EMC--電磁兼容測試介紹

EMC全稱Electro-Magnetic Compatibility。指的是設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。EMC是評價(jià)產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)。

EMC測試包括：

（1）EMI（Electro- Magnetic Interference）---電磁騷擾測試

此測試之目的為：檢測電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。

（2）EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）---電磁抗擾度測試

此測試之目的為：檢測電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。

其中EMI包括：

（1） 輻射騷擾測試（RE）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN55022

（2） 傳導(dǎo)騷擾測試（CE）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN55022

（3） 諧波電流測試（Harmonic）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN 61000-3-2

（4） 電壓變化與閃爍測試（Flicker）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN 61000-3-3

EMS包括：

（1） 靜電放電抗擾度測試（ESD）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN6100-4-2

（2） 射頻電磁場輻射抗擾度（RS）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN61000-4-3

（3） 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度（CS）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN61000-4-6

（4） 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（EFT）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN61000-4-4

（5） 浪涌（沖擊）抗擾度（SURGE）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN61000-4-5

（6） 電壓暫降，短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測試（DIP）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN61000-4-11

（7） 工頻磁場抗擾度測試（PFMF）---測試標(biāo)準(zhǔn)：EN61000-4-8

手機(jī)進(jìn)網(wǎng)預(yù)測試中涉及到的EMC測試項(xiàng)目

上面就一般電器產(chǎn)品的EMC測試項(xiàng)目做了一些說明，本節(jié)主要介紹手機(jī)在進(jìn)網(wǎng)測試中所需進(jìn)行的EMC測試。

EMI方面：

（1） 輻射連續(xù)騷擾（RE）---測試標(biāo)準(zhǔn)：GB9254

（2） 傳導(dǎo)連續(xù)騷擾（CE）---測試標(biāo)準(zhǔn)：GB9254

（3） 輻射雜散騷擾（SE（R））---測試標(biāo)準(zhǔn)：YD1032

（4） 傳導(dǎo)雜散騷擾（SE（C））---測試標(biāo)準(zhǔn)：YD1032

EMS方面：

（1） 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（EFT）：GB/T 17626.4-1998

（2） 靜電放電抗擾度（ESD）：GB/T 17626.2-1998

（3） 浪涌（沖擊）抗擾度（SURGE）：GB/T 17626.5-1998

（4） 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度（CS）：GB/T 17626.6-1998

（5） 射頻電磁場輻射抗擾度（RS）：GB/T 17626.3-1998

（6） 電壓暫降，短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度（DIP）：GB/T 17626.11-1998

輻射與傳導(dǎo)的區(qū)別：

輻射：

物體都以電磁波的形式時(shí)刻不停地向外傳送能量，這種傳送能量的方式稱為輻射。物體通過輻射所放出的能量，稱為輻射能，簡稱輻射。

傳導(dǎo)：

通過某種實(shí)物連接而產(chǎn)生的能量傳遞。

連續(xù)騷擾：

對一個(gè)特定設(shè)備的效應(yīng)不能分解為一串能清晰可辨的效應(yīng)的電磁騷擾。

輻射連續(xù)騷擾也可稱為輻射騷擾或者輻射干擾即RE，其測試目的為判斷手機(jī)自身所輻射出電磁能量的強(qiáng)度。輻射騷擾超標(biāo)的產(chǎn)品可能使設(shè)備或系統(tǒng)性能劣化或者對生物和非生物起不良反映。

傳導(dǎo)連續(xù)騷擾也可稱為傳導(dǎo)騷擾或者傳導(dǎo)干擾即CE。一般來說此項(xiàng)測試目的在于檢測連接到城市公共供電網(wǎng)絡(luò)的手機(jī)對于公共電網(wǎng)的影響。

其中雜散（Spurious Emissions）項(xiàng)目是針對手機(jī)而特別提出的。所謂雜散即必要帶寬以外頻率發(fā)射（并且不包括由調(diào)制過程產(chǎn)生的必要帶寬以外頻率的發(fā)射）。

雜散騷擾：

除載頻和與正常調(diào)制相關(guān)的頻帶以外離散頻率上的騷擾?？梢苑譃閭鲗?dǎo)和輻射兩種（此處傳導(dǎo)與輻射的測試目的與RE和CE類似）。因此在EMI中有兩條有關(guān)手機(jī)雜散的測試項(xiàng)。

SE（R）測試：

電臺裝有天線在輻射試驗(yàn)場測得的雜散窄帶射頻分量。它包括諧波和非諧波分量及寄生分量。此項(xiàng)測試即測試其雜散窄帶射頻分量大小。

SE（C）測試：

在有匹配負(fù)載的天線端測得的雜散射頻分量。其特征通常是在離散頻率上或窄頻帶內(nèi)有一顯著的分量，它包括諧波和非諧波分量以及寄生分量，不包括為傳輸信息的必要頻帶極近處的分量。此項(xiàng)測試即檢測手機(jī)在被測頻段內(nèi)產(chǎn)生的諧波和非諧波分量以及寄生分量。

EFT測試：

這是一種耦合到電子設(shè)備的電源線、控制線和信號線上的，且由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群試驗(yàn)。試驗(yàn)的要素是瞬變的上升時(shí)間、重復(fù)率和能量。

ESD測試：

模擬手機(jī)在遭受到靜電放電時(shí)性能是否會下降或失效，放電分為直接放電和間接放電兩類。對導(dǎo)電表面采用直接接觸放電的方式；對絕緣表面采用空氣放電方式。接觸放電為首選形式，只有在不能用接觸放電的地方（如表面涂有絕緣層，手機(jī)鍵盤縫隙等情況）才改用空氣放電。

SURGE測試：

測試手機(jī)電源線和內(nèi)部連接線在經(jīng)受來自開關(guān)切換及自然界雷擊后是否會影響到其各項(xiàng)功能的一種測試。