如果您的FPGA設(shè)計無法綜合或者沒能按預(yù)期在開發(fā)板上正常工作，原因往往不明，要想在數(shù)以千計的RTL和約束源文件中找出故障根源相當(dāng)困難，而且很多這些文件還可能是其他設(shè)計人員編寫的?？紤]到FPGA設(shè)計迭代和運(yùn)行時間的延長，設(shè)計人員應(yīng)該在設(shè)計流程的早期階段就找出可能存在的諸多錯誤，并想方設(shè)法重點(diǎn)對設(shè)計在開發(fā)板上進(jìn)行驗(yàn)證。

　　在特定條件下采用更智能的技術(shù)來隔離特定錯誤，找到問題電路的源頭并漸進(jìn)式修復(fù)錯誤，這很重要。為了節(jié)省時間，您可以對時鐘、約束和模塊級接口進(jìn)行初步設(shè)置檢查以確保符合設(shè)計規(guī)范，這樣就不必在綜合與布局布線（P&R）時浪費(fèi)大量時間。

　　Synopsys 公司的Synplify Premier 和Synplify Pro FPGA設(shè)計工具以及Identify RTLDebugger 等產(chǎn)品能幫助設(shè)計人員完成上述工作。這些工具的特性使得設(shè)計人員能快速隔離錯誤，有效縮短運(yùn)行時間，并減少開發(fā)板啟動所需的迭代次數(shù)。

　　精確找到開發(fā)板上的問題

　　如果開發(fā)板出現(xiàn)明顯的功能性錯誤，要縮小查找問題根源的范圍可能會相當(dāng)困難。為了進(jìn)行設(shè)計調(diào)試，我們應(yīng)當(dāng)創(chuàng)建附加電路并保留某些節(jié)點(diǎn)，以便我們對設(shè)計運(yùn)行時得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行探測、檢查和分析。下面我們就看看如何用板級調(diào)試軟件來查找錯誤。

　　按下列四步法并利用RTL調(diào)試器，您能精確查找問題，并對信號和關(guān)注的條件采樣，然后將觀察結(jié)果關(guān)聯(lián)至原始RTL，從而將問題鎖定在RTL規(guī)范或約束設(shè)置范圍內(nèi)。

　　第一步：指定探測。在RTL中明確要監(jiān)控哪些信號和條件。在此要聲明您所感興趣的觀察點(diǎn)（要觀察的信號或節(jié)點(diǎn)）和斷點(diǎn)（RTL控制流程聲明，如IF、THEN 和CASE 等）。

　　第二步：通過探測構(gòu)建設(shè)計。利用附加的監(jiān)控電路——即用于根據(jù)您的監(jiān)控要求捕捉并導(dǎo)出調(diào)試數(shù)據(jù)的智能內(nèi)部電路仿真器（IICE）——對FPGA設(shè)計進(jìn)行綜合。

　　第三步：分析和調(diào)試。設(shè)計綜合完成之后，運(yùn)行設(shè)計并用RTL調(diào)試器觀察數(shù)據(jù)。在開發(fā)板上運(yùn)行測試時，觀察點(diǎn)和斷點(diǎn)共同觸發(fā)數(shù)據(jù)采樣，使您能在您所關(guān)注的非常明確的條件下觀察并調(diào)試特定節(jié)點(diǎn)的電路的行為。您可將觀察到的采樣數(shù)據(jù)寫入VCD 文件并將其關(guān)聯(lián)到RTL。

　　第四步：漸進(jìn)性修復(fù)錯誤（incrementaLfix）。一旦找到了錯誤所在，就可以通過分級、漸進(jìn)式流程在RTL或約束中漸進(jìn)地進(jìn)行修復(fù)。

　　時序和功能性錯誤的可視檢查

　　FPGA設(shè)計和調(diào)試工具還有一大優(yōu)點(diǎn)，就是能顯示RTL和網(wǎng)表級原理圖。舉例來說，具有互動調(diào)試功能的原理圖查看器能夠顯示設(shè)計的RTL和網(wǎng)表原理圖，便于您進(jìn)行觀察并將時序報告和VCD 數(shù)據(jù)（設(shè)計在開發(fā)板上運(yùn)行時產(chǎn)生）關(guān)聯(lián)至RTL源文件。查看器包含一個RTL視圖，用來以圖示的方式描述設(shè)計。該視圖在綜合RTL編譯階段后提供，由技術(shù)獨(dú)立的加法器、寄存器、大型多路選擇器和狀態(tài)機(jī)等組件構(gòu)成。通過RTL原理圖，您可以交叉探測原始RTL，對不符合預(yù)定規(guī)范的設(shè)計進(jìn)行調(diào)整，同時也可以探測到約束編輯器，從而更簡便地更新和指定約束（圖1）。

　　要將錯誤操作的源頭追溯到RTL，您可以利用RTL調(diào)試器在RTL原理圖上方實(shí)時插入觀察到的操作數(shù)據(jù)。

　　原理圖查看器包括一個網(wǎng)表級技術(shù)視圖，用于顯示綜合后的實(shí)際設(shè)計實(shí)現(xiàn)情況。在HDLAnalyst 原理圖查看器中，該視圖基于查找表、寄存器和DSP slice 等基本的賽靈思器件原語。您可在原理圖中對路徑進(jìn)行交叉探測，追溯到原始的RTL以及綜合后和布局布線后的最終時序報告，以便分析和提高整體性能。

　　在FPGA中原型設(shè)計的ASIC 門控時鐘結(jié)構(gòu)并非FPGA實(shí)現(xiàn)中的必要環(huán)節(jié)，這會導(dǎo)致FPGA資源使用效率低下。解決該問題的有效辦法就是用FPGA綜合軟件轉(zhuǎn)換時鐘。

　　大型設(shè)計的調(diào)試

　　在大型設(shè)計中探測所有信號是不可能，因?yàn)樯傻臄?shù)據(jù)量極為龐大，而且探測數(shù)據(jù)所需的額外調(diào)試邏輯也太大。片上調(diào)試方法的一個常見弊病是難以提前預(yù)測需要對哪些信號進(jìn)行探測和監(jiān)控。

　　一些調(diào)試軟件通過分治法能夠在一定程度上解決這個問題。利用多路復(fù)用的采樣組，設(shè)計人員可以有選擇性地進(jìn)行采樣并通過多路復(fù)用的路徑和共享的IICE 在信號組之間切換。這種方法增加了可觀察的信號和條件，而且不會增加數(shù)據(jù)存儲要求。您可以即時切換感興趣的信號組，不必花時間進(jìn)行重新調(diào)整或重新綜合新的設(shè)計。

　　不幸的是，在探測和采樣數(shù)據(jù)時用使的調(diào)試IICE 邏輯會占用包括存儲器BRAM 在內(nèi)的芯片資源。您可在SRAM 存儲卡中對IICE 采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行片外存儲，以減少片上BRAM 的使用。這種方法的另一個好處是能增加采樣數(shù)據(jù)的深度。