器...
2024-04-03 標(biāo)簽:芯片半導(dǎo)體電路設(shè)計(jì) 2396 0
對于功耗估算來說,架構(gòu)階段為時(shí)過早,物理設(shè)計(jì)階段為時(shí)已晚。有一種趨勢是在項(xiàng)目的RTL階段分析power hot spots。與后期分析相比,基于 RTL...
2024-04-05 標(biāo)簽:寄存器IC設(shè)計(jì)soc 2524 0
一個(gè)完整的電路設(shè)計(jì)中必然包含前仿真和后仿真兩個(gè)部分,它們都屬于芯片驗(yàn)證中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
2024-03-29 標(biāo)簽:電路設(shè)計(jì)IC設(shè)計(jì) 1810 0
IC設(shè)計(jì)中值得解決的小問題—screen如何兼容256Color
隨著計(jì)算機(jī)硬件的巨大進(jìn)步,圖形界面的程序逐漸占據(jù)了應(yīng)用的主流,不過Terminal得益于性能、帶寬,以及傳統(tǒng)、繼承等各種因素,應(yīng)用也還是非常廣泛的。
2024-03-21 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)VerilogVIM 1804 0
Vcs/Xrun環(huán)境中VCD/FSDB/SHM/VPD的Dump方法詳解
VCD是一個(gè)通用的格式。VCD文件是1EEE1364標(biāo)準(zhǔn)(Verilog HDL語言標(biāo)準(zhǔn))中定義的一種ASCI文件。
2024-03-21 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)VCDeda 1.1萬 0
SPICE在晶體管級別的仿真方面表現(xiàn)出色;然而,IC設(shè)計(jì)工程師要盡一切可能,讓人難以分辨運(yùn)算放大器中是否存在晶體管。他們希望您能夠使用運(yùn)算放大器手冊為設(shè)...
2024-03-14 標(biāo)簽:運(yùn)算放大器IC設(shè)計(jì)SPICE 1762 0
數(shù)字前端設(shè)計(jì)流程中,.lib 后綴的文件通常是 Synopsys Liberty 文件。這是一種描述單元時(shí)序、功耗等參數(shù)的文本文件。
2024-03-13 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)VIMLINUX內(nèi)核 1725 0
半導(dǎo)體IC設(shè)計(jì)是什么 ic設(shè)計(jì)和芯片設(shè)計(jì)區(qū)別
半導(dǎo)體 IC 設(shè)計(jì)的目的是將多個(gè)電子元件、電路和系統(tǒng)平臺(tái)集成在一個(gè)半導(dǎo)體襯底上,從而實(shí)現(xiàn)芯片尺寸小、功耗低、集成度高、性能卓越的優(yōu)勢。
2024-03-11 標(biāo)簽:集成電路IC設(shè)計(jì)電子元件 2920 0
介紹一個(gè)IC設(shè)計(jì)錯(cuò)誤案例:可讀debug寄存器錯(cuò)誤跨時(shí)鐘
本文將介紹一個(gè)跨時(shí)鐘錯(cuò)誤的案例如圖所示,phy_status作為一個(gè)多bit的phy_clk時(shí)鐘域的信號(hào),需要輸入csr模塊作為一個(gè)可讀狀態(tài)寄存器
2024-03-11 標(biāo)簽:寄存器IC設(shè)計(jì)PHY 735 0
IC設(shè)計(jì):ram的折疊設(shè)計(jì)操作步驟
在IC設(shè)計(jì)中,我們有時(shí)會(huì)使用深度很大,位寬很小的ram。例如深度為1024,位寬為4bit的ram。
2024-03-04 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)RAM 2329 0
國產(chǎn)EDA如何?EDA設(shè)計(jì)的重要性
EDA,是指電子設(shè)計(jì)自勱化( Electronic Design Automation)用于芯片設(shè)計(jì)時(shí)的重要工具,設(shè)計(jì)時(shí)工程師會(huì)用程式碼規(guī)劃芯片功能,再...
2024-02-27 標(biāo)簽:邏輯電路IC設(shè)計(jì)芯片設(shè)計(jì) 1938 0
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