調(diào)試開(kāi)關(guān)電源時(shí)，除了用電壓表測(cè)量控制電路中相關(guān)元器件引腳的電壓外，更重要的是用示波器觀測(cè)相關(guān)的電壓波形，以便判斷開(kāi)關(guān)電源是否處于最佳工作狀態(tài)。本篇文章主要講解示波器測(cè)試點(diǎn)的選擇。
2016-10-10 17:39:13
6403 
上針板，則最佳不小于1.00mm，外形以正方形較佳( 圓的也可) 7. 空腳在可容許的規(guī)模內(nèi)，應(yīng)考慮可測(cè)試性，無(wú)測(cè)試點(diǎn)時(shí)，則須拉點(diǎn)?！ ?. 定位孔要求：Ⅰ. 每一片PCB須有 2個(gè)以上之定位孔，且孔
2011-10-24 11:46:27
定位，最佳用非金屬化孔，定位孔誤差應(yīng)在±0.05mm內(nèi)）環(huán)狀周?chē)?.2mm之外； (6) 測(cè)試點(diǎn)的直徑不小于0.4mm，相鄰測(cè)試點(diǎn)的間距最幸虧2.54mm以上，但不要小于1.27mm； (7) 測(cè)試
2013-02-27 09:15:12
對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在PCB電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？ 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性
2018-11-21 11:09:56
對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在PCB電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？ 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性
2016-08-24 14:46:05
，另外因?yàn)榱慵^高，通常還要在測(cè)試治具針床座上開(kāi)孔避開(kāi)，也間接造成無(wú)法植針。電路板上越來(lái)越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)。 由于板子越來(lái)越小，測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論，現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)
2018-09-17 17:44:02
pcb的測(cè)試點(diǎn)的設(shè)計(jì)規(guī)范，僅供大家參考
2012-05-16 11:03:21
飛針測(cè)試時(shí)要看板的測(cè)試點(diǎn)多少怎么看？
2015-07-01 17:31:27
，但這是通孔方式的測(cè)試點(diǎn)，為了節(jié)省測(cè)試點(diǎn)所占用的PCB空間，高密度布線中我們更需要表面形式的測(cè)試點(diǎn)。這時(shí)我們可以按以下方法來(lái)添加表面型測(cè)試點(diǎn)：一．在PADSLayout（PowerPCB）中添加表面
2019-06-10 09:16:20
請(qǐng)問(wèn)如何在ad09中自動(dòng)或批量給NET添加1mm的測(cè)試點(diǎn)啊，望高手賜教?。?！
2012-03-21 14:30:09
`pads分割后測(cè)試點(diǎn)怎么和覆銅有距離呢？我的板分割后測(cè)試點(diǎn)怎么就和覆銅有間距呢？怎么樣才能讓測(cè)試點(diǎn)和覆銅連一起呢？`
2012-06-07 22:09:52
`pads分割后測(cè)試點(diǎn)怎么和覆銅有距離呢？我的板分割后測(cè)試點(diǎn)怎么就和覆銅有間距呢？怎么樣才能讓測(cè)試點(diǎn)和覆銅連一起呢？`
2012-06-07 22:14:12
對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在PCB電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么? 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性
2017-01-13 22:21:03
，延長(zhǎng)探針使用壽命。3.測(cè)試點(diǎn)距離PCB邊緣需大于5mm；需放置在元件周?chē)?mm以外，避免探針和元件撞擊；需放置在定位孔環(huán)狀周?chē)?.2mm以外。4.測(cè)試點(diǎn)的直徑不小于0.4mm，相鄰測(cè)試點(diǎn)的間距最好
2017-02-06 17:33:20
請(qǐng)教一下哪位高手知道如何給PCB自動(dòng)添加測(cè)試點(diǎn)，菜單欄目錄下是有自動(dòng)添加測(cè)試點(diǎn)的，可是我執(zhí)行了命令就是顯示不出來(lái)測(cè)試點(diǎn)，還望各位指點(diǎn)一下，謝了
2012-04-05 09:05:23
關(guān)鍵電子元器件的溫升測(cè)試:測(cè)試點(diǎn)選擇和最大溫升限制
2019-10-24 10:07:17
在一個(gè)發(fā)射系統(tǒng)中，有很多射頻接口，那么究竟哪個(gè)接口是測(cè)試者所關(guān)心的呢？讓我們通過(guò)下圖來(lái)討論各測(cè)試點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)雜散測(cè)試的意義。由多工器的無(wú)源互調(diào)所產(chǎn)生的雜散端口1和端口2具有同等地位，從端口1（或2）可以
2017-11-15 10:35:09
某些高零件的旁邊無(wú)法植針。 如果探針距離高零件太近就會(huì)有碰撞高零件造成損傷的風(fēng)險(xiǎn)，另外因?yàn)榱慵^高，通常還要在測(cè)試治具針床座上開(kāi)孔避開(kāi)，也間接造成無(wú)法植針。電路板上越來(lái)越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)
2021-09-17 06:30:00
如何在PADS中添加表面型測(cè)試點(diǎn)，希望對(duì)大家有點(diǎn)幫助。
2011-04-17 10:35:43
給大家分享資料，開(kāi)關(guān)電源的主要測(cè)試點(diǎn)講解?！ ≌{(diào)試開(kāi)關(guān)電源時(shí)，除了用電壓表測(cè)量控制電路中相關(guān)元器件引腳的電壓外，更重要的是用示波器觀測(cè)相關(guān)的電壓波形，以便判斷開(kāi)關(guān)電源是否處于最佳工作狀態(tài)。本篇
2016-01-27 15:34:00
你好！我希望你能幫助我解決這個(gè)問(wèn)題，提前謝謝！我正在使用aSpartan3 fpga并且有一些未解決的問(wèn)題。我已經(jīng)完成了我的開(kāi)發(fā)并且運(yùn)行良好，問(wèn)題是我想使用FPGA的無(wú)形IO引腳添加測(cè)試點(diǎn)，但我
2019-05-09 07:40:29
怎么在PCB中添加測(cè)試點(diǎn)？
2013-05-21 18:26:08
的沉痛心情找到高速先生時(shí)，高速先生絲毫不敢大意，一番分析確認(rèn)之后，給出的答復(fù)卻讓客戶喜出望外：測(cè)試點(diǎn)的時(shí)鐘回溝是真實(shí)存在的，但是芯片得到的時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量卻沒(méi)有問(wèn)題，簡(jiǎn)而言之，單板的時(shí)鐘信號(hào)沒(méi)問(wèn)題，可以
2020-11-25 19:42:36
我用的是SiP系統(tǒng)封裝設(shè)計(jì)組件，現(xiàn)在想得到reports中的 tsetprep report，但是不知道怎么添加測(cè)試點(diǎn)PCB Editor組件里在manufacture/tsetprep中可以自動(dòng)
2013-09-27 10:09:20
添加測(cè)試點(diǎn)會(huì)不會(huì)影響高速信號(hào)的質(zhì)量？
2009-09-06 08:40:20
問(wèn)：添加測(cè)試點(diǎn)會(huì)不會(huì)影響高速信號(hào)的質(zhì)量？答：至于會(huì)不會(huì)影響信號(hào)質(zhì)量就要看加測(cè)試點(diǎn)的方式和信號(hào)到底多快而定?；旧贤饧拥?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試點(diǎn)(不用線上既有的穿孔(via or DIP pin)當(dāng)測(cè)試點(diǎn))可能加在
2019-08-30 00:45:16
某些高零件的旁邊無(wú)法植針。如果探針距離高零件太近就會(huì)有碰撞高零件造成損傷的風(fēng)險(xiǎn)，另外因?yàn)榱慵^高，通常還要在測(cè)試治具針床座上開(kāi)孔避開(kāi)，也間接造成無(wú)法植針。電路板上越來(lái)越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)。4.
2019-11-11 07:00:00
是測(cè)試點(diǎn)的最小直徑及相鄰測(cè)試點(diǎn)的最小距離，通常多會(huì)有一個(gè)希望的最小值與能力可以達(dá)成的最小值，但有規(guī)模的廠商會(huì)要求最小測(cè)試點(diǎn)與最小測(cè)試點(diǎn)間距離不可以超過(guò)多少點(diǎn)，否則治具還容易毀損。
2018-09-18 15:26:17
的最小直徑及相鄰測(cè)試點(diǎn)的最小距離，通常多會(huì)有一個(gè)希望的最小值與能力可以達(dá)成的最小值，但有規(guī)模的廠商會(huì)要求最小測(cè)試點(diǎn)與最小測(cè)試點(diǎn)間距離不可以超過(guò)多少點(diǎn)，否則治具還容易毀損。
2018-11-28 11:42:31
，通常多會(huì)有一個(gè)希望的最小值與能力可以達(dá)成的最小值，但有規(guī)模的廠商會(huì)要求最小測(cè)試點(diǎn)與最小測(cè)試點(diǎn)間距離不可以超過(guò)多少點(diǎn)，否則治具還容易毀損。
（轉(zhuǎn)）
2024-02-27 08:57:17
自編主板關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)供大家參考
2011-02-23 00:19:30
在AD中有幾種方法可以放置測(cè)試點(diǎn)的？？？
2019-03-15 06:29:35
有人能以AD9為例，能較詳細(xì)的說(shuō)一步驟如何放置測(cè)試點(diǎn)嗎？？
2019-04-11 03:06:59
時(shí)鐘信號(hào)回溝與測(cè)試點(diǎn)位置有關(guān)嗎？
2020-12-15 06:07:11
那里下載370 CPU插座測(cè)試點(diǎn)呀
2009-05-22 10:58:45
摩托羅拉手機(jī)測(cè)試點(diǎn)圖集,非常全面，幾乎包含所有motorola的手機(jī)機(jī)型，對(duì)你的維修有很大的幫助。
2008-10-16 19:11:34
153 1．PCB上可設(shè)置若干個(gè)測(cè)試點(diǎn)，這些測(cè)試點(diǎn)可以是孔或焊盤(pán)。
2006-04-16 20:20:554309 摩托羅拉手機(jī)V80測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:17:371116
摩托羅拉手機(jī)V19X維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:27:39960
摩托羅拉手機(jī)L7維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:28:431469
摩托羅拉手機(jī)A630維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:29:53908
摩托羅拉手機(jī)L6維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:32:58852
摩托羅拉手機(jī)V3維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:34:13987
摩托羅拉手機(jī)E770維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:36:391416
摩托羅拉手機(jī)V3i維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:39:081318
摩托羅拉手機(jī)V980維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 20:18:451160
摩托羅拉手機(jī)C65X維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 20:21:171153
摩托羅拉手機(jī)C65X維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 20:23:201148 AGP插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、AGP簡(jiǎn)介
AGP(Accelerated Graphics Port)即加速圖形端口。它用于連接顯示設(shè)備的接口，是為了提高視頻帶寬而設(shè)計(jì)的一種接口規(guī)范。
2009-04-26 08:49:563505 
478 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是478CPU和478 插座的實(shí)物圖
2009-04-26 15:25:32948 
939 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖
2009-04-26 15:27:01793 
775 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖
2009-04-26 15:28:533321 
478CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是478CPU和478 插座的實(shí)物圖
2009-04-26 15:30:15984 
462 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是462CPU和462插座的實(shí)物圖
2009-04-26 15:31:161055 
370 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是370CPU和370插座的實(shí)物圖
2009-04-26 15:33:481134 
ATX電源插座測(cè)試點(diǎn)
一、測(cè)試點(diǎn)
上圖為2
2009-04-26 15:34:486218 
DDR內(nèi)存插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是DDR內(nèi)存插槽實(shí)物圖
2009-04-26 15:36:516424 
SD內(nèi)存插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖中，黑色插槽就是SD內(nèi)存插槽
2009-04-26 15:37:582056 
ISA插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖中，黑色插槽就是ISA槽
2009-04-26 15:39:002411 
pci Express插槽及測(cè)試點(diǎn)：PCI-E實(shí)物圖在PCI插槽及測(cè)試點(diǎn)
2009-04-26 15:40:091756 
PCI插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖
上圖為主板上的PCI插槽實(shí)物圖,左邊
2009-04-26 15:42:567867 
在PCB 設(shè)計(jì)中，我們經(jīng)常需要對(duì)某些信號(hào)線增加一些測(cè)試點(diǎn)，以便在產(chǎn)品調(diào)試中對(duì)其信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在PADS Layout（POWERPCB）中添
2010-06-21 14:37:178858 
在PCB設(shè)計(jì)中，我們經(jīng)常需要對(duì)某些信號(hào)線增加一些測(cè)試點(diǎn)，以便在產(chǎn)品調(diào)試中對(duì)其信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在PADSLayout（PowerPCB）中添加測(cè)試點(diǎn)時(shí)，默認(rèn)的是以標(biāo)準(zhǔn)過(guò)孔STANDARDVIA作為測(cè)試點(diǎn)，但
2010-07-08 10:55:105489 
電子產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化綜
2011-01-10 11:16:5653 PADS 可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 審核可以縮短上市時(shí)間。了解如何盡早在設(shè)計(jì)流程中利用 PCB 測(cè)試點(diǎn)和 DFT 審核優(yōu)化設(shè)計(jì)。
2019-05-14 06:26:004767 
基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性，比如說(shuō)想檢查一顆電路板上的電阻有沒(méi)有問(wèn)題，最簡(jiǎn)單的方法就是拿萬(wàn)用電表量測(cè)其兩頭就可以知道了。
2019-05-23 14:26:047629 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性
2019-08-15 14:05:0013280 其實(shí)經(jīng)過(guò)波峰焊的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)有探針接觸不良的問(wèn)題。 后來(lái)SMT盛行之后，測(cè)試誤判的情形就得到了很大的改善
2020-01-03 17:37:073563 墊設(shè)計(jì)測(cè)試(DFT)可以改善你的上市時(shí)間。了解如何使用PCB測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化設(shè)計(jì)在設(shè)計(jì)流程的早期。
2019-10-14 07:00:003727 測(cè)試點(diǎn)的小型金屬觸點(diǎn)。這里是什么是PCB測(cè)試點(diǎn)以及您作為設(shè)計(jì)師應(yīng)該如何使用它們的簡(jiǎn)要概述。 PCB測(cè)試點(diǎn)的目的 為了驗(yàn)證組件組裝過(guò)程的完整性，一個(gè)完整的印刷電路板將經(jīng)歷一個(gè)自動(dòng)測(cè)試周期。這樣做的目的是查找沒(méi)有通過(guò)良好焊
2020-12-15 16:36:0811217 電路板上的自動(dòng)測(cè)試點(diǎn)是通孔引腳，過(guò)孔或小型金屬焊盤(pán)，其設(shè)計(jì)用于容納自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的探針。
2021-01-06 15:19:383204 作者:周偉 一博科技高速先生團(tuán)隊(duì)成員 測(cè)試點(diǎn)對(duì)于測(cè)試人員來(lái)說(shuō)非常重要,也是非常熟悉,測(cè)試的準(zhǔn)確性和測(cè)試點(diǎn)的位置密切相關(guān),而不對(duì)的測(cè)試點(diǎn)將會(huì)帶來(lái)不對(duì)的測(cè)試結(jié)果,從而影響對(duì)信號(hào)質(zhì)量的判斷。那是不是所有
2021-01-14 10:54:028150 
來(lái)源：羅姆半導(dǎo)體社區(qū) 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)（test point）是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？ 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有
2023-02-01 16:48:371160 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)（test point）是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？ 可能多還有點(diǎn)一頭霧水了。我記得我第一次進(jìn)PCBA加工廠工作當(dāng)制程工程師的時(shí)候
2021-03-27 09:38:413993 
接下來(lái)為大家介紹電路板設(shè)計(jì)為什么要加測(cè)試點(diǎn)？
2021-05-01 16:27:006540 為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性，我們?cè)陔娐钒迳闲枰?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試點(diǎn)，如果想檢查一個(gè)電路板上的電阻正不正常，最基礎(chǔ)的方法就是拿萬(wàn)用電表量測(cè)其兩頭，那么電路板上怎么知道是測(cè)試點(diǎn)呢？ 在故障維修
2021-08-22 15:08:0111768 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性。
2022-02-08 16:09:3113 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)（test point）是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？
2022-02-10 09:32:5925 至于會(huì)不會(huì)影響信號(hào)質(zhì)量就要看加測(cè)試點(diǎn)的方式和信號(hào)到底多快而定?；旧贤饧拥?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試點(diǎn)（不用在線既有的穿孔(via or DIP pin)當(dāng)測(cè)試點(diǎn)）能加在在線或是從在線拉一小段線出來(lái)。前者相當(dāng)于是加上一個(gè)很小的電容在在線，后者則是多了一段分支。
2022-09-16 08:55:353678 
早期在電路板上面還都是傳統(tǒng)插件（DIP）的年代，的確會(huì)拿零件的焊腳來(lái)當(dāng)作測(cè)試點(diǎn)來(lái)用，因?yàn)閭鹘y(tǒng)零件的焊腳夠強(qiáng)壯，不怕針扎，可是經(jīng)常會(huì)有探針接觸不良的誤判情形發(fā)生。
2023-03-31 10:32:471143 測(cè)試點(diǎn)被定義為PCB中的端子，它允許用戶將測(cè)試信號(hào)傳輸?shù)?b class="flag-6" style="color: red">PCB以測(cè)試其功能或監(jiān)控PCB中的參數(shù)以驗(yàn)證其完整性。簡(jiǎn)單地說(shuō)，這些測(cè)試點(diǎn)可以是從銅墊到螺釘?shù)娜魏螙|西，這將為用戶提供一種插入探針并測(cè)試電路板
2023-05-11 18:10:114539 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)（test point）是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？
2023-06-06 11:01:192868 
對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)（testpoint）是再自然不過(guò)的事了。有多少人沒(méi)聽(tīng)說(shuō)測(cè)試點(diǎn)？知道測(cè)試點(diǎn)但不了解測(cè)試點(diǎn)用途的人又有多少呢？基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件
2024-03-09 08:10:042041 
接口測(cè)試是軟件測(cè)試的一個(gè)重要組成部分，主要用于驗(yàn)證系統(tǒng)各模塊之間的接口是否按照預(yù)期工作。接口測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)類型繁多，以下是一些常見(jiàn)的測(cè)試點(diǎn)類型，以及對(duì)它們的詳細(xì)分析。 功能性測(cè)試 功能性測(cè)試是接口測(cè)試
2024-05-30 15:04:323359 如果你曾經(jīng)用過(guò)NOKIA手機(jī)，每次你打開(kāi)后蓋換電池的時(shí)候，每次看到的 那兩排圓形的點(diǎn)——就是PCB測(cè)試點(diǎn)， or you can call it Test Point in English.
2024-10-15 16:09:14889 
?** PCB測(cè)試點(diǎn)**是啥子？請(qǐng)看下圖： ? 如果你曾經(jīng)用過(guò)NOKIA手機(jī)，每次你打開(kāi)后蓋換電池的時(shí)候，每次看到的 那兩排圓形的點(diǎn)——就是PCB測(cè)試點(diǎn)， or you can call
2024-10-08 06:58:31806 線路板PCB測(cè)試點(diǎn)設(shè)置的原則是確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和高效性，同時(shí)避免對(duì)PCB板造成不必要的損害。以下是一些關(guān)鍵的設(shè)置原則：
2024-10-22 10:57:412825 這個(gè)直徑是測(cè)試點(diǎn)的最小尺寸，用于確保測(cè)試探針可以準(zhǔn)確地與測(cè)試點(diǎn)接觸。如果測(cè)試點(diǎn)直徑小于這個(gè)值，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試探針無(wú)法正確接觸到測(cè)試點(diǎn)，從而影響測(cè)試的準(zhǔn)確性。
2024-10-28 10:31:071966 
測(cè)試點(diǎn)之間的間距決定了使用何種樣式的測(cè)試探針。以下是幾種常見(jiàn)的測(cè)試探針樣式和其適用的間距范圍。
2024-10-29 09:50:152149 
測(cè)試點(diǎn)和邊緣之間所需的最小間隙D：板或任何大孔板為40mil。但是，建議間距為125mil。
2024-10-30 10:33:47933 線路板PCB測(cè)試點(diǎn)設(shè)置的原則是確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和高效性，同時(shí)避免對(duì)PCB板造成不必要的損害。以下是一些關(guān)鍵的設(shè)置原則： 1.測(cè)試點(diǎn)的分布?： 測(cè)試點(diǎn)應(yīng)均勻分布在PCB板上，避免集中在某個(gè)小區(qū)域內(nèi)，以
2025-02-08 11:35:291990 在點(diǎn)對(duì)點(diǎn)對(duì)地電阻測(cè)試中，測(cè)試點(diǎn)的氧化、生銹或附著油污、灰塵等污濁物，會(huì)在接觸表面形成額外電阻層，導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)虛高或波動(dòng)頻繁，難以反映真實(shí)的接地電阻狀態(tài)。面對(duì)這類突發(fā)情況，無(wú)需依賴專業(yè)清潔設(shè)備，通過(guò)
2025-10-30 09:33:36127 
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