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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>MOS管導(dǎo)通損耗的計算方法

MOS管導(dǎo)通損耗的計算方法

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2022-02-11 14:06:463

MOS驅(qū)動電路功率損耗計算方法

詳解MOS驅(qū)動電路功率損耗的構(gòu)成以及計算方法
2022-04-13 08:35:0030914

EMC計算方法和EMC仿真(4)

エンジニアコラム第19篇 EMC計算方法和EMC仿真(4)傳導(dǎo)抗擾度(CI)的試行計算方法什么是IEC 62132-4 DPI法?大家好!我是ROHM的稻垣。
2023-02-14 09:26:264315

EMC計算方法和EMC仿真(1) 計算方法簡介

EMC計算方法概述2021/11/16大家好!我是ROHM的稻垣。本文是第16篇,從本文開始我們來談一談電磁兼容性(EMC)的計算方法和仿真。
2023-02-14 09:26:284454

DC/DC評估篇損耗探討-損耗的簡單計算方法

上一篇文章介紹了電源IC整體損耗計算方法,即求出各部分的損耗并將這些損耗相加的方法。本文將在“簡單”的前提下,介紹一種利用現(xiàn)有數(shù)據(jù)求出電源IC損耗方法。
2023-02-23 10:40:513760

MOS導(dǎo)通和關(guān)斷過程

最近一直在說MOS的知識,就有朋友留言說能具體說一下MOS導(dǎo)通和關(guān)斷過程嗎,那我們今天來說一下MOS導(dǎo)通和關(guān)斷具體過程。
2023-03-26 16:15:438583

MOSFET開關(guān)損耗計算方法

MOS在電源應(yīng)用中作為開關(guān)用時將會導(dǎo)致一些不可避免的損耗,這些損耗可以分為兩類。
2023-03-26 16:18:5510934

MOS發(fā)熱的處理方法

先從理論上分析MOS選型是否合理,從MOS的規(guī)格書上獲取MOS的參數(shù),包括導(dǎo)通電阻、g、s極的導(dǎo)通電壓等。   在確保實際驅(qū)動電壓大于導(dǎo)通電壓的前提下,如果負載電流為I,那么MOS導(dǎo)
2023-06-26 17:26:234667

mos噪聲計算方法

MOS噪聲計算方法 噪聲是電路設(shè)計和性能評估中的一個關(guān)鍵問題,特別是在高頻率和低功耗應(yīng)用中。MOSFET是一種廣泛應(yīng)用于各種電路的半導(dǎo)體器件。因此,正確計算MOS噪聲是非常重要的。本文將介紹
2023-09-19 16:49:584434

EMC計算方法和EMC仿真(1) ——計算方法簡介

EMC計算方法和EMC仿真(1) ——計算方法簡介
2023-12-05 14:56:082943

晶體的元件溫度計算方法

晶體的元件溫度計算方法
2023-11-23 09:09:351518

如何減少MOS損耗

MOS(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)在電子設(shè)備中扮演著重要角色,然而其在實際應(yīng)用中的損耗問題也是不容忽視的。為了減少MOS損耗,提高其工作效率,以下將從多個方面進行深入探討。
2024-05-30 16:41:512658

MOS導(dǎo)通條件和導(dǎo)通特性

MOS(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化層半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)作為電子工程中的重要元件,其導(dǎo)通條件和導(dǎo)通特性對于電路設(shè)計和性能優(yōu)化至關(guān)重要。以下將詳細闡述MOS導(dǎo)通條件和導(dǎo)通特性。
2024-07-16 11:40:5621227

MOS導(dǎo)通電壓和溫度的關(guān)系

MOS(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)的導(dǎo)通電壓與溫度之間存在著復(fù)雜而重要的關(guān)系。這種關(guān)系不僅
2024-07-23 11:44:078617

C類功率放大器的導(dǎo)通角計算方法

,晶體導(dǎo)通角通常小于180度,這意味著晶體在每個周期內(nèi)只導(dǎo)通了一部分時間。這種設(shè)計可以顯著降低功率損耗,提高放大器的效率。 C類功率放大器的導(dǎo)通角計算方法 C類功率放大器的導(dǎo)通角可以通過以下公式計算導(dǎo)通角 = (Vp/Vs)
2024-08-01 10:42:203677

開關(guān)電源MOS的主要損耗

開關(guān)電源中的MOS(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)在工作過程中會產(chǎn)生多種損耗,這些損耗不僅
2024-08-07 14:58:555015

MOS損耗與哪些因素

MOS損耗是一個復(fù)雜而重要的議題,它涉及到多個因素,包括MOS本身的物理特性、電路設(shè)計、工作條件以及外部環(huán)境等。
2024-08-07 15:24:124219

MOS導(dǎo)通特性

MOS(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化層半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)作為電子工程中的重要元件,其導(dǎo)通特性對于電路設(shè)計和性能
2024-09-14 16:09:242887

MOS導(dǎo)通電壓與漏電流關(guān)系

MOS(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)的導(dǎo)通電壓與漏電流之間的關(guān)系是MOS管工作特性的重要方面。以下是對這一關(guān)系的分析: 一、MOS導(dǎo)通電壓 MOS導(dǎo)通電壓通常指的是柵極-源極電壓(VGS
2024-11-05 14:03:294627

MOS的功耗計算與散熱設(shè)計要點

MOS的功耗計算與散熱設(shè)計是確保其穩(wěn)定工作和延長使用壽命的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。以下是對MOS功耗計算與散熱設(shè)計要點的詳細分析: 一、MOS的功耗計算 MOS的功耗主要包括驅(qū)動損耗、開關(guān)損耗導(dǎo)損耗
2025-03-27 14:57:231518

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