電路維修測試儀是一種維修PCB板的儀器。它可完成對中小規(guī)模數(shù)字集成電路，存儲器及部分大規(guī)模集成電路芯片的在／離線功能測試，還可對PCB板上任意一結(jié)點(diǎn)（焊點(diǎn)）進(jìn)行V-I曲線的測試、存儲和比較（所謂在線測試，是指對焊接在PCB板上的元器件進(jìn)行的測試；而離線測試則是指對脫離PCB板的元器件進(jìn)行的測試）。

（1）功能測試（ICFT）

利用后驅(qū)動原理來驅(qū)動電路，然后取被測門的輸出進(jìn)行分析，得出結(jié)果。后驅(qū)動原理是指，讓電路根據(jù)測試者的意圖變化，強(qiáng)迫其輸入端的電平變高或變低，以使被測門與周圍電路“隔離“開來，看其輸出與輸入是否滿足規(guī)定的邏輯關(guān)系，從而完成電路芯片的邏輯功能測試。

（2）VI曲線測試（V-I）

通過比較形式來判斷故障點(diǎn)，其比較過程是這樣的：先對一塊工作正常的PCB板上兩個結(jié)點(diǎn)進(jìn)行測試，得到電壓（V）——電流（I）關(guān)系曲線，并保存測試結(jié)果，作為將來比較操作中的標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)遇到同類型PCB板發(fā)生故障時，便可用在線測試儀對該故障板的任意兩結(jié)點(diǎn)進(jìn)行VI測試，同時調(diào)出正常PCB板相應(yīng)兩結(jié)點(diǎn)間的VI曲線進(jìn)行比較，若比較結(jié)果超出了正常范圍，則此兩結(jié)點(diǎn)間應(yīng)是故障點(diǎn)之一。

（3）存儲器測試

對隨機(jī)讀/寫存儲器（RAM），采用寫入/讀出的辦法進(jìn)行測試，即先向存儲單元寫入一數(shù)據(jù)，然后再讀出，看兩者數(shù)據(jù)是否相同，若不同，則該存儲器出現(xiàn)了故障。對只讀存儲器（ROM），先將其存儲單元的內(nèi)容讀出來，存于計(jì)算機(jī)中。日后同故障電路板上相應(yīng)存儲器中讀出的內(nèi)容相比較，相同則說明沒問題。

（4）狀態(tài)測試

通過測試器件各管腳的電平狀態(tài)，并與好的器件進(jìn)行比較來判別。

使用注意事項(xiàng)：

（1）測試前，用萬用表檢查板上元器件工作電源是否短路，若有，應(yīng)先排除。

（2）加電測試時，用手摸元器件表面，檢查是否有過熱元器件，若有，應(yīng)先排除或?qū)⑦^熱器件摘除。

（3）若板上有振蕩器，先摘除或?qū)⑵涠搪?，使其停止工作。防止測試過程中產(chǎn)生脈沖，影響測試結(jié)果。

（4）檢查電路板上是否有電池供電的存儲器，若有，應(yīng)問清有關(guān)人員其內(nèi)部數(shù)據(jù)是否有用。若有用，則不可測試，否則可能修改其數(shù)據(jù)或?qū)е聰?shù)據(jù)丟失。

（5）由于同一型號的元器件其特性多少存在一定差異，在VI曲線比較測試時，同一型號的每塊板對應(yīng)結(jié)點(diǎn)曲線也就不盡相同。一般當(dāng)兩曲線差異較大時，才認(rèn)為該處可能是故障點(diǎn)之一。

（6）VI曲線測試時，其電壓——電流曲線通常以板上電源地作為參考點(diǎn)。但一些板上的元器件或接口與電源地之間阻值很大或是斷開，這時可自定義一個電路結(jié)點(diǎn)作為參考點(diǎn)。

（7）在線功能測試時，出現(xiàn)“有非法電源或地腳”時有兩種可能：①測試夾未夾好被測器件，造成接觸不良。②該器件確有其他引腳（器件本身工作電源及地腳除外）接電源或地，解決的辦法是暫時將這些引腳與電源或地?cái)嚅_，再測試。

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